GT600每通道集成PPMU,具备nA级电流分辨率。在电源门控测试中,将PPMU连接至被门控模块的电源引脚(VDD)或地引脚(VSS),在门控信号(PG_EN)关闭后,测量该模块的静态电流(IDDQ)。若电流**高于设计预期(如>1μA),则表明存在异常漏电,可能由工艺缺陷或电源开关未完全关断导致。GT600支持多路**SMU/PPMU,可同时监测主电源域与被门控电源域的电流。测试时,保持主逻辑供电,关闭目标模块的电源门控信号,通过对比门控前后该域电流的变化,精确提取**由门控网络控制的漏电成分,排除其他模块干扰。GT600支持电压扫描(VoltageSweeping)和温控联动(通过探针台接口),可在高温(如125°C)和高电压条件下进行测试,放大漏电效应,提升缺陷检出率。例如,在VDD=1.2V、125°C下测量关断电流,可暴露常温下难以发现的微小漏电。通过GTFY软件系统编写C++脚本,可自动化执行:施加正常工作电压;发送指令进入低功耗模式并触发电源门控;延时稳定(如10ms);启动PPMU进行电流采样;重复多次以验证一致性。该流程确保测试可重复,并能捕捉间歇性漏电。国磊GT600测试机可有效支持90nm、65nm、40nm、28nm、14nm、12nm、7nm等主流CMOS工艺节点的电源门控测试。高性能PCB测试系统厂家供应

杭州国磊半导体设备有限公司GM8800多通道绝缘电阻测试系统是专为电子制造业可靠性验证而打造的精良工具。该系统支持16至256个通道的灵活配置,实现大规模样品并行加速测试,其电阻检测能力覆盖10^4~10^14Ω,测量精度严格控制,能够满足国际标准如IPC-TM-650 2.6.25对CAF测试的严苛要求。GM8800提供精确可编程的电压输出,内置±100V精密电源,外接偏置电压比较高3000V,电压控制精度高,切换速度快,且测试电压稳定时间可根据材料特性在1~600秒间精确设置。系统集成高精度电流传感和环境温湿度监测,实时采集所有关键参数,并通过完全屏蔽的低噪声测量架构保障数据真实性。配套软件功能强大,提供自动化测试流程、数据可视化、趋势分析、报警设置、报告生成及远程控制功能。在系统可靠性方面,设计了***的硬件与软件报警机制和UPS断电保护选项。相较于英国GEN3等进口品牌,GM8800在**测试性能上达到同等***水平,同时拥有更优的通道经济性、更低的综合持有成本和更迅捷的本土技术服务,已成为国内**的PCB厂商、半导体封装厂、新能源车企及科研机构进行绝缘材料研究、工艺评价和质量控制的信赖之选,助力中国智造迈向高可靠性时代。浙江CAF测试系统现货直发国磊GT600为采用先进工艺、集成多电源域、支持复杂低功耗策略的SoC提供了从研发验证到量产测试的全程支持。

AI眼镜作为下一代智能终端,集成了**头、语音交互、AR显示与边缘AI计算功能,其**是一颗高集成度的SoC芯片。这颗芯片需在极低功耗下运行大模型推理、图像处理与传感器融合,对性能与可靠性提出***要求。国磊GT600等SoC测试机正是确保这类芯片“万无一失”的关键。首先,AI眼镜的SoC包含CPU、NPU、ISP、蓝牙/WiFi基带等多种模块,属于典型混合信号芯片。国磊GT600凭借可选配的AWG和TMU,能同时验证数字逻辑与模拟电路,确保摄像头图像清晰、无线连接稳定、语音响应及时。其次,AI眼镜依赖电池供电,功耗控制极为敏感。国磊GT600的PPMU可精确检测芯片的静态漏电流(Iddq)和动态功耗,筛选出“省电体质”的芯片,直接决定眼镜的续航能力。再者,AI眼镜需7x24小时佩戴使用,可靠性至关重要。国磊GT600通过高温老化测试、高速功能验证,提前发现潜在缺陷,避免用户端出现死机、发热等问题。AI眼镜量产规模大,成本敏感。国磊GT600支持512站点并行测试,大幅提升效率,降低单颗芯片测试成本,助力产品上市。可以说,国磊GT600不仅可以做AI眼镜SoC的“体检官”,更能做其性能、续航与可靠性的“守门人”。在轻巧镜架之下,正是这样严苛的测试,让“智能随行”真正成为可能。
国际数据公司(IDC)预测的人工智能服务器市场高速增长(2024年1251亿美元→2028年2227亿美元),本质上是高算力芯片(GPU、ASIC)在功耗、密度与可靠性层面极限挑战的集中体现。每一块AI加速卡背后,都是数百瓦功耗、数千电源引脚、多级电压域、复杂电源门控与瞬态电流管理的设计博弈。而这些,正是国磊GT600SoC测试机凭借其高精度电源与功耗验证能力,**切入并把握产业机遇的技术支点。AI芯片普遍采用7nm/5nm等先进工艺,静态漏电(Leakage)随工艺微缩呈指数增长。国磊GT600通过每通道PPMU,支持nA级静态电流测量,可**识别G**SIC在待机、休眠模式下的异常漏电,确保电源门控(PowerGating)机制有效,避免“隐形功耗”拖累整机能效。其高精度浮动SMU板卡支持-2.5V~7V宽电压输出,可**控制AI芯片的Core、Memory、I/O等多电源域,验证上电时序(PowerSequencing)与电压裕量(VoltageMargining),防止因电源顺序错误导致的闩锁或功能失效。坚持创新,持续为客户创造价值是我们的价值观。

杭州国磊半导体设备有限公司推出的GM8800导电阳极丝(CAF)测试系统,是一款专为高精度绝缘电阻与电化学迁移测试设计的**国产设备。该系统支持16至256通道灵活配置,可同时对多达256个分立测量点进行实时监测,电阻测量范围覆盖10^6Ω至10^14Ω,测量精度在10^10Ω以下可达±3%,展现出优异的测试一致性。GM8800具备1.0V至3000V的宽电压测试能力,内置0V~±100V电源,外接偏置电压可达3000V,支持步进电压精细调节,电压精度在100VDC内达±0.05V,超出100VDC则为±0.5V,电压上升速率高达100V/2ms,系统还集成多类报警功能,包括低阻、温湿度异常、电压超限、AC断电及软件异常等,保障测试过程的安全与稳定。相比进口品牌如英国GEN3,GM8800在通道扩展性、电压范围和成本控制方面表现更优,尤其适合PCB、绝缘材料、焊接工艺及新能源汽车电子等领域的高阻测试需求,是国内厂商实现国产替代的理想选择。国磊GT600测试机搭载GTFY软件系统,支持C++编程与VisualStudio开发环境,便于工程师深度定制测试逻辑。高阻测试系统
国磊GT600通过可扩展的硬件架构、高精度模拟测量能力和开放软件平台,为各高jiSoC提供定制测试方案。高性能PCB测试系统厂家供应
杭州国磊半导体设备有限公司推出的GM8800导电阳极丝(CAF)测试系统,是国产设备在**绝缘可靠性测试领域挑战国际品牌的**之作。该系统具备业界**的多通道测试能力,可扩展至256个**通道,支持对PCB板、半导体封装体、绝缘材料等进行大规模并行加速寿命测试,其电阻测量范围覆盖10^6~10^14Ω,精度可靠,能有效鉴定因离子迁移导致的绝缘失效。GM8800提供从1.0V到3000V的宽范围偏置电压,内置精密电源精度达±0.05V(100VDC内),外接高压稳定,电压上升速率快,并允许用户自定义测试电压的稳定时间(1~600秒),以满足不同标准的预处理要求。系统集成高精度电流检测(0.1μA~500μA)和温湿度传感器,数据采集***,并通过完全屏蔽的低噪声测量线缆保障信号质量。配套软件功能强大,提供自动化测试流程、实时数据可视化、趋势分析、报警管理和报告生成,并支持远程访问。在系统保护方面,具备***的硬件与软件报警机制和断电续航选项。与英国进口GEN3系统相比,GM8800在**功能与性能上实现***对标,更在通道数量、购置成本、维护费用以及定制化服务响应速度上占据明显优势,正成为国内**制造业替代进口、实现自主可控的优先测试平台。高性能PCB测试系统厂家供应