国产替代PCB测试系统研发

每通道PPMU：芯片健康的“精密听诊器” 。杭州国磊GT600的每通道集成PPMU（参数测量单元），是其高精度测试的**。PPMU可在FVMI（强制电压测电流）模式下，精确测量nA级静态漏电流（Iddq），相当于检测每秒流过数亿个电子的微小电流。在手机芯片测试中，这能识别因工艺缺陷导致的“待机耗电”问题，确保续航达标。在FIMV（强制电流测电压）模式下，可验证电源调整率，防止芯片在高负载下电压跌落导致死机。PPMU还支持快速哨兵测试（Quick Sentinel），在毫秒内完成所有引脚的开路/短路检测，大幅提升初筛效率。对于AI芯片，PPMU可逐核测量功耗，筛选出“能效比较好”**。这一“每引脚级”测量能力，让杭州国磊GT600成为芯片可靠性的“***守门人”。国磊GT600SoC测试机512Sites高并行测试架构，提升集成了HBM的AI/GPU芯片的测试吞吐量。国产替代PCB测试系统研发

智能汽车芯片的“安全卫士” 随着比亚迪、蔚来、小鹏等车企加速自研芯片，车规级MCU、功率半导体需求激增。这些芯片必须通过AEC-Q100等严苛认证，确保在-40℃~150℃极端环境下稳定运行十年以上。杭州国磊GT600凭借每通道PPMU，可精确测量nA级静态漏电流（Iddq），识别因制造缺陷导致的微小漏电，从源头剔除“体质虚弱”的芯片。其浮动SMU电源板卡可模拟车载12V/24V供电系统，验证电源管理单元在电压波动、负载突变下的稳定性，防止“掉电重启”或“逻辑错乱”。杭州国磊GT600还支持高温老化测试（Burn-in）接口，配合温控系统进行早期失效筛选，大幅提升车载芯片的长期可靠性。在“安全至上”的汽车电子领域，杭州国磊GT600以“微电流级检测+真实工况模拟”，为每一程出行筑起安全防线。国磊GEN测试系统厂家国磊GT600SoC测试机支持C++编程与VisualStudio开发环境，便于实现HBM协议定制化测试算法。

工业物联网的“量产引擎” 工业物联网（IIoT）设备对芯片的可靠性与成本极为敏感，且需求量大。杭州国磊GT600的512站点并行测试能力，可一次测试512颗MCU或传感器芯片，极大提升测试吞吐量，***降低单颗测试成本。据行业测算，同测数每翻一倍，测试成本可下降30%以上。杭州国磊GT600支持长时间老化测试，筛选出能在高温、高湿、强电磁干扰环境下稳定运行的“工业级”芯片。其GTFY系统支持STDF数据导出，可无缝对接工厂MES系统，实现良率分析与智能制造。杭州国磊GT600以“高效率、高可靠、低成本”的优势，为国产IIoT芯片的大规模量产提供强大引擎，助力中国智造走向全球。

杭州国磊以GT600为支点，正从区域企业成长为全国性半导体测试解决方案提供商。依托杭州“数字经济***城”的产业势能，GT600已服务于长三角多家AI芯片设计公司，并逐步向粤港澳、成渝等集成电路集群拓展。未来，随着中国AI芯片出海加速，GT600凭借高性价比与本地化服务优势，有望进入东南亚、中东等新兴市场。在乌镇互联网大会倡导“构建网络空间命运共同体”的背景下，GT600不仅是中国技术自主的象征，更是向世界输出“安全、高效、普惠”测试标准的载体，彰显中国硬科技企业的全球担当。国磊GT600可选配高精度SMU板卡，实现nA级电流测量分辨率，适用低功耗LDO、DC-DC电源管理芯片静态电流测试。

集成PPMU与动态电流监测——赋能“每瓦特算力”优化 背景：AI芯片能效比（Performance per Watt）成为核心竞争力，尤其在数据中心“双碳”目标下。每通道集成PPMU，支持nA级静态电流与A级动态电流测量； 可捕获微秒级浪涌电流（Inrush Current）与电压塌陷（Voltage Droop）； 支持FVMI/FIMV等模式，绘制功耗-性能曲线。帮助芯片设计团队优化电源完整性（PI）与低功耗策略（如电源门控），打造高能效国产AI芯片。512 Sites并行测试架构——降低量产成本，抢占市场先机。AI芯片年出货量动辄百万级，测试成本直接影响产品竞争力。512站点并行测试能力，使单颗芯片测试成本降低70%以上，测试效率呈指数级提升。为国产AI芯片大规模量产提供“超级测试流水线”，实现“测得快、卖得起、用得稳”。开放软件生态（GTFY + C++ + Visual Studio）——加速AI芯片创新迭代 背景：AI架构快速演进（如存算一体、类脑计算），需高度灵活的测试平台。开放编程环境支持自定义测试逻辑，高校与企业可快速开发新型测试方案。不仅是量产工具，更是科研创新的“开放实验台”，推动中国AI芯片从“跟随”走向“**”。国磊GT600SoC测试机通过地址/数据生成器验证片上存储器（RAM/ROM）或寄存器配置接口完成ALPG测试。高性能高阻测试系统

国磊GT600支持循环执行睡眠-唤醒测试，实时采集功耗数据并自动生成报告，提升测试效率与可重复性。国产替代PCB测试系统研发

    杭州国磊（Guolei）SoC测试系统（以GT600为**）虽主要面向高性能系统级芯片（SoC）的数字与混合信号测试，但凭借其高精度模拟测量、灵活电源管理、高速数字接口验证及并行测试能力，能够有效支持多种MEMS（微机电系统）。以下是其具体支持的典型MEMS应用场景：1.惯性测量单元（IMU）IMU广泛应用于智能手机、无人机、AR/VR设备及智能驾驶系统，通常集成3轴加速度计+3轴陀螺仪（6DoF）甚至磁力计（9DoF）。其配套ASIC需完成微弱电容信号调理、Σ-ΔADC转换、温度补偿和SPI/I²C通信。杭州国磊（Guolei）支持点：利用24位高精度Digitizer板卡捕获nV~μV级模拟输出；通过TMU（时间测量单元）验证陀螺仪响应延迟与带宽；使用400MHz数字通道测试高速SPI接口时序（眼图、抖动）；PPMU每引脚**供电，精确测量各工作模式功耗。 国产替代PCB测试系统研发