无锡奥考斯半导体设备有限公司
在晶圆背面研磨后的粗糙度检测中,非接触式 LED 散射光方案较接触式探针仪实现效率与精度的双重提升。接触式探针仪采用逐点扫描方式,...
晶圆搬送机秉持绿色低碳的设计理念,通过多项低功耗技术创新,助力半导体工厂实现绿色生产。设备采用高效节能的伺服驱动系统,相比传统异步...
在 300mm 大尺寸晶圆翘曲检测中,非接触式多探头阵列翘曲方案较接触式翘曲仪实现全片无盲区测量。接触式翘曲仪采用单点测量方式,需...
半导体封测量产环节对晶圆搬送的效率与稳定性要求极高,晶圆搬送机凭借高效的转运能力与稳定的性能,成为封测量产线的设备。在封测量产线中...
在 MEMS 器件的微结构表面(如微齿轮、微流道)粗糙度检测中,非接触式激光干涉 + 显微成像方案较接触式探针仪更能适配复杂结构。...