黄浦区探针测试加热盘供应商

借鉴晶圆键合工艺的技术需求，国瑞热控键合**加热盘创新采用真空吸附与弹簧压块复合结构，通过弹簧压力限制加热平台受热膨胀，高温下表面平整度误差控制在 0.02mm 以内。加热盘主体采用因瓦合金与氮化铝复合基材，兼具低热膨胀系数与高导热性，温度均匀性达 ±1.5℃，适配室温至 450℃的键合温度需求。底部设计双层隔热结构，***层阻隔热量向下传导，第二层快速散热避免设备腔体温升过高。配备精细压力控制模块，可根据键合类型调整吸附力，在硅 - 硅直接键合、金属键合等工艺中确保界面贴合紧密，提升键合良率。精选耐高温材料，绝缘性能优异，确保使用安全万无一失。黄浦区探针测试加热盘供应商

国瑞热控刻蚀工艺加热盘，专为半导体刻蚀环节的精细温控设计，有效解决刻蚀速率不均与图形失真问题。产品采用蓝宝石覆层与铝合金基体复合结构，表面经抛光处理至镜面效果，减少刻蚀副产物粘附，且耐受等离子体轰击无损伤。加热盘与静电卡盘协同适配，通过底部导热纹路优化，使热量快速传导至晶圆背面，温度响应时间缩短至 10 秒以内。支持温度阶梯式调节功能，可根据刻蚀深度需求设定多段温度曲线，适配硅刻蚀、金属刻蚀等不同工艺场景。设备整体符合半导体洁净车间 Class 1 标准，拆卸维护无需特殊工具，大幅降低生产线停机时间。南京高精度均温加热盘定制个性化定制服务，根据工艺需求特殊设计，完美匹配应用。

面向先进封装 Chiplet 技术需求，国瑞热控**加热盘以高精度温控支撑芯片互联工艺。采用铝合金与陶瓷复合基材，加热面平面度误差小于 0.02mm，确保多芯片堆叠时受热均匀。内部采用微米级加热丝布线，实现 1mm×1mm 精细温控分区，温度调节范围覆盖室温至 300℃，控温精度 ±0.3℃，适配混合键合、倒装焊等工艺环节。配备压力与温度协同控制系统，在键合过程中同步调节温度与压力参数，减少界面缺陷。与长电科技、通富微电等企业适配，支持 2.5D/3D 封装架构，为 AI 服务器等高算力场景提供高密度集成解决方案。

国瑞热控封装测试**加热盘聚焦半导体后道工艺需求，采用轻量化铝合金材质，通过精密加工确保加热面平整度误差小于 0.05mm，适配不同尺寸封装器件的测试需求。加热元件采用片状分布设计，热响应速度快，可在 5 分钟内将测试温度稳定在 - 40℃至 150℃之间，满足高低温循环测试、老化测试等场景要求。表面采用防粘涂层处理，减少测试过程中污染物附着，且易于清洁维护。配备可编程温控系统，支持自定义测试温度曲线，可存储 100 组以上测试参数，方便不同型号器件的测试切换。与长电科技、通富微电等封装测试企业合作，适配其自动化测试生产线，为半导体器件可靠性验证提供精细温度环境，助力提升产品良率。多重安全保护设计，漏电过载超温防护，构建安全工作环境。

面向半导体新材料研发场景，国瑞热控高温加热盘以宽温域与高稳定性成为科研工具。采用石墨与碳化硅复合基材，工作温度范围覆盖 500℃-2000℃，可通过程序设定实现阶梯式升温，升温速率调节范围 0.1-10℃/ 分钟。加热面配备 24 组测温点，实时监测温度分布，数据采样频率达 10Hz，支持与实验室数据系统对接。设备体积紧凑（直径 30cm），重量* 5kg，配备小型真空腔体与惰性气体接口，适配薄膜沉积、晶体生长等多种实验需求，已服务于中科院半导体所等科研机构。表面硬度强化处理，耐磨耐刮擦，保持长期美观实用。青浦区探针测试加热盘非标定制

结构紧凑安装便捷，多重安全保护，使用安心无顾虑。黄浦区探针测试加热盘供应商

国瑞热控 12 英寸半导体加热盘专为先进制程量产需求设计，采用氮化铝陶瓷与高纯铜复合基材，通过多道精密研磨工艺，使加热面平面度误差控制在 0.015mm 以内，完美贴合大尺寸晶圆的均匀受热需求。内部采用分区式加热元件布局，划分 8 个**温控区域，配合高精度铂电阻传感器，实现 ±0.8℃的控温精度，满足 7nm 至 14nm 制程对温度均匀性的严苛要求。设备支持真空吸附与静电卡盘双重固定方式，适配不同类型的反应腔结构，升温速率达 20℃/ 分钟，工作温度范围覆盖室温至 600℃，可兼容 PVD、CVD、刻蚀等多道关键工艺。通过与中芯国际、长江存储等企业的深度合作，已实现与国产 12 英寸晶圆生产线的无缝对接，为先进制程规模化生产提供稳定温控支撑。黄浦区探针测试加热盘供应商

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