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EMMI 在功率器件失效定位领域拥有应用场景，MOS 管、IGBT 这类功率器件发生栅氧击穿、漏电通道形成之后，失效位置会向外释放...
EMMI 面对倒装封装芯片，光子需要向下穿过硅衬底，才可以抵达 EMMI 探测器，倒装芯片电路面向封装基板，硅衬底朝向镜头，失效发...
EMMI 在光电器件失效分析当中拥有应用，部分光电器件内部出现漏电、局部损伤，器件通电后损伤位置会产生光子，EMMI 可以捕捉这类...
EMMI 生成的图像不能单独作为失效机理的全部判断依据，EMMI 只可以标记存在光子发射的异常点位，这个点位为什么发光，属于哪一类...
EMMI 可以用来辅助区分器件是全局失效还是局部点位失效，器件通电之后，如果 EMMI 图像上只有个别孤立光斑，意味着异常发光集中...
ThermalEMMI 面对传感器芯片失效分析，像素单元漏电损伤之后，通电产生局部温升，ThermalEMMI 可以标记存在异常发...
LIT技术在失效分析中的优势在于其能够同时提供热信号的幅度信息和相位信息。幅度信息反映热源的强度，可用于判断缺陷的严重程度。相位信...
LIT技术在汽车电子领域的失效分析中发挥着作用。汽车电子器件的工作环境严苛，温度变化范围大，振动和冲击频繁。LIT技术可用于检测汽...
苏州致晟光电科技有限公司专注于高灵敏度红外检测与微弱光电信号分析技术的研发，依托南京理工大学电子工程与光电技术学院的科研优势，致力于前沿技术的自主创新。 公司产品涵盖长波非制冷锁相红外显微镜、中波制冷锁相红外显微镜、近红外微光显微镜等，该设备广泛的应用于电子集成电路和半导体器件，如先进封装、 Wafer、IGBT 、IC、MEMS、 PCB、PCBA、FPC、LED、 电容、电感等失效分析及缺陷...
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