可穿戴设备的“微功耗**” AI眼镜、智能手表等可穿戴设备依赖电池供电,对SoC功耗极其敏感。一颗芯片若待机漏电超标,可能导致设备“一天三充”。杭州国磊GT600的PPMU可精确测量nA级静态电流(Iddq),相当于每秒流过数亿个电子的微小电流,能识别芯片内部的“隐形漏电点”。通过FVMI模式,杭州国磊GT600可在不同电压下测试芯片功耗,验证其电源门控(Power Gating)与休眠唤醒机制是否有效。其高精度测量能力确保只有“省电体质”的芯片进入量产。同时,杭州国磊GT600支持混合信号测试,可验证传感器融合、语音唤醒等低功耗功能。在追求“轻薄长续航”的可穿戴市场,杭州国磊GT600以“微电流级”检测能力,为国产芯片的用户体验提供底层保障。我们的系统能有效评估绝缘材料在电场下的性能变化。江苏绝缘电阻测试系统

AI芯片市场竞争激烈,测试成本直接影响产品定价与市场渗透率。GT600支持高达512 Sites的并行测试能力,意味着单次测试可同时验证数百颗芯片,将单位测试时间压缩至传统设备的1/10以下。结合其高稳定性与自动化软件平台,整体测试成本可降低70%以上。这一优势对年出货量达百万级的边缘AI芯片、智能摄像头主控、机器人控制器等产品尤为关键。杭州国磊通过GT600构建的“超级测试流水线”,不仅提升了国产芯片的量产效率,更增强了中国AI硬件在全球市场的价格竞争力,真正实现“测得起、卖得快、走得远”。衡阳PCB测试系统按需定制若测得电流明显高于设计规格,即判定为漏电异常。结合高温测试,国磊GT600可放大漏电效应提升缺陷检出率。

传统测试设备面向通用CPU/GPU设计,难以应对AI芯片特有的稀疏计算、张量**、片上互联等新架构。GT600针对此类需求优化了测试向量调度机制与并行激励生成能力,支持对非规则数据流、动态稀疏***、混合精度运算的专项验证。其灵活的时钟域管理还可模拟多频异构系统的工作状态。这种“为AI而生”的设计理念,使GT600不仅兼容现有芯片,更能前瞻性支持下一代AI硬件创新。在杭州打造“中国算力之城”的进程中,GT600正推动测试从“功能检查”向“场景仿真”演进,**国产测试技术范式升级。
灵活的板卡配置适配多样化智能驾驶芯片架构 当前智能驾驶SoC厂商采用异构计算架构,不同厂商在I/O电压、功耗、接口协议等方面存在***差异。杭州国磊GT600提供16个通用插槽,支持数字、模拟及混合信号板卡任意组合,并兼容多种VI浮动电源板卡(如GT-DPSMV08支持-2.5V~7V、1A输出)。这种高度模块化的设计使测试平台能快速适配英伟达Orin、地平线征程、黑芝麻华山等不同架构芯片的测试需求,无需为每款芯片重新开发整套测试硬件,***提升测试系统的复用率与投资回报率。国磊GT600SoC测试机高密度集成设计降低系统体积与功耗,适配高通道数HBM测试的紧凑型测试台架部署。

在量子科研机构或企业构建本土化测控生态时,采用国产测试平台可降低技术封锁风险,加速从实验室原型到工程化产品的转化。虽然国磊(Guolei)GT600并非直接用于测量量子态或操控量子比特,但作为支撑量子系统“经典侧”电子学的**测试基础设施,它在量子芯片外围电路验证、控制SoC量产、供应链安全等方面具有不可替代的价值。未来,随着“量子-经典混合系统”复杂度提升,高性能SoC测试设备与量子科技的耦合将更加紧密。因此,杭州国磊(Guolei)的SoC测试系统不仅是半导体产业的利器,也正在成为量子科技产业化进程中的一块关键拼图。现代低功耗SoC普遍采用动态电压频率调节以平衡性能与能耗。国磊GT600可通过使用SMU动态切换供电电压。湘潭CAF测试系统研发
国磊GT600支持可配高精度浮动SMU板卡,可在-2.5V至7V范围内施加电压,并监测各电源域的动态与静态电流。江苏绝缘电阻测试系统
支持复杂测试向量导入,加速算法验证闭环 智能驾驶芯片的**价值在于其内置的AI推理引擎能否准确执行感知与决策算法。杭州国磊GT600支持从其他测试平台导入测试程序与向量,并兼容STDF、CSV、Excel等多种数据格式,便于将仿真环境中的算法测试用例直接转化为ATE(自动测试设备)可执行的测试向量。例如,可在GT600上加载真实道路场景下的图像识别或目标检测激励序列,验证NPU在极限负载下的响应正确性与时延表现,从而构建“算法—芯片—测试”一体化验证闭环。江苏绝缘电阻测试系统