设备能否测量透明晶圆如石英或玻璃？

安田丰技术（江苏）有限公司2026-07-14

电容式探头对材料介电常数敏感，可用于透明晶圆测量。光学式探头依赖表面反射，透明晶圆可能产生背面反射干扰。用户应根据晶圆材料选择适合的测量原理型号，或在测量时采取措施抑制背面反射。

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简介：安田丰公司专注于智能制造工艺装备和新材料，服务于AR和半导体行业，致力于提供高性能、高效率的解决方案

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