广州插件AOI测试

AOI 在半导体晶圆检测中的应用，为晶圆制造的早期缺陷识别提供了关键支持。爱为视半导体晶圆 AOI 设备针对晶圆表面的划痕、颗粒污染、氧化层缺陷、图形偏差等问题，采用深紫外光源（DUV）与高数值孔径镜头，能穿透晶圆表面氧化层，识别微小的内部缺陷，检测精度达 1nm 级别。设备支持 8 英寸、12 英寸晶圆的检测，检测速度达 2 片 / 小时，且具备自动晶圆定位功能，可识别晶圆的缺口与定位点，帮助半导体晶圆厂在制造早期发现缺陷，减少后续封装环节的成本浪费，提升晶圆的整体良率。​AOI检测设备支持离线编程，减少生产线调试等待时间。广州插件AOI测试

爱为视AOI支持离线编程功能，工程师可在非生产时间制作检测程序，减少生产线调试等待时间，尤其适合多品类、小批量生产场景。设备采用多任务软件架构设计，测试过程中可在线编辑程序，保存后自动同步至系统，无需停机更新，进一步缩短程序调整时间。配合智能记忆库存储的500种产品检测程序，操作人员可快速调用适配，大幅提升换线效率。在研发打样、定制化生产等需要频繁调整检测程序的场景中，这一功能有效降低设备闲置时间，提升产线整体运营效率。贴片aoiAOI软件支持数据追溯，便于生产质量问题分析改进。

AOI 在 FPC 柔性电路板焊接后的检测中，针对性解决了 FPC 焊接后易出现的焊点变形、元件偏移等问题。爱为视 FPC 焊接后 AOI 设备采用柔性夹具固定 FPC，避免检测过程中 FPC 变形影响结果，同时搭载动态图像比对算法，将焊接后的 FPC 图像与标准图像进行比对，识别焊点偏移（精度 ±0.03mm）、虚焊、元件错装等缺陷。设备支持 FPC 上 BGA、QFP 等精密元件的检测，检测速度达 0.5m/min，且具备焊接质量评分功能，帮助 FPC 厂商快速评估焊接工艺水平，优化焊接参数，提升 FPC 焊接良率。​

爱为视AOI支持远程操控和集中复判功能，同一台电脑可远程操作不同车间或产线的多台设备，维修站电脑能远程对多台设备进行复判，某跨国电子制造集团应用后，实现了多厂区检测标准统一与生产数据集中管理。这一功能在集团化企业多厂区生产场景中优势，既能避免不同人员判定差异，保障产品质量统一性，又能让技术人员在总部解决各厂区设备技术问题，减少现场服务成本和时间。配合多任务软件架构设计，设备可在测试同时在线编辑程序，保存即自动同步，减少程序调整导致的停机时间。AOI系统可自定义检测参数，适配不同产品检测需求。

AOI 在芯片封装环节的二次检测中，扮演着 “品质守门人” 的角色。爱为视芯片封装后 AOI 设备针对芯片封装后的外观缺陷（如封装体凹陷、标记模糊、引脚氧化）、尺寸偏差（如封装高度、引脚间距）、内部缺陷（如键合线断裂、芯片偏移），采用 X 射线成像与光学成像结合的技术，既能检测表面缺陷，又能穿透封装体识别内部问题。设备支持多种封装形式（如 DIP、SOP、BGA、LGA），检测速度达 300 颗 / 小时，且具备缺陷分级功能（如致命缺陷、主要缺陷、次要缺陷），帮助芯片封装企业严格把控出厂品质，避免不良芯片流入市场对下游产品造成影响。​AOI检测设备维护周期长，减少企业设备停机维护时间。东莞离线AOI编程

AOI设备可24小时连续运行，满足不间断生产需求。广州插件AOI测试

爱为视AOI支持前后信号对接，进出方向可选，可与贴片机、回流焊炉、SPI等设备无缝串联，形成全自动检测闭环。在典型SMT产线中，AOI部署于回流焊炉后，可实时接收SPI设备前序数据，结合焊后检测结果进行工艺对比分析，为优化焊膏印刷与回流焊温度曲线提供依据。设备可选单段、多段式轨道设计，能灵活搭配不同产线布局，无论是小型紧凑车间还是大型自动化产线，都能平稳集成。某电子制造企业通过产线集成后，实现检测流程全自动，减少人工搬运与干预，降低人为错误风险，产能提升30%。广州插件AOI测试