光刻是集成电路和半导体器件制造工艺中的关键性技术,其工艺质量直接影响器件成品率、可靠性、器件性能以及使用寿命等参数指标的稳定和提高,就目前光刻工艺而言,工艺设备的稳定性、工艺材料以及人工参与的影响等都会对后续器件成品率及可靠性产生影响。利用光刻机发出的光通过具有图形的光罩对涂有光刻胶的薄片曝光,光刻胶见光后会发生性质变化,从而使光罩上得图形复印到薄片上,从而使薄片具有电子线路图的作用。这就是光刻的作用,类似照相机照相。照相机拍摄的照片是印在底片上,而光刻刻的不是照片,而是电路图和其他电子元件。简单点来说,光刻机就是放大的单反,光刻机就是将光罩上的设计好集成电路图形通过光线的曝光印到光感材料上,形成图形。DNQ-酚醛光刻胶是一种常见的I线光刻胶。黑龙江激光直写光刻
光刻后的处理工艺是影响图案分辨率的重要因素。通过精细的后处理工艺,可以进一步提高光刻图案的质量和分辨率。首先,需要进行显影处理。显影是将光刻胶上未曝光的部分去除的过程。通过优化显影条件,如显影液的温度、浓度和显影时间等,可以进一步提高图案的清晰度和分辨率。其次,需要进行刻蚀处理。刻蚀是将硅片上未受光刻胶保护的部分去除的过程。通过优化刻蚀条件,如刻蚀液的种类、浓度和刻蚀时间等,可以进一步提高图案的精度和一致性。然后,还需要进行清洗和干燥处理。清洗可以去除硅片上残留的光刻胶和刻蚀液等杂质,而干燥则可以防止硅片在后续工艺中受潮或污染。通过精细的清洗和干燥处理,可以进一步提高光刻图案的质量和稳定性。吉林光刻实验室光刻胶用原材料更偏向于客制化产品。
现有光刻主要利用的是光刻胶中光敏分子的单光子吸收效应所诱导的光化学反应。光敏分子吸收一个能量大于其比较低跃迁能级的光子,从基态跃迁到激发态,经过电子态之间的转移生成活性种,诱发光聚合、光分解等化学反应,使光刻胶溶解特性发生改变。光刻分辨率的物理极限与光源波长和光刻物镜数值孔径呈线性关系,提高光刻分辨率主要通过缩短光刻光源波长来实现。尽管使用的光刻光源波长从可见光(G线,436nm)缩短到紫外(Ⅰ线,365nm)、深紫外(KrF,248nm;ArF,193nm)甚至极紫外(EUV,13.5nm)波段,由于光学衍射极限的限制,其分辨率极限在半个波长左右。
速度和加速度是决定匀胶获得薄膜厚度的关键因素。衬底的旋转速度控制着施加到树脂上的离心力和树脂上方空气的湍流度。衬底由低速向旋转速度的加速也会极大地影响薄膜的性能。由于树脂在开始旋转的几圈内就开始溶剂挥发过程,因此控制加速阶段非常重要这个阶段光刻胶会从中心向样品周围流动并铺展开。在许多情况下,光刻胶中高达50%的基础溶剂会在溶解的几秒钟内蒸发掉。因此,使用“快速”工艺技术,在很短的时间内将光刻胶从样品中心甩到样品边缘。在这种加速度驱动材料向衬底边缘移动,使不均匀的蒸发小化,并克服表面张力以提高均匀性。高速度,高加速步骤后是一个更慢的干燥步骤和/或立即停止到0rpm。3D光刻技术为半导体封装开辟了新路径。
基于光刻工艺的微纳加工技术主要包含以下过程:掩模(mask)制备、图形形成及转移(涂胶、曝光、显影)、薄膜沉积、刻蚀、外延生长、氧化和掺杂等。在基片表面涂覆一层某种光敏介质的薄膜(抗蚀胶),曝光系统把掩模板的图形投射在(抗蚀胶)薄膜上,光(光子)的曝光过程是通过光化学作用使抗蚀胶发生光化学作用,形成微细图形的潜像,再通过显影过程使剩余的抗蚀胶层转变成具有微细图形的窗口,后续基于抗蚀胶图案进行镀膜、刻蚀等可进一步制作所需微纳结构或器件。在曝光这一步中,将使用特定波长的光对覆盖衬底的光刻胶进行选择性地照射。吉林光刻实验室
光源波长的选择直接影响光刻的分辨率。黑龙江激光直写光刻
剥离工艺(lift-off)是指在有光刻胶图形的掩膜上镀膜后,再去除光刻胶获得图案化的金属的工艺。在剥离工艺中,有几种关键因素影响得到的金属形貌。1.光刻胶的厚度。光刻胶厚度需大于金属厚度,一般光刻胶厚度在金属厚度的三倍以上胶面上的金属更易成功剥离。2.光刻胶种类。紫外光刻中,正胶光刻胶一般为“正梯形”,负胶光刻胶侧壁形貌一般为“倒梯性”。“倒梯形”的光刻胶更容易剥离,故在剥离工艺中常使用负胶。3.镀膜工艺。蒸发镀膜相比溅射镀膜在光刻胶侧壁更少镀上金属,因此蒸发镀膜更易剥离。黑龙江激光直写光刻