杭州芯纪源半导体设备有限公司2026-06-06
可检测的缺陷类型十分多样:①空洞 / 气孔(voids)—— 焊点、绑定层、模塑料中的气泡;②分层 / 脱粘(delamination)—— 不同材料界面的分离;③裂纹(cracks)—— 硅片、焊点、封装体中的裂缝;④不均匀性(inhomogeneity)—— 材料密度或弹性模量的局部变化;⑤异物(foreign material)—— 内部夹杂的颗粒;⑥腐蚀 / 空洞(corrosion voids)—— 金属互连中的腐蚀产物。
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