晶圆表面的洁净度直接影响半导体芯片的良率，晶圆搬送机通过密封式搬送设计，为晶圆提供了的洁净保护。设备采用密闭式机身结构，机械臂运行区域与外部环境完全隔离，避免了洁净车间内的粉尘、水汽等污染物进入设备内...

随着半导体产业向先进制程、智能化、绿色化方向升级，晶圆搬送机作为配套设备，发挥着重要的推动作用。在先进制程方面，晶圆搬送机的高精度、高稳定性为 3nm 及以下先进制程的实现提供了保障，助力半导体企业突...

在晶圆背面研磨后的粗糙度检测中，非接触式 LED 散射光方案较接触式探针仪实现效率与精度的双重提升。接触式探针仪采用逐点扫描方式，全片（12 英寸）测量需耗时＞10 分钟，且背面研磨痕迹的方向性易导致...

体式显微镜在半导体封装产业中占据基础且关键的地位，是粘片、键合、塑封、切割、挑粒、外观检查等工序的必备设备。它凭借立体成像、大景深、长工作距离可调倍率等优势，可清晰观察芯片贴装是否偏移、银浆涂覆是否均...

晶圆搬送机采用了人性化的操作设计，通过简洁直观的界面与便捷的操作方式，降低了设备的使用门槛，提升了操作效率。设备配备了触摸屏操作面板，界面布局清晰，功能分区明确，操作人员可通过图标化按钮快速完成参数设...

工业工具显微镜是一种高精度二维光学测量仪器，融合了光学成像、精密光栅尺、自动寻边与计算机测量技术，可对微小精密工件进行非接触式尺寸测量。它能够精细测量长度、宽度、间距、孔径、角度、弧度、位置度、共面度...

白光干涉探头基于低相干白光干涉原理，是晶圆表面粗糙度、面形误差测量的精度，构造包括宽光谱光源、干涉物镜（Mirau 型或 Michelson 型）、压电陶瓷扫描台（PZT）与高分辨率 CCD 相机。测...

在晶圆背面金属化层（铝、铜、金）粗糙度检测中，非接触式 X 射线荧光 + 粗糙度复合方案较接触式探针仪解决了导电干扰问题。接触式探针仪在导电金属表面易产生静电吸附，导致探针与表面粘连，测量数据波动＞±...

在晶圆背面研磨后的粗糙度检测中，非接触式 LED 散射光方案较接触式探针仪实现效率与精度的双重提升。接触式探针仪采用逐点扫描方式，全片（12 英寸）测量需耗时＞10 分钟，且背面研磨痕迹的方向性易导致...

半导体封测量产环节对晶圆搬送的效率与稳定性要求极高，晶圆搬送机凭借高效的转运能力与稳定的性能，成为封测量产线的设备。在封测量产线中，晶圆搬送机需要完成晶圆切割、芯片分选、封装、测试等多个环节的转运作业...

在晶圆边缘（0-5mm 区域）厚度检测中，非接触式激光三角测厚方案较接触式、电容式消除了测量盲区。接触式测厚仪的机械测头因结构限制，无法靠近晶圆边缘，存在＞5mm 的测量盲区，而边缘区域往往是厚度偏差...

在光刻胶固化后粗糙度检测中，非接触式暗场成像 + AI 分析方案较接触式探针仪更适配制程需求。接触式探针仪的探针易刮伤固化后的光刻胶表面，导致后续蚀刻工艺的图案变形；电容式测厚仪则无法区分光刻胶固化前...