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工业检测热红外显微镜方案设计

来源: 发布时间:2025年09月18日

RTTLITP20热红外显微镜通过多元化的光学物镜配置,构建起从宏观到纳米级的全尺度热分析能力,灵活适配多样化的检测需求。Micro广角镜头可快速覆盖整块电路板、大型模组等大尺寸样品,直观呈现整体热分布与散热趋势,助力高效完成初步筛查;0.13~0.3X变焦镜头支持连续倍率调节,适用于芯片封装体、传感器阵列等中尺度器件,兼顾整体热场和局部细节;0.65X~0.75X变焦镜头进一步提升分辨率,清晰解析芯片内部功能单元的热交互过程,精细定位封装中的散热瓶颈;3X~4X变焦镜头可深入微米级结构,解析晶体管阵列、引线键合点等细节部位的热行为;8X~13X变焦镜头则聚焦纳米尺度,捕捉短路点、漏电流区域等极其微弱的热信号,满足先进制程下的高精度失效定位需求。热红外显微镜工作原理:结合光谱技术,可同时获取样品热分布与红外光谱信息,分析物质成分与热特性的关联。工业检测热红外显微镜方案设计

工业检测热红外显微镜方案设计,热红外显微镜

热红外显微镜在材料科学研究中有着广泛应用。对于新型复合材料,其内部不同组分的导热性能存在差异,在外界温度变化或通电工作时,表面温度分布会呈现不均匀性。热红外显微镜能以超高的空间分辨率捕捉这种温度差异,清晰展示材料内部的热传导路径和热点分布。研究人员通过分析这些图像,可深入了解材料的热物理特性,为优化材料配方、改进制备工艺提供依据。比如在研发高导热散热材料时,借助热红外显微镜能直观观察不同添加成分对材料散热性能的影响,加速高性能材料的研发进程。国内热红外显微镜技术参数热红外显微镜应用:在生物医学领域用于观测细胞代谢热,辅助研究细胞活性及疾病早期诊断。

工业检测热红外显微镜方案设计,热红外显微镜

Thermal EMMI(Thermal Emission Microscopy)是一种利用半导体器件在工作过程中微弱热辐射和光发射信号进行失效点定位的先进显微技术。它通过高灵敏度探测器捕捉纳瓦级别的红外信号,并结合光学放大系统实现微米甚至亚微米级的空间分辨率。相比传统的电子探针或电性测试,Thermal EMMI在非接触、无损检测方面有明显优势,能够在器件通电状态下直接观测局部发热热点或电流泄漏位置。这种技术在先进制程节点(如 5nm、3nm)中尤为关键,因为器件结构复杂且供电电压低,任何细微缺陷都会在热辐射分布上体现。通过Thermal EMMI,工程师能够快速锁定失效区域,大幅减少剖片和反复验证的时间,为芯片研发和生产带来高效的故障分析手段。

Thermal和EMMI是半导体失效分析中常用的两种定位技术,主要区别在于信号来源和应用场景不同。Thermal(热红外显微镜)通过红外成像捕捉芯片局部发热区域,适用于分析短路、功耗异常等因电流集中引发温升的失效现象,响应快、直观性强。而EMMI(微光显微镜)则依赖芯片在失效状态下产生的微弱自发光信号进行定位,尤其适用于分析ESD击穿、漏电等低功耗器件中的电性缺陷。相较之下,Thermal更适合热量明显的故障场景,而EMMI则在热信号不明显但存在异常电性行为时更具优势。实际分析中,两者常被集成使用,相辅相成,以实现失效点定位和问题判断。致晟光电是一家国产失效分析设备制造商,其在、有两项技术:Thermal 热红外显微镜 和 EMMI 微光显微镜。

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热点区域对应高温部位,可能是发热源或故障点;等温线连接温度相同点,直观呈现温度梯度与热量传导规律。

当前市面上多数设备受限于红外波长及探测器性能,普遍存在热点分散、噪点繁多的问题,直接导致发热区域定位偏差、图像对比度与清晰度下降,严重影响温度分布判断的准确性。

而我方设备优势明显:抗干扰能力强,可有效削弱外界环境及内部器件噪声干扰,确保图像稳定可靠;等温线清晰锐利,能圈定温度相同区域,便于快速掌握温度梯度与热传导路径,大幅提升热特性分析精度;成像效果大幅升级,具备更高的空间分辨率、温度分辨率及对比度,细微细节清晰可辨,为深度分析提供高质量图像支撑。 红外显微镜系统(Thermal Emission microscopy system),是半导体失效分析和缺陷检测的常用的三大手段之一。实时成像热红外显微镜成像仪

热红外显微镜探测器:非制冷微测辐射热计(Microbolometer)成本低,适用于常温样品的常规检测。工业检测热红外显微镜方案设计

在半导体失效分析实验室中,工程师们常常面临令人头疼的难题:一块价值百万的芯片突然“歇工”,却迟迟找不到故障根源。传统检测手段轮番上阵——电性测试无从下手,物理开盖又可能破坏关键痕迹,整个分析仿佛陷入迷雾之中。这时,Thermal EMMI(热红外显微镜)如同一位敏锐的“热力神探”登场。它能够捕捉芯片在微观层面发出的极其微弱的热辐射与光信号,毫不干扰样品本体,实现非接触式成像。借助其高灵敏度和高空间分辨率,隐藏在纳米尺度下的异常热点被一一揭示,让“沉默”的芯片重新开口说话,助力工程师快速锁定失效位置,为后续修复与优化提供明确方向。在众多复杂失效场景中,Thermal EMMI已成为不可或缺的利器。
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