测试板卡

    当下芯片企业品质管控要求持续升级，车规、工业芯片需要完整测试数据留存、参数可追溯，方便后期失效分析。很多简易测试设备数据格式杂乱，难以对接工厂MES系统，无法满足长期品质追溯需求。杭州国磊GI系列测试板卡开放标准化数据流接口，采集的电压、电流、时序、波形原始数据完整输出，支持存储至本地服务器或云端数据库，搭建全链路数据溯源体系。硬件端GI-SMU系列源表实时同步采样时间戳，GI-TMUHA04时序模块、GI-WRTLF系列波形板卡同步保存原始波形文件，每一颗芯片所有测试参数长久留存。客户自主开发上位机程序后，可实现测试数据自动上传MES，绑定芯片条码、批次、测试工位、温区信息，一旦出现终端失效，能够快速回溯量产测试原始数据，开展失效分析。整套硬件不绑定私有数据格式，不存在数据封闭问题。功率IDM、第三方封测厂、车规芯片企业十分适合搭建这套溯源测试体系。同时搭配GI-CBIT120自动切换模块实现无人自动化测试，批量数据自动归档，减少人工记录产生的误差，完善企业芯片品质管控体系，助力顺利通过各类工业、车规品质审核。 杭州国磊半导体PXIe板卡SMU系列对标NI，电压分辨率低至10μV，电流分辨率高达5pA，精确捕捉微弱信号变化。测试板卡

    家电、蓝牙、遥控器通用8位/32位MCU芯片测试包含内核供电、IO逻辑、存储擦写、外设通讯多项目，分立DIO、电源、VPP板卡堆叠占用大量机箱插槽，设备集成复杂，进口复合数字板卡单卡通道数量有限，扩容成本高。杭州国磊GI-DMUMS3232路一体化数字测试板卡，单卡集成32路通用DIO、可编程PPMU供电、2路DPS功率源、16路存储VPP高压激励，一块板卡一站式覆盖MCU全部数字与电源测试需求，只占用单个机箱插槽，相比多块分立板卡节省70%插槽空间，产线设备体积大幅缩小。可搭配GI-SMUBV04低压SMU测试MCU模拟外设、ADC采集参数，形成MCU数模混合全套测试方案，适配消费类MCU低成本量产分选。2026年国内消费电子MCU国产化率持续走高，头部封测厂MCU测试工位满负荷运转，亟需高性价比高密度数字测试硬件，国磊集成式数字板卡批量现货，多板卡级联可扩展数百路并行测试通道，单颗芯片测试时长缩短40%。搭配GI-CBIT120继电器自动切换多颗MCU夹具，对接常温分选机实现全自动量产，硬件元器件国产化，长期运维备件价格低廉，无海外断供风险，极大降低消费MCU量产测试综合成本，助力本土MCU企业抢占全球家电、物联网低端芯片市场。 国产PXI/PXIe板卡厂家区别于面向教学或通用测试的入门级厂商，杭州国磊半导体PXIe板卡更偏向工业级应用。

    电压基准芯片、万用表校准源、工业采集芯片量产出厂校准，需要稳定、低漂移多路标准基准激励，普通SMU温漂大，无法满足出厂校准ppm级精度要求，进口**校准源设备通道少、设备投入高，量产校准产线吞吐受限。杭州国磊GI-SMUREF055路精密浮动参考源表，低温漂基准电路，全温区温漂低于5ppm/℃，五路**隔离标准电压、电流输出，可同步为多颗待校准芯片提供标准激励，自动完成增益、失调、温漂出厂校准，校准数据一致性远优于普通SMU模块，满足工业级、计量级芯片出厂校准规范。可搭配GI-SMUBV04低压测量SMU同步采集芯片输出校准数据，形成“标准基准输出+高精度参数采集”全自动校准系统，搭配GI-CBIT120继电器扩展多路校准工位，实现无人值守批量校准。2026年国产计量、基准芯片批量出货，出厂校准工位需求快速增长，进口校准**源表供货紧张，国磊五路参考源板卡现货交付，模块化设计可灵活扩展校准通道，现有PXIe测试机箱可直接兼容，无需更换整套设备，产线改造投入极低。硬件长期连续校准稳定性强，7×24小时运行基准漂移可忽略，大幅提升芯片出厂校准效率，降低单颗芯片校准硬件成本，助力国产高精度基准芯片批量推向工业市场。

    不少企业计划从进口台式仪器、老旧ATE设备迁移至国产化模块化测试平台，比较大顾虑是原有大量成熟测试程序重写工作量巨大，切换周期长，影响正常研发与量产。杭州国磊充分考虑平台迁移痛点，GI系列测试板卡提供通用标准化指令集，函数接口对标主流模块化仪器编程规范，比较大限度减少程序改动量。原有基于源表、AWG、数字IO的测试代码，只需少量适配即可直接迁移至国磊硬件，无需从零开发整套测试程序。GI-SMU系列源测量模块、GI-WRTLF/GI-WRTHF波形板卡、GI-DMUMS32数字板卡均提供丰富编程示例，支持Python、C#、LabVIEW主流开发环境。同时技术团队可以提供程序迁移技术支持，协助企业快速完成平台切换。功率器件I-V扫描、PMIC电源轨测试、MCU功能测试、模拟芯片参数校准等成熟测试流程均可快速移植。企业可以采取渐进式切换方案，新样品先使用国磊平台验证，成熟产品线逐步过渡，避免产线通用切换带来的生产中断风险，平稳实现测试硬件国产化替代。 杭州国磊半导体PXIe板卡SMU系列对标NI，内置可编程电压/电流钳位，防止过载损坏待测器件，保护更智能。

    2026年AI算力爆发带动RRAM、MRAM、Flash存算一体存储芯片研发热潮，阻变存储单元Set/Reset脉冲激励、高频擦写循环、瞬态阻变特性测试，依赖高带宽、高速边沿波形发生器，普通低速AWG无法满足纳秒级脉冲输出需求。杭州国磊GI-WRTHF044路高速AWG+2路DGT波形测试板卡，超高采样率、亚纳秒边沿速度，四路**波形通道可同步输出多路脉冲序列，精细模拟存储单元擦写激励信号，配套高速数字采集通道实时捕获阻变阻值动态变化，完整绘制R-V、I-V特性曲线，是存储器件实验室表征**硬件。可搭配GI-SMUREF05五路精密参考源表，提供稳定基准电压电流，消除测试系统基准漂移误差，保障存储器件多批次测试数据一致性。当前高精存储测试硬件长期被海外厂商垄断，国产存储研发机构采购进口设备预算压力大，交付周期长达半年，国磊高速波形板卡全自研信号链路，性能对标海外中端高速AWG，价格降低50%，本土技术团队提供快速调试支持。针对晶圆级存储器件探针台联调、多单元并行老化测试场景，多块高速AWG板卡级联扩展通道，同步完成数十个存储单元循环可靠性测试，大幅加速新型存储器件研发验证进度，助力国内存算一体芯片赛道突破海外设备壁垒。 杭州国磊半导体PXIe板卡SMU系列对标NI，AWG采样率≥100Ksps，DGT分辨率高达18bit，实现闭环动态测试。测试板卡

杭州国磊半导体PXIe板卡SMU系列，对标NI，可与DMUMS32、TMU等板卡协同工作，打造多功能ATE平台。测试板卡

    芯片可靠性老化筛选是车规、工业芯片量产必备工序，高温工作老化、高温反偏老化、直流应力测试需要长时间稳定激励，市面上成套老化系统价格高、工位固定，后期扩容成本较高。很多企业选择自主搭建老化平台，主要硬件选型尤为关键。杭州国磊GI全系列源测量模块可作为老化系统主要激励单元，电压覆盖±10V、±60V、±100V、1000V，覆盖从低压模拟芯片到SiC高压功率器件老化需求。GI-SMUREF05提供稳定基准保障长时间激励漂移可控；GI-CBIT120120路继电器驱动实现上百路DUT循环应力加载，故障通道**切断，不影响其他工位持续老化。所有SMU内置硬件OV/OC保护，芯片击穿短路时快速切断输出，防止批量损坏。整套模块化硬件可对接各类国产、进口三温老化箱，实现温度、电压电流同步管控。企业可以分期搭建老化工位，先小规模投入，产能增加后持续叠加SMU与继电器模块。区别于一体式老化系统，硬件灵活拆分，老化任务淡季可以拆卸部分板卡用于实验室样品测试，硬件一机两用，大幅提升资产利用率，是芯片企业自建可靠性老化产线高性价比方案。 测试板卡