GM8800CAF测试系统支持1-9999小时持续测试(约416天),搭载三级UPS断电保护(30/60/120分钟可选)。在-55℃~125℃极端温度循环中,系统维持10¹³-10¹⁴Ω区间±8%测量精度。256通道同步监测能力可捕捉<15ms的微秒级短路脉冲,配合时间戳(采样/运行/总时长三维记录),完整还原卫星载荷PCB的CAF失效轨迹。行业认证测试表明:在75%RH高湿环境下,系统对离子迁移行为的预警准确率达99.2%,已经达到国际先进水平,技术上实现国产替代。国磊GT600利用高精度边沿(100ps)和TMU测量时序窗口进行时序与动态性能测试,建立/保持时间测试。无锡CAF测试系统研发

当前,AI大模型与高性能计算正以前所未有的速度推动HBM(高带宽存储器)技术爆发式增长。HBM3、HBM3E成为英伟达、AMD、华为等巨头AI芯片的标配,全球需求激增,市场缺口持续扩大。然而,HBM不**改变了芯片架构,更对后端测试提出了前所未有的挑战——高引脚数、高速接口、复杂时序与电源完整性要求,使得传统测试设备难以胜任。国磊GT600测试机应势而生,专为应对HBM时代**SoC测试难题而设计。它不是直接测试HBM芯片,而是**服务于“集成了HBM的AI/GPU芯片”的功能验证与量产测试,成为国产**ATE在HBM浪潮中的关键支撑力量,助力中国芯突破“内存墙”背后的“测试墙”。无锡CAF测试系统研发国磊GT600SoC测试机是国产低功耗芯片实现“高性能+长续航”目标的关键测试基础设施。

GM8800CAF测试系统通过3000V外置高压模拟电池过充状态,实时监测0.1μA~500μA漏电流(8次/秒·通道)。当隔膜绝缘电阻降至10⁸Ω(精度±3%)时触发多级报警,预防热失控。在双85环境(85℃/85%RH)下进行1000小时加速测试,精确量化电解液浸润后的材料劣化曲线:1、10¹⁰Ω阈值点对应0.05mm级隔膜缺陷。2、电阻变化率>10⁴Ω/s时自动生成失效报告(测试数据直接对接UL2580认证模板,缩短电池包准入周期50%)。这套系统不仅可以为企业节约采购成本,而且由固定资产摇身一变成为企业利润中心。
针对2.5D/3D封装底部填充胶,在100V偏压与85%RH条件下执行CAF测试。GM8800系统突破性实现10¹⁴Ω超高阻测量(精度±10%),可检测0.01%吸湿率导致的绝缘衰减:1、空间定位:电阻突变频谱分析功能,定位封装内部±0.5mm级CAF生长点。2、过程监控:1~600分钟可调间隔捕捉阻值从10⁶Ω到10¹³Ω跃迁曲线。3、热管理:温度传感器同步记录固化放热反应,优化回流焊参数实测数据表明,该方案使FCBGA封装良率提升22%,年节省质损成本超800万元。国磊半导体,推动测试技术的进步与创新。

杭州国磊半导体设备有限公司GM8800多通道绝缘电阻测试系统是专为应对复杂电化学迁移现象而研制的高精度分析仪器。该系统以16通道为基本单元,可灵活扩展至256通道,实现大规模并行测试,***提升测试效率,其电阻测量范围宽至10^4~10^14Ω,测量精度根据区间不同控制在±3%至±10%的高水准。GM8800支持0V~±100V内置精密电压源与1V~3000V外置偏置电压的无缝切换,步进电压可精细至0.01V,并具备100V/2ms的快速电压爬升能力,能够精确模拟各种实际工作电压应力,有效加速绝缘材料的劣化过程以便于观察CAF效应。系统数据采集功能***,实时记录采样时间、运行时间、电阻值、电流值、施加电压、环境温度与湿度,并通过功能强大的软件平台进行数据处理与趋势分析,用户还可通过远程监控功能实时掌握测试状态。相比进口品牌如英国GEN3,GM8800在提供同等甚至更优测试性能的同时,凭借其更低的购置成本、更快的售后响应速度以及深度定制化能力,完美契合国内PCB板厂、半导体封装厂、学术研究机构及第三方检测实验室对高性能、高性价比CAF测试设备的迫切需求,是国产**测试装备实现进口替代的典范之作。导电阳极丝(CAF)现象是导致电路失效的重要原因之一。无锡CAF测试系统研发
国磊GT600SoC测试机高精度浮动SMU板卡可实现HBM接口电源域的电压裕量(VoltageMargining)与功耗测试。无锡CAF测试系统研发
国产手机自研芯片体系——包括手机SoC(如麒麟系列)、服务器芯片(如鲲鹏)、AI加速芯片(如昇腾Ascend)——不仅是产品竞争力的**,更是中国半导体自主可控的战略支点。这些芯片高度集成、性能***、功耗敏感,对测试设备的全面性、精度、效率和灵活性提出前所未有的挑战。国磊GT600SoC测试机,正是为这类**国产芯片量身打造的“全能考官”。国磊GT600不仅能验证手机SoC的CPU/GPU的基础逻辑功能,更能通过可选配的AWG(任意波形发生器),模拟真实世界的模拟信号,精细测试ISP图像处理单元对摄像头输入信号的响应质量,确保拍照清晰、色彩准确;通过高精度TMU(时间测量单元,精度达10ps),验证5G基带芯片的信号时序与抖动,保障通信稳定低延迟;通过每通道PPMU,检测NPU在待机与高负载下的微小漏电流,确保AI算力强劲的同时功耗可控。 无锡CAF测试系统研发