大量芯片企业早年采购进口PXIe机箱控制器,主机硬件状态完好,但配套源测量、数字板卡老化、维修报价昂贵、备件货期漫长,直接更换整套系统投入巨大,众多企业面临“机箱闲置、模块难换”的困境。杭州国磊半导体GI全系列测试板卡遵循标准PXIe总线协议,可直接兼容市面主流PXIe机箱,无需改动工控主机、电源、背板结构,实现存量设备升级改造。不论是实验室老旧测试平台,还是封测厂量产工位现有系统,只需替换功能模块,快速补齐高压SMU、高速LVDS、AWG波形发生、时序测量等短板。GI-SMUMV04四路±60VSMU、GI-DMUMS32集成数字板卡、GI-CBIT120继电器驱动模块均可无缝接入原有硬件架构。区别于海外厂商封闭专属硬件,国磊板卡提供完整底层驱动、API接口,原有测试程序只需少量适配即可复用。2026年半导体企业严控资本开支,存量设备盘活成为降本重点。改造方案相比全新采购整套测试系统,投入降低55%以上,改造周期压缩至1~2周。功率芯片、模拟信号链、MCU、存储器件企业都可以通过模块化升级拓展测试能力,快速搭建CP探针测试、FT分选、样品可靠性验证平台,比较大化挖掘现有设备价值,稳步推进测试硬件国产化替换。 杭州国磊半导体PXIe板卡DMUMS32,支持高达100MHz测试频率,轻松应对高速数字接口验证。杭州国磊控制板卡精选厂家

电压基准芯片、万用表校准源、工业采集芯片量产出厂校准,需要稳定、低漂移多路标准基准激励,普通SMU温漂大,无法满足出厂校准ppm级精度要求,进口**校准源设备通道少、设备投入高,量产校准产线吞吐受限。杭州国磊GI-SMUREF055路精密浮动参考源表,低温漂基准电路,全温区温漂低于5ppm/℃,五路**隔离标准电压、电流输出,可同步为多颗待校准芯片提供标准激励,自动完成增益、失调、温漂出厂校准,校准数据一致性远优于普通SMU模块,满足工业级、计量级芯片出厂校准规范。可搭配GI-SMUBV04低压测量SMU同步采集芯片输出校准数据,形成“标准基准输出+高精度参数采集”全自动校准系统,搭配GI-CBIT120继电器扩展多路校准工位,实现无人值守批量校准。2026年国产计量、基准芯片批量出货,出厂校准工位需求快速增长,进口校准**源表供货紧张,国磊五路参考源板卡现货交付,模块化设计可灵活扩展校准通道,现有PXIe测试机箱可直接兼容,无需更换整套设备,产线改造投入极低。硬件长期连续校准稳定性强,7×24小时运行基准漂移可忽略,大幅提升芯片出厂校准效率,降低单颗芯片校准硬件成本,助力国产高精度基准芯片批量推向工业市场。 江苏精密浮动测试板卡制作杭州国磊半导体PXIe板卡SMU系列对标NI, SMUHV01可输出1000V,满足MOSFET、IGBT等器件的击穿测试需求。

一套完整自动化半导体测试系统,离不开可靠的信号回路切换单元,继电器板卡作为硬件枢纽,连通测试板卡、夹具、待测芯片。市面上进口继电器模块通道密度低,同等通道数量需要多张板卡,占用大量插槽。杭州国磊GI-CBIT120单卡集成120路**继电器驱动通道,微秒级切换响应,支持信号回路、功率回路切换,可适配低压模拟信号、*功率电源回路搭配隔离设计。能够联动GI全系SMU、AWG、数字IO板卡,实现多颗DUT自动轮换、多种测试回路切换、探针通道选通。无论是晶圆探针台多路芯粒切换,量产分选多夹具轮换,还是可靠性老化多路器件循环应力加载,都可以依托该板卡实现自动化。多块GI-CBIT120级联可轻松扩展数百路切换通道。高密度单卡设计大幅节约机箱插槽,留出更多空间配置测量功能板卡。继电器回路具备过流保护,避免待测器件异常损坏测试硬件。对于计划搭建全自动无人值守研发测试平台、量产FT、老化系统的企业,GI-CBIT120是自动化系统不可或缺的主要枢纽模块,以高通道密度降低整套系统硬件投入。
车载显示、MiniLED驱动、工业屏驱动芯片采用大量LVDS高速差分接口,高速图像数据传输、时序同步、高低温信号衰减测试,对数字IO通道速率、时序精度、差分信号完整性要求较高,普通低速DIO板卡无法复现真实显示工况,进口高速LVDS板卡溢价严重。杭州国磊GI-RIOMS3264路高速LVDS数字I/O测试板卡,64路差分高速通道集成于单卡,纳秒级时序同步控制,板卡内置阻抗匹配电路,高低温环境下差分信号抖动控制在极小范围,精细模拟显示屏高速数据交互场景,完整测试驱动芯片刷新率、信号衰减、通道一致性主要指标。可联动GI-WRTLF02高精度AWG生成背光驱动模拟波形,搭配GI-SMUMV04多通道SMU测试多路背光电源轨,构建显示驱动芯片数模一体化测试平台。2026年车载大屏、MiniLED市场爆发,本土显示驱动芯片设计公司扩产需求旺盛,但高速数字测试硬件长期依赖海外采购,货期不稳定制约产能释放,国磊高速LVDS板卡全自研高速链路,现货交付,底层驱动完全开放,支持客户自主开发测试程序,无软件授权年费。针对晶圆CP探针高速测试、封装后老化时序筛选场景,多块GI-RIOMS32级联扩展数百路差分通道,同步并行测试多颗驱动芯片,快速筛除高速信号失效产品,提升显示芯片量产良率。 杭州国磊半导体PXIe板卡DMUMS32可用于DDR训练、PCIe链路训练等复杂协议仿真。

数模混合SoC、音频处理IC、触控MCU、工业采集芯片同时集成模拟电源轨、数字逻辑、高速波形接口、时序电路,单一功能板卡无法覆盖完整测试需求,企业需采购多套进口测试设备,系统集成复杂、采购成本翻倍。杭州国磊半导体全系列自研测试板卡可自由模块化组合,GI系列SMU梯度覆盖±10V/±60V/±100V/1000V全电压区间源测量,GI-DMUMS32+GI-RIOMS32覆盖低速到高速全数字IO,GI-WRTLF02/GI-WRTHF04覆盖高精度/高速两类波形发生采集,GI-TMUHA04时序测量、GI-SMUREF05基准源、GI-CBIT120继电器切换完整配套,一套机箱即可搭建混合信号芯片一站式测试平台。2026年混合信号芯片成为半导体增长主力,国产替代空间广阔,但进口混合信号ATE整机价格动辄百万级,中小设计企业难以承担,国磊模块化板卡按需选配,无需采购闲置功能模块,硬件投入直接降低60%以上,兼容通用PXIe机箱,客户可复用现有工控硬件。从实验室样品研发参数表征,到晶圆CP测试、封装FT量产分选、三温老化可靠性验证,整套板卡组合覆盖芯片全生命周期测试流程,硬件全部自主可控,支持定制通道数量、隔离规格,本土团队提供系统集成、程序调试一站式服务,帮助混合信号芯片企业快速搭建自主测试系统。 杭州国磊半导体PXIe板卡SMU系列对标NI,SMUMV04板卡提供±60V中压输出,兼容工控与电源管理芯片测试。东莞控制板卡价位
国磊多功能PXIe测试板卡 提供低噪声、低失真模拟前端测试方案,确保ECG、EEG设备信号链纯净可靠。杭州国磊控制板卡精选厂家
功率管理IC、多通道BMS、多路输出电源SoC内部存在多条单独电源轨,不同电压域需要同步施加激励、同步采集参数,先后测试会无法复现芯片真实工作状态,造成参数测试偏差。这类芯片测试要求测试硬件具备多梯度**电压通道,通道之间隔离互不干扰。杭州国磊GI系列SMU天然形成完整电压梯度矩阵:GI-SMUBV04±10V低压通道、GI-SMUMV04±60V中压通道、GI-SMUHP01±100V高压通道、GI-SMUHV011000V超高压通道,不同规格SMU可在同一机箱协同工作,多电压域同步输出激励。多条电源轨**浮动隔离,杜绝相互串扰,同步采集各路电压、电流数据,精细复现芯片多轨同时上电的实际工况。搭配GI-DMUMS32数字板卡输出控制信号,实现模拟电源与数字控制同步联动,完整覆盖多路电源管理芯片全套测试项目。整套方案大量应用于储能BMS、多路快充SOC、多通道工业电源芯片研发与量产。相比采购多台**台式源表,PXI模块化架构时序同步性更强,系统集成度更高,方便对接自动化分选设备,搭建多路电源芯片标准化量产测试工位。 杭州国磊控制板卡精选厂家