面对车规级半导体日益增长的市场需求，测试管理系统必须具备对行业标准的原生支持能力。通过内置对车规测试流程的深度理解，实现从测试执行到结果管理的全适配。系统支持对车规特有的测试项目、参数规格和判定标准进...

面对新产品导入周期不断缩短的压力，碎片化的管理模式已无法满足快速迭代的需求。一个集成了APQP项目管理和测试异常反馈闭环的系统，能够大幅提升跨部门的协同效率。从测试程序的发布、执行到数据采集与问题处理...

随着测试数据量的指数级增长，传统的本地存储和计算方式面临巨大挑战。测试管理系统采用可扩展的分布式架构，能够轻松应对TB级数据的存储与处理需求。无论是进行全生命周期的数据回溯，还是对海量历史数据进行趋势...

在半导体工厂高频率、多设备并行的测试环境中，人工处理异构数据极易延误问题响应。YMS系统通过自动化流程，实时汇聚来自STS8200、TR6850、ASL1000、MS7000等设备的多格式原始数据，完...

良率管理系统的价值不仅在于技术实现，更在于对半导体企业关键痛点的精确回应。当设计公司或制造工厂面临测试数据分散、格式混乱、分析滞后等问题时，YMS系统通过对接ETS364、SineTest、Juno、...

在半导体制造中，由于Fab制程的物理与化学特性，晶圆边缘的芯片（Edge Die）其失效率明显高于中心区域。这一现象主要源于几个关键因素：首先，在光刻、刻蚀、薄膜沉积等工艺中，晶圆边缘的反应气体流场、...

良率管理系统的价值不仅在于技术实现，更在于对半导体企业关键痛点的精确回应。当设计公司或制造工厂面临测试数据分散、格式混乱、分析滞后等问题时，YMS系统通过对接ETS364、SineTest、Juno、...

芯片设计公司在多轮流片迭代中，亟需快速获取准确的测试反馈以指导下一版优化。YMS自动采集来自ASL1000、TR6850、MS7000等平台的stdf、txt、zip等格式数据，完成清洗整合后，以图表...

过去，国内半导体企业常因缺乏本地化良率分析工具，被迫采购昂贵的国外软件，且难以适配国产Tester设备。YMS系统自动采集ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余种主流测试平台...

面对stdf、log、jdf等格式混杂的测试数据流，传统手工转换不仅耗时，还易引入人为错误。YMS系统采用智能解析与清洗技术，自动校验字段一致性，对缺失或错位字段进行逻辑补全或标记，确保每条记录结构完...

当封测厂同时运行ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余种Tester设备时，不同平台输出的stdf、csv、log、jdf、spd、txt等格式数据往往难以统一处理。YMS系...

YMS（良率管理系统）的本质是将海量测试数据转化为精确的质量决策依据。系统兼容ETS88、J750、ASL1000、Chroma等主流Tester设备，自动解析stdf、csv、log、jdf等多种格...