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IC热红外显微镜成像

来源: 发布时间:2025年10月24日

在微电子、半导体以及材料研究等高精度领域,温度始终是影响器件性能与寿命的重要因素。随着芯片工艺向高密度和高功率方向发展,器件内部的热行为愈发复杂。传统的热测试方法由于依赖接触探测,往往在空间分辨率、灵敏度和操作便捷性方面存在局限,难以满足对新型芯片与功率器件的精细化热分析需求。相比之下,热红外显微镜凭借非接触测量、高分辨率成像和高灵敏度探测等优势,为研究人员提供了更加直观的解决方案。它不仅能够实时呈现器件在工作状态下的温度分布,还可识别局部热点,帮助分析电路设计缺陷、电流集中及材料老化等潜在问题。作为现代失效分析与微热检测的重要工具,热红外显微镜正逐渐成为科研与产业应用中不可或缺的手段,为提升器件可靠性和延长使用寿命提供了有力支持。热红外显微镜凭借高灵敏度探测能力,能识别材料微观结构中的细微温度变化,辅助科研实验。IC热红外显微镜成像

IC热红外显微镜成像,热红外显微镜

随着新能源汽车和智能汽车的快速发展,汽车电子系统的稳定性和可靠性显得尤为重要。由于车载环境复杂,功率器件、控制芯片和传感器在运行中极易受到温度波动的影响,从而引发性能衰减或失效。热红外显微镜为这一领域提供了先进的检测手段。它能够在不干扰系统运行的情况下,实时监控关键器件的温度分布,快速发现潜在的过热隐患。通过对热红外显微镜成像结果的分析,工程师可以有针对性地优化散热设计和器件布局,确保电子系统在高温、震动等极端条件下仍能稳定工作。这不仅提升了汽车电子的可靠性,也为整车的安全性能提供了保障。可以说,热红外显微镜已经成为推动汽车电子产业升级的重要技术支撑,未来其应用范围还将进一步拓展至智能驾驶和车载功率系统的更多环节。IC热红外显微镜成像热红外显微镜成像仪通过将热红外信号转化为可视化图像,直观呈现样品的温度分布差异。

IC热红外显微镜成像,热红外显微镜

Thermal EMMI 的成像效果与探测波段密切相关,不同材料的热辐射峰值波长有所差异。** Thermal EMMI 系统支持多波段切换,可根据被测器件的结构和材料选择比较好波长,实现更高的信噪比和更清晰的缺陷成像。例如,硅基器件在近红外波段(约 1.1 微米)具有较高透过率,适合穿透检测;而化合物半导体(如 GaN、SiC)则需要在中红外或长波红外波段下进行观测。通过灵活的波段适配,Thermal EMMI 能够覆盖更***的器件类型,从消费电子到汽车电子,再到功率半导体,均可提供稳定、精细的检测结果。

在材料科学领域,研究人员通常需要了解不同材料在受热环境下的导热性能与热响应特性。传统的热分析方法多为宏观测量,难以揭示微观层面的温度变化。而热红外显微镜通过高分辨率的红外成像能力,能够将材料表面的温度分布清晰呈现出来,从而帮助研究人员深入理解材料的导热机制和失效模式。例如,在新型复合材料研究中,热红外显微镜能够直观显示各组分在受热条件下的热扩散差异,为材料结构优化提供实验依据。同时,该设备还能与其他光学显微技术联用,形成多维度的检测体系,使得实验数据更具完整性。热红外显微镜不仅在基础研究中发挥重要作用,也为新型材料的产业化应用提供了强有力的验证工具,推动了从实验室到工程应用的快速转化。热红外显微镜搭配分析软件,能对采集的热数据进行定量分析,生成详细的温度分布报告。

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致晟光电在推进产学研一体化进程中,积极开展多层次校企合作。公司依托南京理工大学光电技术学院,专注于微弱光电信号分析相关产品及应用的研发。双方联合攻克技术难题,不断优化实时瞬态锁相红外热分析系统(RTTLIT),使其温度灵敏度达到0.0001℃,功率检测限低至1μW,部分性能指标在特定功能上已超过进口设备。

除了与南京理工大学的紧密合作外,致晟光电还与多所高校建立了协作关系,搭建起学业与就业贯通的人才孵化平台。平台覆盖研发设计、生产实践、项目管理等全链条,为学生提供系统化的实践锻炼机会,培养出大量具备实际操作能力的专业人才,为企业创新发展注入源源动力。同时,公司通过建立科研成果产业孵化绿色通道,使高校前沿科研成果能够快速转化为实际生产力,实现科研资源与企业市场转化能力的有效结合,推动产学研协同创新迈上新台阶。 存在缺陷或性能不佳的半导体器件通常会表现出异常的局部功耗分布,终会导致局部温度增高。IC热红外显微镜成像

在高可靠性要求、功耗限制严格的器件中,定位内部失效位置。IC热红外显微镜成像

在半导体失效分析实验室中,工程师们常常面临令人头疼的难题:一块价值百万的芯片突然“歇工”,却迟迟找不到故障根源。传统检测手段轮番上阵——电性测试无从下手,物理开盖又可能破坏关键痕迹,整个分析仿佛陷入迷雾之中。这时,Thermal EMMI(热红外显微镜)如同一位敏锐的“热力神探”登场。它能够捕捉芯片在微观层面发出的极其微弱的热辐射与光信号,毫不干扰样品本体,实现非接触式成像。借助其高灵敏度和高空间分辨率,隐藏在纳米尺度下的异常热点被一一揭示,让“沉默”的芯片重新开口说话,助力工程师快速锁定失效位置,为后续修复与优化提供明确方向。在众多复杂失效场景中,Thermal EMMI已成为不可或缺的利器。
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