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广东低温光刻胶国产厂家
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发布时间：2025年06月17日
定义与特性
正性光刻胶是一种在曝光后，曝光区域会溶解于显影液的光敏材料，形成与掩膜版（Mask）图案一致的图形。与负性光刻胶（未曝光区域溶解）相比，其优势是分辨率高、图案边缘清晰，是半导体制造（尤其是制程）的主流选择。
化学组成与工作原理
主要成分
• 树脂（成膜剂）：
◦ 传统正性胶：采用**酚醛树脂（Novolak）与重氮萘醌（DNQ，光敏剂）**的复合体系（PAC体系），占比约80%-90%。
◦ 化学增幅型（用于DUV/EUV）：含环化烯烃树脂或含氟聚合物，搭配光酸发生器（PAG），通过酸催化反应提高感光度和分辨率。
• 溶剂：溶解树脂和感光剂，常用丙二醇甲醚醋酸酯（PGMEA）或乳酸乙酯。
• 添加剂：表面活性剂（改善涂布均匀性）、稳定剂（防止暗反应）、碱溶解度调节剂等。
工作原理
• 曝光前：光敏剂（如DNQ）与树脂结合，形成不溶于碱性显影液的复合物。
• 曝光时：
◦ 传统PAC体系：DNQ在紫外光（G线436nm、I线365nm）照射下发生光分解，生成羧酸，使曝光区域树脂在碱性显影液中溶解性增强。
◦ 化学增幅型：PAG在DUV/EUV光下产生活性酸，催化树脂发生脱保护反应，大幅提高显影速率（灵敏度提升10倍以上）。
• 显影后：曝光区域溶解去除，未曝光区域保留，形成正性图案。
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依托自主研发与国产供应链，吉田半导体 LCD 光刻胶市占率达 15%，跻身国内前段企业。吉田半导体 YK-200 LCD 正性光刻胶采用国产树脂与单体，实现 100% 国产化替代。其分辨率 0.35μm，附着力 > 3N/cm，性能优于 JSR 的 AR-P310 系列。通过与国内多家大型企业的深度合作，产品覆盖智能手机、电视等显示终端，年供货量超 200 吨。公司建立国产原材料溯源体系，确保每批次产品稳定性，推动 LCD 面板材料国产化进程。
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技术挑战
光刻胶作为半导体、显示面板等高级制造的材料，其技术挑战主要集中在材料性能优化、制程精度匹配、复杂环境适应性以及产业自主化突破等方面
• 高分辨率：随着半导体制程向3nm、2nm推进，需开发更高精度的EUV光刻胶，解决光斑扩散、线宽控制等问题。
• 灵敏度与稳定性：平衡感光速度和图案抗蚀能力，适应极紫外光（13.5nm）的低能量曝光。
• 国产化替代：目前光刻胶（如EUV、ArF浸没式）长期被日本、美国企业垄断，国内正加速研发突破。
光刻胶的性能直接影响芯片制造的良率和精度，是支撑微电子产业的“卡脖子”材料之一。
技术挑战与发展趋势
更高分辨率需求：
◦ EUV光刻胶需解决“线边缘粗糙度（LER）”问题（目标＜5nm），通过纳米颗粒分散技术或新型聚合物设计改善。
缺陷控制：
◦ 半导体级正性胶要求金属离子含量＜1ppb，颗粒（＞50nm）＜1个/mL，需优化提纯工艺（如多级过滤+真空蒸馏）。
国产化突破：
◦ 国内企业（如上海新阳、南大光电、容大感光）已在KrF/ArF胶实现批量供货，但EUV胶仍被日本JSR、美国陶氏、德国默克垄断，需突破树脂合成、PAG纯度等瓶颈。
环保与节能：
◦ 开发水基显影正性胶（减少有机溶剂使用），或低烘烤温度胶（降低半导体制造能耗）。
典型产品示例
• 传统正性胶：Shipley S1813（G/I线，用于PCB）、Tokyo Ohka TSM-305（LCD黑矩阵）。
• DUV正性胶：信越化学的ArF胶（用于14nm FinFET制程）、中芯国际认证的国产KrF胶（28nm节点）。
• EUV正性胶：JSR的NeXAR系列（7nm以下，全球市占率超70%）。
正性光刻胶是推动半导体微缩的主要材料，其技术进步直接关联芯片制程的突破，未来将持续向更高精度、更低缺陷、更绿色工艺演进。
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广东吉田半导体材料有限公司多种光刻胶产品，各有特性与优势，适用于不同领域。
LCD 正性光刻胶 YK - 200：具有较大曝光、高分辨率、良好涂布和附着力的特点，重量 100g。适用于液晶显示领域的光刻工艺，能确保 LCD 生产过程中图形的精确转移和良好的涂布效果。
半导体正性光刻胶 YK - 300：具备耐热耐酸、耐溶剂性、绝缘阻抗和紧密性，重量 100g。主要用于半导体制造工艺，满足半导体器件对光刻胶在化学稳定性和电气性能方面的要求。
耐腐蚀负性光刻胶 JT - NF100：重量 1L，具有耐腐蚀的特性，适用于在有腐蚀风险的光刻工艺中，比如一些特殊环境下的半导体加工或电路板制造。 广东低温光刻胶国产厂家