产品中心
在半导体产品竞争日益激烈的现在，产品质量的稳定性已成为企业立足市场的根本。任何一次大规模的测试失误或延迟的风险预警，都可能导致交付...
在半导体封测产线中，Q-Time（工艺停留时间）是影响芯片可靠性的关键因素。一旦某批次未能在规定窗口内进入下一工序，传统依赖人工巡...
车规半导体的品质要求贯穿于从原材料到成品的每一个环节，任何疏漏都可能带来严重的安全后果。上海伟诺TMS系统通过多维度的监控，为车规...
提升半导体产品品质是一项系统工程，需要从数据中洞察规律并驱动持续改进。一套能够提供坚实数据基础与分析工具的系统，可自动收集并整合全...
产品在封测过程中的流转涉及多个交接环节，任一节点信息缺失都可能引发质量或交付风险。MES系统通过标签管理在关键节点生成单独标识，并...
Mapping Over Ink处理始于自动采集TSK、P8、EG、OPUS等设备生成的原始Mapping数据，确保源头信息完整无...
在半导体设计公司或封测厂面临多源测试数据难以统一管理的挑战时，YMS良率管理系统提供了一套端到端的解决方案。系统自动对接ETS88...
车间管理者需要的是能即时反映产线状态的良率监控工具，而非复杂的数据平台。YMS车间方案聚焦高频、高敏场景，自动汇聚来自现场Test...
上海伟诺信息科技有限公司成立于2019年，坐落于上海松江。专注于半导体行业系统软件，服务于半导体设计公司及封测厂. 基于完全自主开发的Winner DevPro开发平台，开发了适用于半导体设计公司的ERP系统、运营管理系统、项目管理系统、测试质量管理系统；半导体封测工厂MES、工程质量管理系统、测试大数据分析和车规Map管理系统。为客户提供各种标准化和定制化系统级软件的整解决方案。
查看更多