天津晶圆Mapping Inkless系统

半导体企业在选型良率管理系统时，重点关注功能适配性、场景覆盖度与长期稳定的售后服务体系，兼顾使用价值与投入性价比。上海伟诺YMS系统采用模块化可配置架构，可根据企业现有ETS364、Juno、AMIDA、CTA8280等测试设备型号，以及STDF、JDF、LOG等各类数据格式，灵活搭配功能模块，准确适配企业个性化生产场景。系统可全自动完成数据采集、清洗、规整与整合，依托标准化数据库实现时间趋势追踪、区域缺陷对比、缺陷聚类溯源等多维分析。SYL与SBL智能管控模块可实时监控主要良率指标，通过阈值卡控构建封测全流程动态质量防线。项目报价根据客户定制化需求、功能拓展范围与服务内容灵活制定，保证客户在合理预算内获取高适配、高性价比的解决方案。同时配套完善的售前咨询、售中优化、售后运维服务，保障系统长期稳定运行、持续迭代升级，助力企业实现良率稳步提升与长效管控。上海伟诺信息科技Stacked Map功能，通过堆叠多片Wafer结合算法与卡控规则检测mapping上存在质量风险的芯片。天津晶圆Mapping Inkless系统

晶圆制造环节的良率波动直接影响整体产出效率，YMS系统通过全流程数据治理提供有力支撑。系统自动采集并解析来自主流测试设备的多源异构数据，建立标准化数据库，实现对晶圆批次、区域乃至单点良率的精细化监控。结合WAT、CP、FT等关键测试数据的变化趋势，系统可快速锁定影响良率的主要因素，指导工艺参数调优。图表化界面直观展示良率热力图、趋势曲线等关键指标，辅助工程师高效决策。同时，系统支持按模板生成周期性报告，并导出为常用办公格式，满足生产与管理双重需求。上海伟诺信息科技有限公司以打造国产半导体软件生态为使命，其YMS产品正持续助力制造企业迈向高质量、高效率的发展新阶段。天津晶圆Mapping Inkless系统上海伟诺信息科技mapping去边功能，采用灵活配置的方式帮助用户剔除Mapping边缘潜在质量风险芯片。

Mapping Over Ink是一款适配晶圆CP测试后段的智能化自动管控系统，可针对电性测试生成的晶圆图谱进行智能解析、数据优化与二次处理，联动探针台能完成指定缺陷芯片的自动化喷墨标记作业。系统可整合ZPAT、GDBN等多维度失效分析算法，将后台数据判定结果转化为物理标记动作，准确标记各类不良芯片，确保其在后续封装工序中被彻底剔除。区别于传统只筛选显性失效芯片的管控模式，该系统主打前置化、预判式质量管控，可提前识别并拦截所有潜在缺陷、隐性失效芯片，是实现芯片零缺陷生产、提升产品长期可靠性的技术手段。上海伟诺信息科技深耕半导体测试领域，专注为国内、外芯片设计企业与晶圆测试代工厂商，提供一站式Mapping Over Ink定制化解决方案。平台搭载行业前沿的数据分析、智能筛选与逻辑处理模块，通过多维度、多层级的数据校验与风险排查，筑牢晶圆测试质量防线，优化晶圆测试精度、稳定性与终端产品可靠性。

良率管理的目标是将海量测试数据转化为可执行的工艺洞察。YMS系统通过自动化采集来自各类Tester平台的多格式数据，完成端到端的数据清洗与整合，消除人工干预带来的误差与延迟。在此基础上，系统构建标准化数据库，支持从批次级到晶圆级的多维度缺陷分析，例如识别某一时段内边缘区域良率骤降是否与刻蚀参数漂移相关。结合WAT、CP、FT数据的交叉验证，可区分设计缺陷与制造偏差，缩短问题排查周期。SYL与SBL的自动计算与实时卡控，为关键指标设置动态防线。周期性报告一键生成并支持PPT、Excel、PDF导出，使管理层能基于一致数据源快速决策。这种从数据到行动的闭环机制，提升了生产过程的可控性与响应速度。上海伟诺信息科技有限公司以打造中国半导体软件生态为使命，持续推动YMS成为行业提质增效的基础设施。Mapping Over Ink处理严格遵循AECQ标准进行风险判定，确保车规级芯片可靠性。

为进一步提升晶圆测试（CP）阶段的产品品质与整体可靠性，半导体行业的质量管控逻辑正在迭代升级，从传统单一的电性参数检测，逐步转向电性性能与物理外观相结合的综合性评估体系。现阶段，众多芯片企业纷纷在CP测试流程中引入自动化光学检测设备AOI，针对晶圆上每一颗裸芯片（Die）表面开展高精度全自动扫描筛查，准确识别并筛除裂纹、划痕、表面污染、边缘崩缺、本体损伤等各类物理不良缺陷。该方案有效弥补了传统电性测试存在的检测盲区，行业内普遍存在电性测试合格但物理结构暗藏损伤的芯片，这类带缺陷产品在后续封装应力、长期终端服役过程中极易出现早期失效，是制约产品可靠性、引发批量质量问题的隐患。依托AOI外观筛查技术，企业可在晶圆测试阶段提前拦截所有物理缺陷芯片，从源头降低失效风险。上海伟诺信息科技打造专属AOI与Probe Mapping叠加解决方案，一方面通过双维度数据融合，彻底筛除电性不良与外观不良芯片，生成高可靠的一体化Mapping数据；另一方面具备极强设备兼容性，可将整合后的Mapping数据适配转换为TSK、TEL、UF3000等主流探针台识别格式，实现质量判定、数据输出、产线执行全流程自动化，提升晶圆测试品质与生产效率。输出结构化日志，Mapping Over Ink系统完整记录处理过程，满足质量追溯需求。天津晶圆Mapping Inkless系统

Mapping Over Ink处理通过空间分析有效识别外观损伤引起的隐性失效，提升可靠性。天津晶圆Mapping Inkless系统

Mapping Over Ink处理始于自动采集TSK、P8、EG、OPUS等设备生成的原始Mapping数据，确保源头信息完整无损。随后系统对数据进行解析整理，并与对应测试Bin精确对齐，形成统一分析基底。在此基础上，调用SPAT、DPAT、GDBN/GDBC、Cluster、UPLY、STACKED等符合AECQ标准的算法模块，对潜在失效Die进行识别与标记。通过Ink逻辑剔除风险单元，并支持将处理结果回溯为原始Probe格式，实现全流程可验证、可复现。整个流程高度自动化，减少人为干预，提升决策一致性与处理效率。上海伟诺信息科技有限公司基于多年工程经验，持续打磨这一闭环处理链路，为行业客户提供可靠的Mapping Over Ink处理系统。天津晶圆Mapping Inkless系统

上海伟诺信息科技有限公司汇集了大量的优秀人才，集企业奇思，创经济奇迹，一群有梦想有朝气的团队不断在前进的道路上开创新天地，绘画新蓝图，在上海市等地区的数码、电脑中始终保持良好的信誉，信奉着“争取每一个客户不容易，失去每一个用户很简单”的理念，市场是企业的方向，质量是企业的生命，在公司有效方针的领导下，全体上下，团结一致，共同进退，**协力把各方面工作做得更好，努力开创工作的新局面，公司的新高度，未来上海伟诺信息科技供应和您一起奔向更美好的未来，即使现在有一点小小的成绩，也不足以骄傲，过去的种种都已成为昨日我们只有总结经验，才能继续上路，让我们一起点燃新的希望，放飞新的梦想！