杭州国磊半导体设备有限公司依据市场需求开发出GM8800多通道绝缘电阻/导电阳极丝(CAF)测试系统。该系统以其***的256通道并行测试能力、高达10^14Ω的电阻测量上限、1V至3000V的宽范围可编程偏置电压以及优于±3%~±10%的测量精度,树立了国产高阻测试设备的新**。GM8800的设计充分考虑了实际应用的多样性与复杂性,提供1~600分钟可自由设定的测试间隔、长达9999小时的持续测试能力、***的故障报警机制(涵盖低阻、停机、温湿度、电压越限、AC断电、软件异常等)以及30/60/120分钟可选的UPS断电保护,确保无人值守长期测试的可靠性与数据完整性。其配套软件功能强大,不仅实现多参数实时采集与显示,更具备深度数据分析和远程监控能力,支持用户通过网络进行跨平台访问与控制。相较于国际**品牌如英国GEN3的同类产品,GM8800在保持同等甚至更优技术指标的同时,提供了极具市场竞争力的价格和快速响应的本土化技术支持与服务,极大地降低了用户的购置成本和运维门槛,广泛应用于集成电路封装、PCB制造、新能源车辆电控系统、储能设备绝缘评估、**消费电子以及医疗电子等领域,是助力中国企业提升产品质量、实现供应链安全与国产化替代的战略性装备。高精度电压输出与测量,确保测试结果的准确性。福州导电阳极丝测试系统定制价格

GT600每通道集成PPMU,支持nA级电流分辨率,可精确测量被电源门控关闭的模块在“关断状态”下的漏电流。通过对比门控开启与关闭时的电流差异,评估电源开关的隔离能力,确保未**模块不会产生异常功耗。2.GT600支持可选配高精度浮动SMU板卡,可为SoC的不同电源域提供**的电压施加与电流监测。在电源门控测试中,可通过SMU分别控制主电源与门控电源的开启/关闭时序,验证电源域之间的依赖关系与上电顺序,防止闩锁或电压倒灌。3.GT600配备GT-TMUHA04时间测量单元,提供10ps时间分辨率,用于测量从门控信号有效到目标模块恢复供电的时间、模块唤醒后功能恢复的响应延迟、确保电源门控机制在满足低功耗要求的同时,不影响系统实时性。4.通过GTFY软件系统与C++编程,工程师可编写脚本实现循环执行“上电→功能测试→门控关断→延时→唤醒”流程;扫描不同关断时长对唤醒成功率的影响;监测多次开关操作后的电流一致性,评估可靠性。5.GT600支持高采样率的动态电流监测,可捕获电源门控开启瞬间的浪涌电流,避免因瞬时电流过大导致电压塌陷或系统复位。结合Digitizer功能,记录电压/电流波形,用于分析电源稳定性与去耦电容设计有效性。浙江高阻测试系统**适用于PCB、电子组件绝缘性能评估与品质管控。

“风华3号”的推出标志着国产全功能GPU在大模型训练、科学计算与重度渲染领域实现从0到1的突破。其集成RISC-VCPU与CUDA兼容GPU架构,支持PyTorch、CUDA、Triton等主流AI生态,对芯片功能复杂度、接口带宽与时序精度提出了极高要求。此类高性能GPU通常具备数千个逻辑引脚、多电源域、高速SerDes接口及复杂状态机,传统测试设备难以完成**验证。国磊GT600测试机支持**2048个数字通道与400MHz测试速率,可完整覆盖“风华3号”类GPU的高引脚数、高速功能测试需求。其32/64/128M向量存储深度支持复杂计算指令序列的Pattern加载,确保GPU**、NPU单元及RISC-V子系统的功能正确性。
现代手机SoC是高度集成的“微型超级计算机”,一颗芯片内融合了CPU(**处理器)、GPU(图形处理器)、NPU(神经网络引擎)、ISP(图像信号处理器)、基带(5G/4G通信模块)、内存控制器、电源管理单元等数十个功能模块,协同完成从AI计算、高清拍照到高速联网的复杂任务。这对测试设备提出了“全能型”要求。国磊GT600凭借512个高速数字通道,可并行激励与捕获CPU/GPU的逻辑响应,验证运算正确性;通过可选配AWG(任意波形发生器)板卡,可生成高保真模拟图像信号,精细测试ISP对色彩、噪声、动态范围的处理能力;再结合高精度TMU(时间测量单元,分辨率10ps),可精确捕捉基带芯片收发信号的时间抖动与延迟,确保5G通信的稳定性和低时延。16个通用插槽支持灵活配置,让国磊GT600能像“变形金刚”一样,针对不同模块组合比较好测试方案,真正实现“一机通测”,***保障国产**SoC的功能完整性与性能可靠性。支持远程监控,让您随时随地掌握测试进程。

针对2.5D/3D封装底部填充胶,在100V偏压与85%RH条件下执行CAF测试。GM8800系统突破性实现10¹⁴Ω超高阻测量(精度±10%),可检测0.01%吸湿率导致的绝缘衰减:1、空间定位:电阻突变频谱分析功能,定位封装内部±0.5mm级CAF生长点。2、过程监控:1~600分钟可调间隔捕捉阻值从10⁶Ω到10¹³Ω跃迁曲线。3、热管理:温度传感器同步记录固化放热反应,优化回流焊参数实测数据表明,该方案使FCBGA封装良率提升22%,年节省质损成本超800万元。国磊GT600可使用AWG生成模拟输入信号,Digitizer捕获输出,计算INL、DNL、SNR、THD等指标。浙江高阻测试系统
国磊GT600SoC测试机通过加载Pattern,验证SoC逻辑(如CPU、NPU、DSP)的功能正确性与逻辑测试及向量测试。福州导电阳极丝测试系统定制价格
面对国产手机芯片动辄数千万乃至上亿颗的年出货量,传统“单颗或小批量测试”模式早已无法满足产能与成本需求。国磊GT600凭借512站点并行测试能力,开创“集体考试”新模式——512颗芯片同步上电、同步输入测试向量、同步采集响应、同步判定Pass/Fail,测试效率呈指数级提升。这不仅将单位时间产出提高数十倍,更大幅缩短新品从试产到大规模铺货的周期,抢占市场先机。更重要的是,测试成本(CostofTest)是芯片总成本的重要组成部分。据半导体行业经验数据,同测数(ParallelTestSites)每翻一倍,单颗芯片测试成本可下降30%~40%。国磊GT600的512站点能力,相较传统32或64站点设备,成本降幅可达70%以上,为国产手机SoC在激烈市场竞争中赢得价格优势。国磊GT600以“高速(400MHz)+高密度(512通道)+高并行(512Sites)”三位一体架构,构建起支撑国产**芯片量产的“超级测试流水线”,可以让中国芯不仅“造得出”,更能“测得快、卖得起、用得稳”。福州导电阳极丝测试系统定制价格