芯片YMS解决方案

在半导体行业工艺迭代日趋复杂的大环境下，良率管理系统YMS已经成为各家企业打造竞争实力的重要载体。该系统能够全天候抓取、监测工厂海量生产数据，深入挖掘各道制造工序的运行状态，快速定位各类拉低良率的缺陷与制程瓶颈并给出解决方向。这套数字化管控方案除了稳定提升芯片成品品质与性能一致性之外，还能优化工艺操作窗口，减少晶圆报废、返工带来的物料损耗，有效压缩整体制造成本，是半导体厂商同步实现好的生产、高效盈利的支撑。上海伟诺信息科技深耕半导体赛道，专注打造专业良率管控解决方案，打通生产车间、测试工序、品质管控三大板块多维度数据，搭建一套从数据采集分析、输出问题洞察到落地生产决策的完整闭环体系。依靠这套数字化平台，客户能够定位各类工艺缺陷、调整优化制程参数，从芯片前期设计、产线制造工艺、生产设备运行效率多个维度持续推进良率稳步提升。封测厂通过YMS集中管理多条工艺线的测试数据，告别分散存储，实现统一监控与分析。芯片YMS解决方案

国产良率管理软件价值，是把零散、孤立的各类测试原始数据转化为可落地执行的工艺优化方案。YMS系统能够自动对接ASL1000、SineTest、MS7000、CTA8280、T861、Juno、AMIDA等市面上主流测试设备，自动解析十多种不同类型的原始数据文件，搭建从整片晶圆到单颗芯片完整、可靠的数据链条。系统除了自动筛除各类异常数据记录之外，还通过可视化图表直观呈现不同生产周期、晶圆各个象限的良率高低差距，方便工艺人员判断故障根源来自光刻对位偏差或是刻蚀工艺均匀性不足。系统联动WAT、CP、FT三道主要工序参数综合分析，能够清晰区分产品设计缺陷与制造过程工艺波动，缩短故障排查耗时。这套从识别异常现象、深挖问题根源的分析能力，推动企业品质管控模式从事后整改转向事前主动预防。上海伟诺信息深度吃透半导体全流程制造工艺，自研YMS系统成为国内芯片产业国产替代进程里的数字化工具。海南半导体良率管理系统定制集中管理多条工艺线测试数据，YMS让封测厂告别分散存储，实现统一监控与分析。

半导体厂区测试产线运转频次高、多台设备同步运行，依靠人工处理异构测试数据极易延误异常处置进度。YMS系统依托全自动运行流程，实时汇总STS8200、TR6850、ASL1000、MS7000等设备输出的各类原始数据，统一完成解析与清洗工作，消除文件格式差异造成的数据断层问题。结构化数据库完整留存全部良率数据，支持从生产批次到单片晶圆分层精细化监测。一旦某一批次芯片良率大幅下滑，系统可以快速调取对应区域缺陷热力图，联动WAT、CP、FT全工序参数同步比对，帮助工程师在较短时间内锁定故障诱因。SYL、SBL指标管控功能在参数超标时自动推送预警，防止不良芯片流入下一生产工序。周期性报告一键生成并兼容多格式导出，匹配员工、中层主管、企业高管不同层级的数据使用需求。上海伟诺信息深度吃透封测、制造全流程工况，持续迭代优化YMS系统的数据处理与智能分析能力。

以往质量团队每周专项编制良率周报，手动汇总跨部门Excel台账、调校图表格式，耗时冗长且极易出现数据错漏。YMS预制标准化生产报表模板，自动归集日、周、月维度生产数据，整合SYL/SBL质控状态、区位缺陷对标、良率时序趋势等主要指标，一键导出PPT、Excel、PDF文件。管理层调取PPT开展经营复盘，对外交付标准化PDF完成客户稽核，工艺工程师调取原始Excel深挖异常根因。自动化报表保障全厂数据口径统一，消除跨部门数据分歧，将制表工时压缩九成以上，释放人力投入制程优化工作。上海伟诺信息科技依托智能化报表能力，破除传统人工复盘弊端，推动半导体制造全域数据化决策转型。YMS实现良率管理全流程自主可控，减少对外部工具依赖，数据掌控在手里。

良率管理配套服务的价值，是为客户提供贯穿系统全使用周期的技术支撑与故障解决方案。YMS不只是一套集成数据采集、清洗运算、多维分析、可视化展示的一体化软件平台，同时配套完整服务流程：售前开展专业工艺咨询、售中定制适配产线的专属方案、售后提供标准化运维保障，确保系统功能和客户实际生产流程高度契合。客户接入ETS88、STS8107、Chroma等测试设备后，系统自动处理设备输出的STDF、XLS、SPD、JDF数据，筛查异常内容并规整存入数据库。管理人员依靠各类可视化图表直观掌握良率走势、晶圆缺陷分布，同步关联WAT、CP、FT工艺参数，快速落地工艺改善方案。SYL、SBL指标自动计算与阈值实时监控功能，进一步提升整套生产流程稳定程度。多格式报表导出功能打通车间现场到企业决策层的数据传递通道。上海伟诺信息依靠完善全周期服务体系保障YMS稳定落地，持续助推国内半导体企业迈向高质量可持续发展。YMS以自研技术替代国外同类软件，助力企业减少依赖，稳步推进良率管理自主可控。海南半导体良率管理系统定制

良率刚超控制线，YMS便弹出弹窗、发送邮件，即时触发告警提醒异常。芯片YMS解决方案

面对海量繁杂测试台账，传统表格形式难以快速捕捉隐性异常规律。YMS打通良率数据、缺陷台账、电学参数，转化为晶圆热力图、时序趋势图、参数散点图等可视化视图：依托晶圆热力图锁定高发缺陷区位，时序曲线复盘周期性良率波动，散点图挖掘参数隐性关联。例如比对CP漏电参数、FT功能失效数据分布，反向锁定特定电压工况下的共性失效机理。图形化极简展示降低数据分析门槛，非专业数据岗位人员亦可快速读懂质量态势，参与制程复盘会商。直观化的数据表达，打通数据研判、工艺整改链路，加速生产决策落地。上海伟诺信息科技以可视化作为产品主要设计逻辑，提升数据传递效率，夯实质量决策支撑能力。芯片YMS解决方案

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