GT1850(适用于QFN/DFN)针对扁平微间距封装器件优化了检测逻辑,可实现微小间距引脚的电性测试与外观检测同步完成,避免漏测与误判,确保测试结果的准确性。设备搭载多组高分辨率工业相机,实现底部检测、打印检测、表面破损检测、3D形貌检测全覆盖,缺陷识别精度高,可有效拦截各类显性与隐性不良品。系统支持多站并行测试,可同时对多颗芯片进行电性验证,明显缩短单颗芯片的测试周期,提升整体检测效率。软件界面图形化程度高,故障位置与部件代码直观显示,并附带详细的解决建议,降低对专业维修人员的依赖,普通维护人员即可快速处理故障。设备运行噪音低、能耗低,符合洁净车间的使用标准,适合长时间连续作业,为半导体芯片封测提供稳定、可靠的设备保障。FD1840定位座寿命大于一年半,设备耐用性大幅提升。武汉小型自动半导体封装测试设备

FD1850以超高转速、超高稳定性、低运营成本树立行业新典范,其DDR马达、Z轴直线电机、震动盘电机寿命均长达10年,大幅降低设备更换与维护成本,延长设备全生命周期,提升投资回报率。设备气动元件选用SMC或FESTO,电磁阀选用MAC,传感器选用KEYENCE,均为国际品牌元器件,从硬件层面保证设备的耐用度与稳定性,减少故障发生。设备支持6路视觉、8个测试站、2个编带机扩展,可实现一机多能,满足客户不同阶段的工艺升级需求,无需重复采购设备,降低企业扩产成本。同时,设备耗材价格行业低,供应速度快,可进一步降低企业的运营成本,提升产品的市场竞争力。武汉小型自动半导体封装测试设备GT1850(适配TSOT)软件操作界面简洁,新手可快速上手。

GT1850(使用于SOT/TSOT/SOD)配备吸咀自动吹气清洁功能,可在设备运行过程中实时清理吸嘴内的粉尘与异物,保持吸嘴通畅,减少堵料、掉料等异常停机,提升设备稼动率,保障生产连续性。设备支持SECS/GEM通讯协议,可与工厂自动化系统无缝对接,实现生产数据互通、工单远程下发、设备远程监控,满足智能化工厂的管理需求,提升生产管理效率。相比于行业平均水平,整机耗材价格低,供应速度快,可明显降低用户长期运营成本,同时耗材质量可靠,不会影响设备运行稳定性与测试精度。设备运行稳定、噪音低、能耗低,适合大规模连续生产,为企业创造更高的经济效益。
FD1820在电性测试环节加入多重抗干扰设计,采用屏蔽布线、滤波处理等技术,有效抵御外界电磁干扰,确保测试数据稳定可靠,特别适合对电性一致性要求高的模拟芯片与功率器件。设备进料直线导轨寿命长达一年半,采用高精度导轨与耐磨滑块,运动顺滑无卡顿,保障长期高速上料稳定,减少因导轨磨损导致的停机维护。软件支持多级账号管理,管理员、操作员、维修员权限清晰分离,不同岗位人员只能进行对应权限的操作,提升生产管理的规范性与安全性。设备可单独出售测试单元、视觉单元、打标单元等关键组件,满足客户维修替换、设备升级与自主集成等多元化需求,降低客户的投入成本。GT1850(适配DFN)检测精度高,可识别微米级芯片缺陷。

FD1850以“速度快、性能好、价格低、服务好”为关键优势,多方面超越同级别设备,是封测产线升级换代的必备机型,可帮助企业大幅提升产能与竞争力。设备采用日本安川单独Z轴马达、日机电装DDR马达,配合品牌气动元件,稳定性行业单独,长期故障率远低于同类机型。整机扩展性极强,可按客户需求任意扩展视觉数量、测试站数量、出料方式,真正实现柔性定制化封测解决方案,满足客户不同阶段的工艺升级需求。同时,设备关键电机寿命长达10年,易损件寿命大幅延长,耗材价格行业低,供应速度快,综合运营成本极低,为企业创造更高的经济效益。FD1820专注SOP、TSSOP、TO系列芯片检测,UPH为20K,性价比突出。武汉小型自动半导体封装测试设备
GT1850一体机专为QFN、DFN封装设计,UPH高达50K,检测效率出众。武汉小型自动半导体封装测试设备
FD1850 Handler作为行业内速度与综合性能非常突出的测试分选打标编带设备,可覆盖SOT、TSOT、SOD、QFN、DFN等全系列小型封装器件,UPH高达50K,兼具高速度、高稳定、全功能、高质量四大关键优势,是迄今为止速度、性能、价格、服务都远超其他同类型的设备。设备搭载自研FD转塔系统,Index Time只40ms,配合日本NIKKI Denso DDR马达,实现了行业难以企及的力矩/力量比,在高速运转下仍能保持超高定位精度,确保芯片传递与测试的准确性。单独Z轴下压系统采用日本安川伺服电机,下压力度在0.5kg–7kg范围内精确可调,控制精度±10%,既能保证测试接触稳定,又可有效避免芯片压损。整机选用德国品牌视觉相机、进口伺服与气动元件,搭配精湛的装配工艺与严苛的质量管控体系,设备连续运行稳定性突出,长期故障率远低于同类机型,同时具备价格低、服务好、零配件便宜等明显优势,性价比位于行业前列。武汉小型自动半导体封装测试设备