晶圆完成加工后会进入仓储环节，长时间存放会让表面涂层、材质发生细微变化，复测水滴角可以掌握表面状态的演变情况。存放环境的温度、湿度...

半导体薄膜沉积工艺对基材表面条件要求严苛，水滴角的观测结果，能够用来降低膜层不良问题的发生概率。在生长氧化膜、金属膜等各类功能薄膜...

半导体湿法清洗会搭配不同配方的清洗药剂，药剂配比的优化工作，可以结合晶圆表面的水滴角开展。不同成分、不同浓度的清洗液，去污能力存在...

蚀刻工序完成后，晶圆表面会残留蚀刻液残渣与反应副产物，这类物质会改变表面润湿特性，水滴角成为清理效果的查验手段。蚀刻作业会按照设计...

影像仪具备强大的多功能测量能力，突破传统测量设备的单一参数限制，可一次性完成几何尺寸、形位公差、轮廓形貌、缺陷检测等多维度参数测量...