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广东LED光刻胶感光胶
来源：
发布时间：2025年05月21日
晶圆制造（前道工艺）
• 功能：在硅片表面形成高精度电路图形，是光刻工艺的主要材料。
• 细分场景：
◦ 逻辑/存储芯片：用于28nm及以上成熟制程的KrF光刻胶（分辨率0.25-1μm）、14nm以下先进制程的ArF浸没式光刻胶（分辨率≤45nm），以及极紫外（EUV）光刻胶（目标7nm以下，研发中）。
◦ 功率半导体（如IGBT）：使用厚膜光刻胶（膜厚5-50μm），满足深沟槽刻蚀需求。
◦ MEMS传感器：通过高深宽比光刻胶（如SU-8）实现微米级结构（如加速度计、陀螺仪的悬臂梁）。
芯片封装（后道工艺）
• 先进封装技术：
◦ Flip Chip（倒装芯片）：用光刻胶形成凸点（Bump）下的 Redistribution Layer（RDL），线宽精度要求≤10μm。
◦ 2.5D/3D封装：在硅通孔（TSV）工艺中，光刻胶用于定义通孔开口（直径5-50μm）。
研发投入
◦ 拥有自己实验室和研发团队，研发费用占比超15%，聚焦EUV光刻胶前驱体、低缺陷纳米压印胶等前沿领域，与中山大学、华南理工大学建立产学研合作。
◦ 专项布局：累计申请光刻胶相关的项目30余项，涵盖树脂合成、配方优化、涂布工艺等细致环节。
生产体系
◦ 全自动化产线：采用德国曼茨（Manz）涂布设备、日本岛津（Shimadzu）检测仪器，年产能超500吨（光刻胶），支持小批量定制（小订单100g）和大规模量产。
◦ 洁净环境：生产车间达万级洁净标准（ISO 8级），避免颗粒污染，确保光刻胶缺陷密度<5个/cm²。
青岛水油光刻胶工厂吉田质量管控与认证壁垒。
应用场景
半导体集成电路（IC）制造：
◦ 逻辑芯片（CPU/GPU）：在28nm以下制程中，正性DUV/EUV胶用于晶体管、互连布线的精细图案化（如10nm节点线宽只有100nm）。
◦ 存储芯片（DRAM/NAND）：3D堆叠结构中，正性胶用于层间接触孔（Contact）和栅极（Gate）的高深宽比图形（深宽比＞10:1）。
平板显示（LCD/OLED）：
◦ 彩色滤光片（CF）：制作黑矩阵（BM）和彩色层（R/G/B），要求高透光率和边缘锐利度（线宽5-10μm）。
◦ OLED电极：在柔性基板上形成微米级透明电极，需低应力胶膜防止基板弯曲变形。
印刷电路板（PCB）：
◦ 高密度互连（HDI）：用于细线路（线宽/线距≤50μm），如智能手机主板，相比负性胶，正性胶可实现更精细的线路边缘。
微纳加工与科研：
◦ MEMS传感器：制作微米级悬臂梁、齿轮等结构，需耐干法蚀刻的正性胶（如含硅树脂胶）。
◦ 纳米光刻：电子束光刻胶（正性为主）用于研发级纳米图案（分辨率＜10nm）。
全品类覆盖与定制化能力
吉田半导体的光刻胶产品覆盖芯片光刻胶、纳米压印光刻胶、LCD光刻胶等全品类，适用于半导体、显示面板、MEMS等多个领域。例如，其LCD正性光刻胶YK-200和水油光刻胶JT-2001可满足0.45μm及以上线宽需求，支持客户定制化工艺参数，尤其在柔性显示（OLED）和Mini/Micro LED等新兴领域表现突出。
技术亮点：通过自主研发的树脂配方和光敏剂体系，实现了高分辨率（120nm）和高抗蚀性的平衡，部分指标（如线宽粗糙度LWR<3nm）接近国际主流产品水平。
国产化材料与工艺适配
公司采用进口原材料+本地化生产模式，关键树脂单体、光敏剂等主要成分通过德国默克、日本信越等供应商采购，同时建立了超纯提纯工艺（杂质含量<1ppm），确保产品稳定性。此外，其光刻胶与国内主流光刻机（如上海微电子SSA800）、匀胶显影机（如盛美上海）的兼容性已通过验证，缩短客户工艺调试周期。
吉田产业链协同与政策红利。
国际标准与客户认证
公司通过ISO9001、ISO14001等认证，并严格执行8S现场管理，生产环境洁净度达Class 10级。其光刻胶产品已通过京东方、TCL华星的供应商认证，在显示面板领域的市占率约5%，成为本土企业中少数能与日本JSR、德国默克竞争的厂商。
全流程可追溯体系
吉田半导体建立了从原材料入库到成品出库的全流程追溯系统，关键批次数据（如树脂分子量分布、光敏剂纯度）实时上传云端，确保产品一致性和可追溯性。这一体系使其在车规级芯片等对可靠性要求极高的领域获得突破，2023年车用光刻胶销售额同比增长120%。
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工艺流程
• 目的：去除基板表面油污、颗粒，增强感光胶附着力。
• 方法：
◦ 化学清洗（硫酸/双氧水、去离子水）；
◦ 表面处理（硅基板用六甲基二硅氮烷HMDS疏水化，PCB基板用粗化处理）。
涂布（Coating）
• 方式：
◦ 旋涂：半导体/显示领域，厚度控制精确（纳米至微米级），转速500-5000rpm；
◦ 喷涂/辊涂：PCB/MEMS领域，适合大面积或厚胶（微米至百微米级，如负性胶可达100μm）。
• 关键参数：胶液黏度、涂布速度、基板温度（影响厚度均匀性）。
前烘（Soft Bake）
• 目的：挥发溶剂，固化胶膜，增强附着力和稳定性。
• 条件：
◦ 温度：60-120℃（正性胶通常更低，如90℃；负性胶可至100℃以上）；
◦ 时间：5-30分钟（根据胶厚调整，厚胶需更长时间）。
曝光（Exposure）
• 光源：
◦ 紫外光（UV）：G线（436nm）、I线（365nm）用于传统光刻（分辨率≥1μm）；
◦ 深紫外（DUV）：248nm（KrF）、193nm（ArF）用于半导体先进制程（分辨率至20nm）；
◦ 极紫外（EUV）：13.5nm，用于7nm以下制程（只能正性胶适用）。
• 曝光方式：
◦ 接触式/接近式：掩膜版与胶膜直接接触（PCB、MEMS，低成本但精度低）；
◦ 投影式：通过物镜聚焦（半导体，分辨率高，如ArF光刻机精度达22nm）。
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