集成PPMU与动态电流监测——赋能“每瓦特算力”优化 背景:AI芯片能效比(Performance per Watt)成为核心竞争力,尤其在数据中心“双碳”目标下。每通道集成PPMU,支持nA级静态电流与A级动态电流测量; 可捕获微秒级浪涌电流(Inrush Current)与电压塌陷(Voltage Droop); 支持FVMI/FIMV等模式,绘制功耗-性能曲线。帮助芯片设计团队优化电源完整性(PI)与低功耗策略(如电源门控),打造高能效国产AI芯片。512 Sites并行测试架构——降低量产成本,抢占市场先机。AI芯片年出货量动辄百万级,测试成本直接影响产品竞争力。512站点并行测试能力,使单颗芯片测试成本降低70%以上,测试效率呈指数级提升。为国产AI芯片大规模量产提供“超级测试流水线”,实现“测得快、卖得起、用得稳”。开放软件生态(GTFY + C++ + Visual Studio)——加速AI芯片创新迭代 背景:AI架构快速演进(如存算一体、类脑计算),需高度灵活的测试平台。开放编程环境支持自定义测试逻辑,高校与企业可快速开发新型测试方案。不仅是量产工具,更是科研创新的“开放实验台”,推动中国AI芯片从“跟随”走向“**”。国磊GT600提供测试向量转换工具,支持从传统模拟测试平台迁移测试程序,降低工程师学习成本与导入周期。常州导电阳极丝测试系统厂家供应

5G/6G通信芯片的“时序显微镜” 5G/6G基站与终端芯片对信号时序精度要求极高,微小抖动即可导致通信中断。杭州国磊GT600配备高精度TMU(时间测量单元),分辨率高达10ps(0.01纳秒),相当于光在3毫米内传播的时间,能精细捕捉高速信号边沿的微小偏移。这一能力对于验证基带芯片、射频前端、AD/DA转换器的时序一致性至关重要。杭州国磊GT600还可通过可选AWG板卡生成高保真模拟信号,测试芯片在复杂调制模式下的响应性能。其400MHz测试速率与100ps边沿精度,确保能覆盖PCIe、USB、MIPI等高速接口的协议测试需求。在通信技术快速迭代的背景下,杭州国磊GT600以“皮秒级”测量能力,为国产通信芯片的性能与稳定性提供精细验证,助力中国在6G赛道抢占先机。衡阳CAF测试系统工艺国磊GT600支持20/24bit高分辨率AWG与Digitizer板卡,可用于高精度ADC/DAC的INL、DNL、SNR、THD等参数测试。

高精度模拟测试满足车规级信号完整性要求 智能驾驶系统高度依赖毫米波雷达、摄像头、激光雷达等传感器输入,其前端模拟信号链对噪声、失真和时序精度极为敏感。杭州国磊GT600配备的GT-AWGLP02 AWG板卡具备-122dB THD与110dB SNR指标,可精细生成高质量模拟激励信号;而GT-TMUHA04时间测量单元则提供10ps分辨率与时序误差*±10ps的测量能力。这些高精度模拟与混合信号测试功能,使得GT600能够***验证AD/DA转换器、高速SerDes接口及电源管理模块在极端工况下的性能表现,确保智能驾驶SoC在真实道路环境中稳定可靠运行。
在“双碳”目标与数据中心PUE限制日益严格的背景下,AI芯片的能效比(TOPS/W)已成为核心竞争力。GT600集成高精度PPMU(每引脚参数测量单元),支持从nA级静态漏电到数安培动态电流的全范围测量,并具备微秒级瞬态响应能力,可精细捕捉电压塌陷、浪涌电流等关键电源事件。这一能力使芯片设计团队能在测试阶段绘制详细的功耗-性能曲线,优化电源门控策略、时钟门控逻辑及低功耗模式切换机制。对追求***能效的国产AI加速器而言,GT600不仅是验证工具,更是“每瓦特算力”的精算师,助力中国AI芯片在全球绿色计算浪潮中占据先机。国磊GT600测试机搭载GTFY软件系统,支持C++编程与VisualStudio开发环境,便于工程师深度定制测试逻辑。

杭州国磊(Guolei)的GT600SoC测试系统本质上是一款面向高性能系统级芯片(SoC)量产与工程验证的自动测试设备(ATE),其**能力聚焦于高精度数字、模拟及混合信号测试。虽然该设备本身并非为量子计算设计,但在当前科技融合加速发展的背景下,国磊SoC测试系统确实可以在特定环节与量子科技产生间接但重要的联系。量子芯片控制与读出电路的测试需求,目前实用化的量子处理器(如超导量子比特、硅基自旋量子比特)本身无法**工作,必须依赖大量经典控制电子学模块——包括高速任意波形发生器(AWG)、低噪声放大器、高精度数模/模数转换器(DAC/ADC)以及低温CMOS读出电路。这些**控制芯片多为定制化SoC或ASIC,需在极端条件下(如低温、低噪声)进行功能与参数验证。国磊(Guolei)GT600配备的高精度AWG板卡(THD达-122dB)、24位混合信号测试能力及GT-TMUHA04时间测量单元(10ps分辨率),恰好可用于验证这类量子控制芯片的信号保真度、时序同步性与电源完整性,从而间接支撑量子系统的稳定运行。 国磊GT600的SMU覆盖从高压IO(3.3V)到低电压he心(0.6V~1.2V)的多种电源域,适配不同节点供电要求。PCB测试系统制作
国磊GT600SoC测试机是国产低功耗芯片实现“高性能+长续航”目标的关键测试基础设施。常州导电阳极丝测试系统厂家供应
杭州国磊(Guolei)SoC测试系统(以GT600为**)虽主要面向高性能系统级芯片(SoC)的数字与混合信号测试,但凭借其高精度模拟测量、灵活电源管理、高速数字接口验证及并行测试能力,能够有效支持多种MEMS(微机电系统)。以下是其具体支持的典型MEMS应用场景:1.惯性测量单元(IMU)IMU广泛应用于智能手机、无人机、AR/VR设备及智能驾驶系统,通常集成3轴加速度计+3轴陀螺仪(6DoF)甚至磁力计(9DoF)。其配套ASIC需完成微弱电容信号调理、Σ-ΔADC转换、温度补偿和SPI/I²C通信。杭州国磊(Guolei)支持点:利用24位高精度Digitizer板卡捕获nV~μV级模拟输出;通过TMU(时间测量单元)验证陀螺仪响应延迟与带宽;使用400MHz数字通道测试高速SPI接口时序(眼图、抖动);PPMU每引脚**供电,精确测量各工作模式功耗。 常州导电阳极丝测试系统厂家供应