电源类混合信号芯片是现代电子系统的能源心脏和控制神经，他们构成了数字世界的底层基石，也构筑着一个国家在技术**和产业安全方面的生命线。从通信到汽车行业，它们都担当着产业升级的关键赋能者和能...

市面上大量工业控制、物联网**芯片集成MCU主控与ADC/DAC模拟信号链，数模交互复杂、测试难度高，国磊ATE针对性打造一站式混合信号测试方案，完美适配此类集成芯片的全维度测试需求。设备...

国磊GT600高精数模混合ATE是专为AI异构SoC芯片打造的一体化测试平台，创新性融合高精度模拟测试资源、高速数字通道、ps级时序测量单元、高速时钟模块，彻底打破传统测试设备“数字、模拟...

复杂的多工作模式、多状态测试，验证的要求使得测试程序复杂，测试向量数量庞大，测试时间也较长。高电压、大电流的功率测试及其安全性。高电压、大电流的功率测试及其安全性。过往在这一类芯片的测试上...

车规芯片是专为汽车严苛环境设计的，必须满足生命保障的安全底线。但是先进节点的引入又带来了晶体管密度的指数级增长，导致工艺变异性和缺陷敏感性大幅上升。因而，对其高稳定性、长寿命（10-15年...

针对云端大算力AI芯片主流的Chiplet芯粒、HBM高带宽存储堆叠架构，国磊GT600ATE打造了专属高精混合信号测试方案，精细适配3D堆叠异构芯片的复杂测试需求，解决了堆叠芯片信号完整...

国磊G97-X200通用模拟ATE是针对运放、电压基准源、比较器、模拟开关等通用线性模拟芯片打造的高精度测试平台，搭载行业高精度浮动SMU与失真AWG波形发生器，彻底解决传统测试设备地回路...

国磊GT600高精数模混合ATE是专为AI异构SoC芯片打造的一体化测试平台，创新性融合高精度模拟测试资源、高速数字通道、ps级时序测量单元、高速时钟模块，彻底打破传统测试设备“数字、模拟...

可靠性测试是PXIe板卡研发、量产及品质管控环节的主要测试项目，其中长期稳定性测试与耐久性测试尤为关键。两类测试通过复刻设备实际复杂工况与长时间运行状态，多角度验证板卡的服役性能、环境耐受...

为解决微型化硬件功能固化、升级维护难的行业痛点，微型化PXIe板卡普遍采用标准化、模块化设计思路。GI‑SMUBV04是杭州国磊半导体推出的3UPXIe四通道精密浮动低压源测量单元（SMU...

随着AI大模型、云端算力、边缘智能产业高速爆发，AI芯片形成“感知模拟芯片+电源管理芯片+混合信号SoC+堆叠算力芯片”的完整产业链，国磊半导体ATE全系列设备构建了行业***的全链路AI...

车载显示、MiniLED驱动、工业屏驱动芯片采用大量LVDS高速差分接口，高速图像数据传输、时序同步、高低温信号衰减测试，对数字IO通道速率、时序精度、差分信号完整性要求较高，普通低速DI...