良率分析报告是评判半导体产品品质好坏的重要参照，一份具备参考价值的报告，离不开标准化、严谨规范的生成流程。报告生成全程如同标准化精密作业，系统毫秒级自动抓取实时测试数据，从源头保证信息获取及时、内容准...

现阶段国内半导体工业软件生态尚不完善，亟需轻量化、可迭代、易落地的本土化解决方案。YMS兼容国内外全系商用测试设备，自动解析多类测试文件，一站式完成数据归集治理。搭载可视化研判、自动质控、智能报表功能...

全新测试程序上线存在量产风险，未经核验直接投产极易引发批量失效，平台内置强制性上线审核流程，筑牢脚本准入防线。新版本程序投产前，必须完成基线复测、压力测试、电性对标全流程校验，经由工艺、质量双人审核签...

在半导体制造全流程中，晶圆制程的细微参数波动，都有可能引发产品良率下滑与可靠性隐患，其中典型的问题是光刻光罩（Reticle）带来的系统性失效。当光罩本身存在划痕、污渍、设计瑕疵，或是光刻机步进曝光作...

当良率异常发生时，若依赖外部软件或人工分析，往往响应迟缓、归因模糊。YMS通过内置的数据清洗与标准化机制，确保所有测试数据准确、完整、一致，并基于统一数据库构建多维度分析模型。用户可从时间、产品型号、...

实现测试全流程可控可管，是交付高可靠芯片产品的前置条件，依托节点化精细化监控，能够破除测试黑箱，实现全流程透明化管控。测试启动阶段，系统自动核验测试脚本、硬件配置、探针工况，拦截人工疏漏引发的参数配置...

汽车电子芯片对可靠性的要求近乎苛刻，任何微小的缺陷都可能带来严重的安全隐患。为满足这一需求，系统需深度集成车规MappingInk处理功能，为车规级产品提供专属的管理能力。该功能能够精确映射测试过程中...

车规质量审计阶段，一一对应失效点位与测试项目，是行业认证硬性门槛，上海伟诺TMS专属MappingInk模块，针对性解决该项行业痛点。系统抓取晶圆探针测试失效坐标，自动绑定对应电性参数、测试程序版本、...

新品研发导入周期持续压缩，碎片化的传统管控模式无法适配快速迭代的行业需求。集成APQP项目管控、测试异常闭环处置的一体化平台，能够提升跨部门协同效率。从测试程序发布上机、数据自动采集到故障闭环处理，每...

企业选型测试管理系统，切勿片面对比采购报价，系统长期降本、控险、增效价值，才是投资评估指标。上海伟诺TMS平衡技术与落地成本，打造国产化测试管理平台，适配中小、大型各类半导体企业预算需求。系统显性价值...

在半导体封测产线中，Q-Time（工艺停留时间）是影响芯片可靠性的关键因素。一旦某批次未能在规定窗口内进入下一工序，传统依赖人工巡检或经验判断的管理模式往往滞后发现问题，可能造成不可逆损失。现代MES...

在高度依赖数据驱动的半导体制造中，MES软件的价值远不止于“记录生产”，而在于将设备、人员、物料与工艺规则纳入协同管控体系。当生产过程中出现参数偏移等异常时，系统可自动暂停关联工单、防止不良品继续流转...