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当晶圆进入关键测试阶段，如果设备参数漂移未被及时发现，可能导致大量芯片误判为不良品，造成重大经济损失。MES系统通过设备自动化接口...
在半导体制造日益追求精细化与智能化的当下，生产异常若不能在早期被识别并干预，往往引发连锁反应，轻则良率波动，重则整批报废，甚至影响...
在推进数字化转型过程中，制造企业常面临测试数据孤岛、分析滞后等挑战。YMS打通从数据采集、清洗、整合到可视化分析的全链路：自动接入...
在半导体封测产线中，Q-Time（工艺停留时间）是影响芯片可靠性的关键因素。一旦某批次未能在规定窗口内进入下一工序，传统依赖人工巡...
因测试数据错误导致误判良率，可能引发不必要的重测或错误工艺调整，造成材料与时间双重浪费。YMS在数据入库前执行多层校验，自动剔除异...
在半导体封测过程中，若某批次产品因工艺参数偏差导致良率下降，传统依赖终检或抽检的质量管理模式往往只能“亡羊补牢”，难以追溯问题根源...
面对测试机台源源不断产生的TB级原始数据，人工分析不仅效率低下，更难以发现隐藏在数据海洋中的细微规律。上海伟诺TMS系统内置的自动...
当半导体智能制造工厂引入新工艺或启动全新产品线时，传统MES系统往往因适配性不足而陷入“功能不匹配、流程难调整”的困境，不得不依赖...
上海伟诺信息科技有限公司成立于2019年，坐落于上海松江。专注于半导体行业系统软件，服务于半导体设计公司及封测厂. 基于完全自主开发的Winner DevPro开发平台，开发了适用于半导体设计公司的ERP系统、运营管理系统、项目管理系统、测试质量管理系统；半导体封测工厂MES、工程质量管理系统、测试大数据分析和车规Map管理系统。为客户提供各种标准化和定制化系统级软件的整解决方案。
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