针对物联网、智能家居、小家电等大批量MCU应用场景,国磊ATE创新性集成固件烧录与功能测试一体化流程,彻底解决传统产线“先烧录、后测试”分步操作效率低、工序繁琐、人工误差大的行业痛点。设备...
面向新能源汽车、储能领域车规级BMS电池管理模拟芯片,国磊ATE打造了符合AEC-Q100车规标准的专业化测试方案,完美适配电池采集、均衡控制、充放电保护、温度监测等全系列BMS芯片测试需...
AR/VR智能终端、AI服务机器人、家用智能硬件等端侧AI设备,对芯片体积、功耗、成本要求较高,对应的微型数模混合AI芯片需要兼顾高精度测试与低成本量产需求,国磊G97系列紧凑型ATE精细...
MCU集成模拟ADC、数字GPIO、Flash存储、UART/CAN通讯接口,是工控、物联网终端主要控制芯片,ATE需要同步完成模拟参数、数字逻辑、存储读写、通讯协议多维度混合测试,高深度...
PXIe测试板卡包含高精度模拟电路、采样芯片、功率器件及精密阻容元件,对环境温度变化高度敏感。大幅温度波动会明显影响板卡的电气精度、工作稳定性与长期可靠性,是制约高精度测试系统一致性的关键...
CIS图像传感器常见用于手机、车载摄像头、安防设备,芯片测试分为电性直流参数与光学成像同步检测,需要ATE输出稳定供电、读取像素数据,搭配标准光源同步采集噪点、坏点、灵敏度指标,属于模/数...
DDI显示驱动芯片负责屏幕Gamma电压、灰阶、Vcom基准电压输出,终端点灯画面质量直接由芯片参数决定,ATE测试需要同步输出多通道高精度模拟电压,联动点灯治具验证画面灰阶、色彩均匀性,多通...
不少企业计划从进口台式仪器、老旧ATE设备迁移至国产化模块化测试平台,比较大顾虑是原有大量成熟测试程序重写工作量巨大,切换周期长,影响正常研发与量产。杭州国磊充分考虑平台迁移痛点,GI系列...
时钟发生器、高速接口PLL、时序控制芯片、存储时钟驱动芯片主要指标围绕建立保持时间、相位差、抖动、传输延迟等时序参数,普通数字IO板卡时序测量精度不足,无法捕捉皮秒级微小时序误差,高精时序...
国磊GT600ATE通用适配8位、32位通用MCU单片机的全功能测试需求,覆盖消费电子、智能家居、物联网、小家电等全场景通用MCU,构建了一站式、自动化、高性价比的量产测试体系。设备可完整...
AR/VR智能终端、AI服务机器人、家用智能硬件等端侧AI设备,对芯片体积、功耗、成本要求较高,对应的微型数模混合AI芯片需要兼顾高精度测试与低成本量产需求,国磊G97系列紧凑型ATE精细...