ThermalEMMI 开展案例复盘，不能只查看单张输出的 ThermalEMMI 图片，复盘需要回看全部激励条件下的 Therm...

EMMI 测试中，器件的自加热会造成 EMMI 信号随时间漂移，器件通电之后，电流流过器件会产生热量，器件温度逐步上升，半导体器件...

ThermalEMMI 测试时器件的自加热效应，会让器件整体温度随通电时间不断抬升，缺陷位置的温升幅度发生变化，在连续采集的多组 ...

EMMI 在器件可靠性摸底试验中，可以用来观察应力累积过程当中发光变化，器件逐步施加递增的电压或者电流应力，每施加一档应力，就做一...

LIT技术在消费电子产品失效分析中具有应用价值。消费电子产品体积小、集成度高，失效分析空间受限。LIT技术可不拆解产品，对整机或模...