该设备能用于锂电池检测吗？

杭州芯纪源半导体设备有限公司2026-06-06

可以，且是锂电池质量控制的新兴应用。主要检测：①极片涂层均匀性 —— 通过声阻抗差异识别涂层厚度不均区域；②极片内部缺陷 —— 如涂覆层中的空洞、裂纹、剥离；③电芯内部 —— 检测卷绕 / 叠片中的对齐偏差、隔膜褶皱、内部短路风险区域。使用频率通常 50~200MHz，可检测 10~50μm 级缺陷。相比 X-Ray，SAM 对极片涂层缺陷更敏感，且无辐射。

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