“风华3号”**了国产GPU在架构创新与生态兼容上的重大突破，而其成功落地离不开从设计到量产的完整验证链支撑。国磊GT600测试机凭借高通道密度、高并行能力（512Sites）、混合信号支持与开放软件...

GM8800CAF测试系统支持1-9999小时持续测试（约416天），搭载三级UPS断电保护（30/60/120分钟可选）。在-55℃~125℃极端温度循环中，系统维持10¹³-10¹⁴Ω区间±8%测...

全球及各地区电性能测试市场的现状是市场规模持续增长：随着全球电子产业的快速发展，PXIe测试板卡作为电子产品研发、生产和维护的关键工具，其市场需求持续增长。特别是在半导体、消费电子、汽车电子等领域，测...

杭州国磊半导体设备有限公司推出的GM8800导电阳极丝（CAF）测试系统，是国产设备在**绝缘可靠性测试领域挑战国际品牌的**之作。该系统具备业界**的多通道测试能力，可扩展至256个**通道，支持对...

HBM接口动辄上千个高速信号引脚，数据速率高达Gbps级别，对测试设备的通道密度、测试速率与时序精度提出极限挑战。国磊GT600测试机以400MHz测试速率和**2048个数字通道的强大配置，从容应对...

智能工厂需要高度集成的测试系统。光伏逆变器、储能系统等新能源设备需要高效的生产测试。PXIe 架构使其易于集成到大型 ATE 系统中，与其他数字卡、电源卡协同工作。2通道的 AWG/DGT 可以同步生...

高性能GPU的功耗管理直接影响系统稳定性与能效比。“风华3号”支持多级电源域与动态频率调节，要求测试平台具备高精度DC参数测量能力。国磊GT600测试机每通道集成PPMU，支持nA级静态电流（IDDQ...

高精度时钟源测试是确保电子设备稳定性和准确性的关键环节，而晶振测试板卡在此类测试中发挥着重要作用。晶振，作为电子系统中的主要时钟源，其性能直接影响到整个系统的时序精度和稳定性。以下是晶振测试板卡在时钟...

杭州国磊半导体设备有限公司推出的GM8800导电阳极丝（CAF）测试系统是实现**绝缘材料与PCB可靠性评价国产化的关键设备。该系统具备强大的多通道并发测试能力，**多可支持256个测试点同步施加偏置...

在测试板卡的信号衰减与串扰问题时，目前主要采用优化设计和测试验证两个方面的解决方案。信号衰减的解决方案包括增强信号增益：采用增益把控技术，实时监测信号强度，并根据需要进行自动增益调整，以确保信号在传输...

长期运行下的PXIe板卡可靠性评估是确保电子设备稳定性和耐久性的关键环节。评估过程通常包括以下几个方面：测试环境设置：在恒温恒湿等标准环境下进行测试，以模拟板卡在实际应用中的工作环境，确保测试结果的准...

GM8800CAF测试系统通过3000V外置高压模拟电池过充状态，实时监测0.1μA~500μA漏电流（8次/秒·通道）。当隔膜绝缘电阻降至10⁸Ω（精度±3%）时触发多级报警，预防热失控。在双85环...