复合基板在半导体器件中起到承载与绝缘作用，基板和各类辅材、胶体的结合效果，可借助水滴角进行优化。复合基板由多种材料复合而成，不同材质区域的润湿特性存在区别，会影响后续涂胶、贴合等工序。在基板出厂与上线...

晶圆搬送机采用了人性化的操作设计，通过简洁直观的界面与便捷的操作方式，降低了设备的使用门槛，提升了操作效率。设备配备了触摸屏操作面板，界面布局清晰，功能分区明确，操作人员可通过图标化按钮快速完成参数设...

非接触式测厚仪支持定点与扫描两种检测模式，适配差异化检测需求。在半导体单点厚度抽检场景中，设备可精细锁定工件指定位置，完成定点厚度数值采集，适用于芯片局部镀膜、局部胶层的参数检测。针对晶圆、大尺寸基板...

半导体气体管路内壁的洁净度十分关键，管道内残留的水汽、粉尘会混入工艺气体，水滴角可作为管路巡检的参考指标。高纯工艺气体是芯片制造的重要原料，管路内壁沾染杂质后，会持续污染气体，进而影响薄膜沉积、刻蚀等...

UV 臭氧清洗设备常用来去除晶圆表面的有机污染物，设备运行状态与清洗效果，可借助水滴角完成日常核验。有机物质会让硅片表面偏向疏水，对应的水滴角数值偏高；经过 UV 臭氧分解作用后，有机物逐步被，表面润...

晶圆搬送机的高效搬送能力是提升半导体产线整体产能的关键因素，其通过优化机械结构、提升控制精度、智能调度等方式，实现了搬送效率的大幅提升。设备的机械臂采用了轻量化设计与高速驱动系统，单次搬送循环时间可缩...

设备可用于半导体光刻胶层厚度检测，稳定光刻制程工艺。光刻是芯片线路成型的关键工序，光刻胶层的厚度均匀性会直接影响线路刻蚀精度，胶层过厚或过薄都会导致线路成型瑕疵。人工检测难以判断胶层细微厚度差异，传统...

在 300mm 大尺寸晶圆翘曲检测中，非接触式多探头阵列翘曲方案较接触式翘曲仪实现全片无盲区测量。接触式翘曲仪采用单点测量方式，需逐点扫描全片，耗时＞10 分钟，且边缘区域存在＞5mm 的测量盲区；而...

设备抗粉尘干扰能力良好，适配半导体车间常规洁净环境。半导体洁净车间虽配备专业除尘系统并持续净化空气，但流水线连续作业过程中，工件表面、设备镜头端面难免附着微量悬浮粉尘与细微颗粒，部分精密光学检测设备极...

设备抗粉尘干扰能力良好，适配半导体车间常规洁净环境。半导体洁净车间虽配备专业除尘系统并持续净化空气，但流水线连续作业过程中，工件表面、设备镜头端面难免附着微量悬浮粉尘与细微颗粒，部分精密光学检测设备极...

设备具备数据异常预警功能，便于及时处置制程问题。非接触式测厚仪可提前录入各类半导体工件对应的厚度标准区间与公差范围，适配晶圆、薄膜、胶层、镀层等不同工件的质检标准。在批量检测作业过程中，若采集的厚度数...

近年来，我国半导体设备国产化进程不断加速，晶圆搬送机作为配套设备，也在自主研发与产业化方面取得了突破。国内企业通过引进吸收再创新，已实现晶圆搬送机部件如伺服电机、传感器、控制系统等的自主研发与生产，打...