赣州CAF测试系统研发公司

医疗成像芯片 CT、MRI、内窥镜等设备的图像传感器（CIS）和图像信号处理器（ISP）对图像质量要求极高。国磊GT600可通过高速数字通道测试ISP的图像处理算法（如降噪、边缘增强），并通过AWG注入模拟图像信号，验证成像链路的完整性与色彩还原度。 4. 植入式医疗设备芯片 心脏起搏器、神经刺激器等植入设备的芯片必须**功耗、超高可靠。国磊GT600的FVMI模式可精确测量uA级静态电流，筛选出“省电体质”芯片；其支持长时间老化测试，可模拟10年以上使用寿命，确保植入后万无一失。 综上，国磊GT600以“高精度、高可靠、全功能”测试能力，为国产**医疗芯片的上市提供了坚实的质量保障。国磊GT600的128M向量存储深度，支持长时间采集模拟信号动态行为，适用于锁相环（PLL）、振荡器等测试。赣州CAF测试系统研发公司

    杭州国磊GT600SoC测试机之所以特别适用于高校科研场景，**在于其开放性、灵活性、多功能性与高性价比，完美契合高校在芯片教学、科研探索与原型验证中的独特需求。首先，高度开放的软件生态是科研创新的基础。GT600搭载GTFY软件系统，支持C++编程语言，并兼容VisualStudio等主流开发环境。这意味着高校师生无需依赖封闭的“黑盒子”软件，可自主编写、调试和优化测试程序，灵活实现各类新型芯片架构（如RISC-V、存算一体、类脑计算）的功能验证。这种开放性极大激发了学生的工程实践能力与教师的科研创造力。其次，模块化硬件架构支持多样化实验需求。GT600提供16个通用插槽，可自由混插数字、模拟（AWG/TMU）、电源（SMU/DPS）等板卡，构建从纯数字逻辑到混合信号的完整测试平台。无论是验证一颗自研MCU的GPIO功能，还是测试新型传感器接口的模拟性能，亦或是表征先进工艺下的漏电特性，GT600都能“一机多用”，避免高校重复采购多台**设备，***提升设备利用率。第三，高精度测量能力支撑前沿研究。GT600的PPMU可测nA级电流，TMU时间分辨率达10ps，适用于FinFET、GAA等先进工艺下低功耗器件的特性表征。 珠海CAF测试系统批发当电源门控开关未完全关断时被关闭模块仍会产生异常漏电。国磊GT600通过PPMU测量被门控电源域的静态电流。

低温CMOS芯片的常温预筛与参数表征。许多用于量子计算的控制芯片需在毫开尔文温度下工作，但其制造仍基于标准CMOS工艺。在封装并送入稀释制冷机前，必须通过常温下的严格电性测试进行预筛选。国磊（Guolei）GT600支持每引脚PPMU（参数测量单元）和可编程浮动电源（-2.5V~7V），能精确测量微弱电流、漏电及阈值电压漂移等关键参数，有效剔除早期失效器件，避免昂贵的低温测试资源浪费。量子测控SoC的量产验证平台 随着量子计算机向百比特以上规模演进，集成化“量子测控SoC”成为趋势（如Intel的Horse Ridge芯片）。这类芯片集成了多通道微波信号调制、频率合成、反馈控制等功能，结构复杂度接近**AI或通信SoC。GT600的512~2048通道并行测试能力、128M向量深度及400MHz测试速率，完全可满足此类**SoC在工程验证与小批量量产阶段的功能覆盖与性能分bin需求。

在量子科研机构或企业构建本土化测控生态时，采用国产测试平台可降低技术封锁风险，加速从实验室原型到工程化产品的转化。虽然国磊（Guolei）GT600并非直接用于测量量子态或操控量子比特，但作为支撑量子系统“经典侧”电子学的**测试基础设施，它在量子芯片外围电路验证、控制SoC量产、供应链安全等方面具有不可替代的价值。未来，随着“量子-经典混合系统”复杂度提升，高性能SoC测试设备与量子科技的耦合将更加紧密。因此，杭州国磊（Guolei）的SoC测试系统不仅是半导体产业的利器，也正在成为量子科技产业化进程中的一块关键拼图。国磊GT600在400MHz速率下测试SerDes、GPIO、I2C、SPI、UART等接口的通信功能完成高速接口功能验证。

现代AI芯片集成度极高，动辄拥有上千引脚，传统测试设备因通道数量不足，往往需分时复用或多轮测试，不仅效率低下，还可能遗漏关键时序问题。杭州国磊GT600比较高支持2048个数字通道，可一次性完成全引脚并行测试，确保高速数据总线、多核NPU互连、HBM内存接口等复杂结构的功能完整性与时序一致性。这一能力对寒武纪、壁仞、燧原等国产AI芯片企业尤为重要。在大模型训练芯片追求***带宽与低延迟的***，GT600的高通道密度成为验证真实工作负载下系统稳定性的关键工具，大幅缩短芯片从流片到量产的周期，助力国产AI算力快速落地数据中心与边缘场景。国磊GT600测试系统只需通过“配置升级”和“方案打包”，就能快速适配Chiplet的复杂测试需求。湘潭PCB测试系统精选厂家

国磊GT600支持电压/电流源同步扫描功能，可用于BGR（带隙基准）温度特性与电源抑制比（PSRR）自动化测试。赣州CAF测试系统研发公司

支撑国产芯片全流程自主验证 从设计到量产，芯片必须经过严格的功能与参数测试。若测试设备受制于人，不仅存在数据安全风险（如测试程序、芯片特性被第三方获取），还可能因设备兼容性问题拖慢研发节奏。国磊（Guolei）GT600采用开放式GTFY软件架构，支持C++编程、自定义测试流程，并兼容STDF、CSV等标准格式，使国产CPU、GPU、AI加速器、车规MCU等关键芯片可在完全自主可控的平台上完成工程验证与量产测试，确保“设计—制造—测试”全链条安全闭环。加速国产芯片生态成熟与迭代 供应链安全不仅在于“有无”，更在于“效率”与“响应速度”。国磊作为本土企业，可提供快速的技术支持、定制化开发和本地化服务。例如，某智能驾驶芯片厂商在流片后发现高速接口时序异常，国磊工程师可在48小时内协同优化TMU测试程序，而依赖国外设备则可能需数周等待远程支持。这种敏捷响应能力极大缩短了国产芯片的调试周期，加速产品上市，提升整个生态的竞争力与韧性。赣州CAF测试系统研发公司