LIT技术在电源管理芯片的失效分析中具有应用。电源管理芯片承载着电压转换和电流调节的功能，内部集成了功率晶体管和控制电路。LIT系...

EMMI 测试时样品台温度变化会带来热胀冷缩，金属样品台随温度改变发生微小形变，带动样品位置出现偏移。EMMI 长时间采集、设备腔...

ThermalEMMI 测试完成断电之后，器件会保留一部分余热，余热会持续一段时间，不能断电立刻开展下一组 ThermalEMMI...

LIT技术在消费电子产品失效分析中具有应用价值。消费电子产品体积小、集成度高，失效分析空间受限。LIT技术可不拆解产品，对整机或模...

ThermalEMMI 处理多芯片模组样品时，模组内部多颗芯片协同工作，失效可能发生在任意一颗芯片之上，ThermalEMMI 扫...