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MIR绝缘电阻测试系统

来源: 发布时间:2025年12月15日

灵活的板卡配置适配多样化智能驾驶芯片架构 当前智能驾驶SoC厂商采用异构计算架构,不同厂商在I/O电压、功耗、接口协议等方面存在***差异。杭州国磊GT600提供16个通用插槽,支持数字、模拟及混合信号板卡任意组合,并兼容多种VI浮动电源板卡(如GT-DPSMV08支持-2.5V~7V、1A输出)。这种高度模块化的设计使测试平台能快速适配英伟达Orin、地平线征程、黑芝麻华山等不同架构芯片的测试需求,无需为每款芯片重新开发整套测试硬件,***提升测试系统的复用率与投资回报率。国磊GT600可使用AWG生成模拟输入信号,Digitizer捕获输出,计算INL、DNL、SNR、THD等指标。MIR绝缘电阻测试系统

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    杭州国磊(Guolei)的GT600SoC测试系统本质上是一款面向高性能系统级芯片(SoC)量产与工程验证的自动测试设备(ATE),其**能力聚焦于高精度数字、模拟及混合信号测试。虽然该设备本身并非为量子计算设计,但在当前科技融合加速发展的背景下,杭州国磊(Guolei)SoC测试系统确实可以在特定环节与量子科技产生间接但重要的联系。量子芯片控制与读出电路的测试需求目前实用化的量子处理器(如超导量子比特、硅基自旋量子比特)本身无法**工作,必须依赖大量经典控制电子学模块——包括高速任意波形发生器(AWG)、低噪声放大器、高精度数模/模数转换器(DAC/ADC)以及低温CMOS读出电路。这些**控制芯片多为定制化SoC或ASIC,需在极端条件下(如低温、低噪声)进行功能与参数验证。GT600配备的高精度AWG板卡(THD达-122dB)、24位混合信号测试能力及GT-TMUHA04时间测量单元(10ps分辨率),恰好可用于验证这类量子控制芯片的信号保真度、时序同步性与电源完整性,从而间接支撑量子系统的稳定运行。 长沙GEN测试系统定制现代低功耗SoC普遍采用动态电压频率调节以平衡性能与能耗。国磊GT600可通过使用SMU动态切换供电电压。

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国磊(Guolei)SoC测试系统,特别是其GT600高性能测试平台,在当前全球半导体产业链高度竞争与地缘***风险加剧的背景下,对保障中国半导体及**制造领域的供应链安全具有战略意义。打破**ATE设备进口依赖 自动测试设备(ATE)是芯片制造后道工序的**装备,长期被美国泰瑞达(Teradyne)、日本爱德万(Advantest)等国际巨头垄断,尤其在高性能SoC、AI芯片、车规芯片测试领域,国产设备几乎空白。国磊GT600实现了400MHz测试速率、2048通道扩展、高精度AWG/TMU等关键技术指标的突破,具备替代进口设备的能力。这***降低了国内晶圆厂、封测厂和芯片设计公司在**测试环节对国外设备的依赖,避免因出口管制、断供或技术封锁导致产线停摆。

杭州国磊GT600提供高达128M的向量存储深度,相当于可存储1.28亿个测试步骤,这是保障复杂芯片测试完整性的关键。现代SoC的测试程序极为庞大,如AI芯片运行ResNet-50模型推理、手机SoC执行多任务调度、通信芯片处理完整5G协议栈,这些测试序列动辄数百万甚至上千万向量。若向量深度不足,测试机需频繁从硬盘加载数据,导致测试中断、效率骤降。杭州国磊GT600的128M深度可将整个测试程序一次性载入内存,实现“全速连续运行”,避免性能瓶颈。在工程调试阶段,长向量也便于复现偶发性失效。对于需要长时间稳定性测试的车规芯片,128M空间可容纳老化测试的完整循环序列。这一参数确保杭州国磊GT600能应对未来更复杂的芯片验证需求。国磊GT600SoC测试机可通过配置相应板卡和开发测试程序实现SoC全测试。

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支撑国产芯片全流程自主验证 从设计到量产,芯片必须经过严格的功能与参数测试。若测试设备受制于人,不仅存在数据安全风险(如测试程序、芯片特性被第三方获取),还可能因设备兼容性问题拖慢研发节奏。国磊(Guolei)GT600采用开放式GTFY软件架构,支持C++编程、自定义测试流程,并兼容STDF、CSV等标准格式,使国产CPU、GPU、AI加速器、车规MCU等关键芯片可在完全自主可控的平台上完成工程验证与量产测试,确保“设计—制造—测试”全链条安全闭环。加速国产芯片生态成熟与迭代 供应链安全不仅在于“有无”,更在于“效率”与“响应速度”。国磊作为本土企业,可提供快速的技术支持、定制化开发和本地化服务。例如,某智能驾驶芯片厂商在流片后发现高速接口时序异常,国磊工程师可在48小时内协同优化TMU测试程序,而依赖国外设备则可能需数周等待远程支持。这种敏捷响应能力极大缩短了国产芯片的调试周期,加速产品上市,提升整个生态的竞争力与韧性。国磊GT600SoC测试机512Sites高并行测试架构,提升集成了HBM的AI/GPU芯片的测试吞吐量。苏州PCB测试系统市场价格

国磊GT600每通道集成PPMU,支持nA级电流分辨率,可精确测量SoC在睡眠、深度睡眠(或关断模式下静态漏电流。MIR绝缘电阻测试系统

AI大模型芯片的“算力守门人” 在AI大模型驱动算力**的***,国产AI芯片(如寒武纪、壁仞)正加速替代英伟达GPU。然而,这些芯片内部集成了数千个AI**与高速互联总线,其功能复杂度与功耗控制要求极高。杭州国磊GT600 SoC测试机凭借400MHz测试速率与128M向量深度,可完整运行复杂的AI推理算法测试向量,验证NPU在真实负载下的计算精度与吞吐能力。其高精度PPMU能精确测量芯片在待机、轻载、满载等多场景下的动态电流,确保“每瓦特算力”达标。同时,杭州国磊GT600支持512站点并行测试,大幅提升量产效率,降低单颗芯片测试成本,为AI芯片大规模部署数据中心提供坚实支撑。可以说,杭州国磊GT600不仅是AI芯片的“质检员”,更是其从实验室走向万卡集群的“量产加速器”。MIR绝缘电阻测试系统

标签: 板卡 测试系统