对于运动物体的检测,要考虑图像运动模糊带来的不利影响,准确计算导致运动模糊的小曝光时间,确定图像传感器的型号。图像传感器的曝光时间应小于导致运动模糊的小曝光时间,快速曝光选择全局快门模式为宜,高速情况下不易采用卷帘式曝光模式;为了获得比较好的信噪比,图像传感器的增益尽可能为1,图像亮度的提升尽可能用光源的能量(功率)来弥补,或者在不影响可用的成像景深情况下,增大镜头的孔径光阑。在系统集成中,被测件的支撑方式、精密传输与定位装置也必须精心设计,这牵涉到精密机械设计技术,这对平板显示、硅片、半导体和MEMS等精密制造与组装产业中的自动光学检测系统非常重要。在这些领域,制造过程通常在超净间进行,要求自动光学检测系统具有很高的自洁能力,对系统构件的材料选型、气动及自动化装置选型、运动导轨的设计与器件选型都有严格要求,不能给生产环境尤其是被测工件本身带来二次污染。尤其是用于表面缺陷检测的AOI系统不能在检测过程中,给被测件表面带来缺陷(如粉尘、划伤、静电等)。 AOI自动光学检测设备的优点就是可以取代以前SMT炉前,而且可以比人眼更精确的判断出SMT的打件组装缺点。东莞3dAOI品牌
AOI技术实现要素:本发明所要解决的技术问题是提供一种AOI检测方法,其可降低现场操作人员误判的几率,提高产品质量。为达上述目的,一种AOI检测方法,其通过一AOI检测设备执行,用于检测待测PCBA板卡,其包括以下步骤:a.启动一AOI检测程序,对该待测PCBA板卡上的元件进行检测获得一检测数据,;b.判断该检测数据是否超过一预先设置的阈值,如果是则执行步骤c,如果否则执行步骤f;c.判断该待测PCBA板卡的检测数据是否大于一预先设置的第二阈值,如果是则执行步骤d,如果否则执行步骤e;d.判定该待测PCBA板卡为不合格产品并存储该待测PCBA板卡的检测结果;e.根据现场操作人员的输入信息,储存该待测PCBA板卡的检测结果;以及f.判定该待测PCBA板卡为合格产品并存储该待测PCBA板卡的检测结果。 深圳新一代AOI测试AOI设备是高度定制化产品,设备厂商往往需要根据下游客户的要求进行主机设备的调整或是软件的二次开发。
AOI技术向智能化方向发展是SMT发展带来的必然要求。在SMT的微型化、高密度化、快速组装化、品种多样化发展特征下,检测信息量大而复杂,无论是在检测反馈实时性方面,还是在分析、诊断的正确性方面,依赖人工对AOI获取的质量信息进行分析、诊断几乎已经不可能,代替人工进行自动分析、诊断的智能AOI技术成为发展的必然。对各种缺陷的特征提取和缺陷识别与分类进行研究;针对高密度PCB视觉检测系统中要检测的缺陷细小,缺陷的种类繁多,特征不易确定等问题,对于各种不同缺陷的特征提取技术和各种分类方式进行研究,采用机器学习的方法,设计不同的分类器,并对不同分类器的分类效果和误差进行比较和分析,采用优化的分类器可以实现对缺陷的快速检出和准确分类,并尽可能地提高分类器的智能化水平。
AOI(automaticallyopticalinspection)是光学自动检测,顾名思义是通过光学系统成像实现自动检测的一种手段,是众多自动图像传感检测技术中的一种检测技术,技术点如何获得准确且高质量的光学图像并加工处理。AOI检测技术应运而生的背景是电子元件集成度与精细化程度高,检测速度与效率更高,检测零缺陷的发展需求。AOI检测的比较大优点是节省人力,降低成本,提高生产效率,统一检测标准和排除人为因素干扰,保证了检测结果的稳定性,可重复性和准确性,及时发现产品的不良,确保出货质量。在人工智能技术与大数据发展进步的,AOI检测不仅是一部检测设备,对大量不良结果进行分类和统计,可以发现不良发生的原因,在工艺改善和生产良率提升中也正逐步发挥着更重要的作用,因此,可以预期未来AOI检测技术将在半导体与电子电路检测中将会发挥越来越重要的作用。 AOI的全称是自动光学检测。
当前电子产品日渐向着小型化趋势发展,对产品元器件的微型化要求也越来越高,微型器件的组装和检测难以只通过人工完成,由此产生越来越多的自动检测设备需求。与此同时,自动检测设备还能够健身制造成本、提升产品质量,AOI检测设备代替人工的进程发展较快。在此背景下,中国自动光学检测行业逐步发展起来。从AOI检测设备来看,目前AOI检测设备是SMT加工厂必备的设备,平均一条SMT生产线至少需要2-3台AOI检测设备,但我国AOI检测设备的渗透率较低,只为50%左右。 随着电子技术、图像传感技术和计算机技术的快速发展,AOI技术成为表面缺陷检测的重要手段。广东专业AOI光源
AOI运用于图像分析技术。东莞3dAOI品牌
AOI检测设备中常用的红绿蓝LED光源。特殊波长光源一般是指红外或紫外波长光源,一些特殊材料在可见光范围内吸收差别不大,灰阶变化不明显时可以考虑采用特殊波长光源,比如说利用紫外光能量高可以激发荧光材料的原理,检测具有荧光发光特性物质微残留时紫外光源就是一种比较有效的手段,因材料成分与红外光谱有对应关系的原理,红外光源对不具有发光性质的有机化合物残留缺陷检出就有很大的作用,甚至可以实现成分分析。特殊光源中,利用偏振光与物体相互作用后偏振态的变化,利用光学干涉原理的白光干涉(whitelightinterferometry)在特定缺陷检测中的得到了应用,例如通过相干光的干涉图案计算出对应的相位差和光程差,可以测量出被测物体与参考物体之间的差异,且分辨率与精度为可以达到亚波长,测量三维物体形貌与高度也正成为AOI检测的新需求。(下图为侧光源与同轴光源实例) 东莞3dAOI品牌
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