上海伟诺信息科技有限公司成立于2019年,坐落于上海松江。专注于半导体行业系统软件,服务于半导体设计公司及封测厂. 基于完全自主开发的Winner DevPro开发平台,开发了适用于半导体设计公司的ERP系统、运营管理系统、项目管理系统、测试质量管理系统;半导体封测工厂MES、工程质量管理系统、测试大数据分析和车规Map管理系统。为客户提供各种标准化和定制化系统级软件的整解决方案。
产线同步运行ETS88、J750、93k多类测试设备,输出stdf、log、jdf异构数据,以往人工校对字段、剔除冗余数据,单次清...
良率管理的目标是将海量测试数据转化为可执行的工艺洞察。YMS系统通过自动化采集来自各类Tester平台的多格式数据,完成端到端的数...
半导体制造领域,良率数据时效性、准确度直接决定工艺优化效率,左右量产产能收益。YMS实时归集多平台测试数据,落实端到端数据治理,消...
在半导体制造中,晶圆厂制程的任何微小变动,都可能引起良率与可靠性的风险。其中,一个尤为典型的系统性失效模式,便源于光刻环节的Ret...
在半导体行业工艺迭代日趋复杂的大环境下,良率管理系统YMS已经成为各家企业打造竞争实力的重要载体。该系统能够全天候抓取、监测工厂海...
测试数据出现失真、错误会造成良率判定结果偏离真实情况,衍生不必要重复测试、错误工艺调整等问题,同步浪费原材料与生产工时。YMS系统...
晶圆测试数据量庞大且格式多样,缺乏统一处理平台极易造成信息孤岛与决策延迟。Mapping Over Ink处理系统通过标准化接口自...
良率管理系统的价值不但在于技术实现,更在于对半导体企业关键痛点的精确回应。当设计公司或制造工厂面临测试数据分散、格式混乱、分析滞后...
生产车间和企业管理层存在信息传递滞后问题,极易造成经营、排产决策出现偏差。MES系统打通订单、生产、设备三大板块数据流,将实体产线...