杭州芯纪源半导体设备有限公司2026-06-06
现代水浸 SAM 已实现高度自动化。单点采集时间可低至微秒级,一幅 C-Scan 图像(如 512×512 像素)通常在几秒到几十秒内完成。配合自动对焦、自动扫描和 AI 缺陷识别,每小时可检测数十到上百颗器件。主流设备如 Nordson Sonoscan、Evident 等均提供产线级解决方案,完全满足半导体封装产线的 UPH(Units Per Hour)要求。
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