良率异常若依赖人工逐项排查，常需跨多个系统比对数据，耗时且易遗漏关键线索。YMS自动汇聚来自Chroma、STS8200、ASL1...

在高频测试场景下，重复提交或设备通信中断常导致数据冗余或缺失，直接影响良率计算准确性。YMS系统通过时间戳、测试编号、晶圆ID等关...

在半导体全球化协作中，测试管理系统扮演着关键角色，其数据共享机制需兼顾效率与安全。系统通过多层次的权限控制，精确管理不同角色对测试...

在半导体测试过程中，异常情况瞬息万变，快速识别、精确定位并有效解决问题，直接关系到生产连续性和产品质量。测试管理系统通过构建标准化...

面对多客户、多工艺并行的复杂生产环境，通用型MES系统往往因灵活性不足而难以落地，甚至成为业务发展的阻碍。一套真正适配半导体行业的...