致晟光电将热红外显微镜(Thermal EMMI)与微光显微镜 (EMMI) 集成的设备,在维护成本控制上展现出优势。对于分开的两台设备,企业需配备专门人员分别学习两套系统的维护知识,培训内容涵盖不同的机械结构、光学原理、软件操作,还包括各自的故障诊断逻辑与校准流程,往往需要数月的系统培训才能确保人员熟练操作,期间产生的培训费用、时间成本居高不下。而使用一套集成设备只需一套维护体系,维护人员只需掌握一套系统的维护逻辑与操作规范,无需在两套差异化的设备间切换学习,培训周期可缩短近一半,大幅降低了培训方面的人力与资金投入。
通过调节探测灵敏度,它能适配不同漏电流大小的检测需求,灵活应对多样的检测场景。显微微光显微镜牌子
失效背景调查就像是为芯片失效分析开启 “导航系统”,能帮助分析人员快速了解芯片的基本情况,为后续工作奠定基础。收集芯片型号是首要任务,不同型号的芯片在结构、功能和特性上存在差异,这是开展分析的基础信息。同时,了解芯片的应用场景也不可或缺,是用于消费电子、工业控制还是航空航天等领域,不同的应用场景对芯片的性能要求不同,失效原因也可能大相径庭。
失效模式的收集同样关键,短路、漏电、功能异常等不同的失效模式,指向的潜在问题各不相同。比如短路可能是由于内部线路故障,而漏电则可能与芯片的绝缘性能有关。失效比例的统计也有重要意义,如果同一批次芯片失效比例较高,可能暗示着设计缺陷或制程问题;如果只是个别芯片失效,那么应用不当的可能性相对较大。 微光显微镜方案设计国外微光显微镜价格高昂,常达上千万元,我司国产设备工艺完备,技术成熟,平替性价比高。
这一技术不仅有助于快速定位漏电根源(如特定晶体管的栅氧击穿、PN结边缘缺陷等),更能在芯片量产阶段实现潜在漏电问题的早期筛查,为采取针对性修复措施(如优化工艺参数、改进封装设计)提供依据,从而提升芯片的长期可靠性。例如,某批次即将交付的电源管理芯片在出厂前的EMMI抽检中,发现部分芯片的边角区域存在持续稳定的微弱光信号。结合芯片的版图设计与工艺参数分析,确认该区域的NMOS晶体管因栅氧层局部厚度不足导致漏电。技术团队据此对这批次芯片进行筛选,剔除了存在漏电隐患的产品,有效避免了缺陷芯片流入市场后可能引发的设备功耗异常、发热甚至烧毁等风险。
致晟光电作为苏州本土的光电检测设备研发制造企业,其本地化服务目前以国内市场为主要覆盖区域 。尤其在华东地区,依托总部苏州的地理优势,对上海、江苏、浙江等周边省市实现高效服务。无论是设备的安装调试,还是售后的故障维修、技术咨询,都能在短时间内响应,例如在苏州本地,接到客户需求后,普遍可在数小时内安排技术人员上门服务。在全国范围内,致晟光电已通过建立销售服务网点、与当地经销商合作等方式,保障本地化服务的覆盖。
氧化层漏电及多晶硅晶须引发电流异常时,会产生光子,使微光显微镜下出现亮点。
企业用户何如去采购适合自己的设备?
功能侧重的差异,让它们在芯片检测中各司其职。微光显微镜的 “专长” 是识别电致发光缺陷,对于逻辑芯片、存储芯片等高密度集成电路中常见的 PN 结漏电、栅氧击穿、互连缺陷等细微电性能问题,它能提供的位置信息,是芯片失效分析中定位 “电故障” 的工具。
例如,在 7nm 以下先进制程芯片的检测中,其高灵敏度可捕捉到单个晶体管异常产生的微弱信号,为工艺优化提供关键依据。
热红外显微镜则更关注 “热失控” 风险,在功率半导体、IGBT 等大功率器件的检测中表现突出。这类芯片工作时功耗较高,散热性能直接影响可靠性,短路、散热通道堵塞等问题会导致局部温度骤升,热红外显微镜能快速生成热分布图谱,直观呈现热点位置与温度梯度,帮助工程师判断散热设计缺陷或电路短路点。在汽车电子等对安全性要求极高的领域,这种对热异常的敏锐捕捉,是预防芯片失效引发安全事故的重要保障。
我司微光显微镜探测芯片封装打线及内部线路短路产生的光子,快速定位短路位置,优势独特。显微微光显微镜与光学显微镜对比
静电放电破坏半导体器件时,微光显微镜侦测其光子可定位故障点,助分析原因程度。显微微光显微镜牌子
通过对这些微光信号的成像与定位,它能直接“锁定”电性能缺陷的物理位置,如同在黑夜中捕捉萤火虫的微光,实现微米级的定位。而热红外显微镜则是“温度的解读师”,依托红外热成像技术,它检测的是芯片工作时因能量损耗产生的温度差异。电流通过芯片时的电阻损耗、电路短路时的异常功耗,都会转化为局部温度的细微升高,这些热量以红外辐射的形式散发,被热红外显微镜捕捉并转化为热分布图。通过分析温度异常区域,它能间接推断电路中的故障点,尤其擅长发现与能量损耗相关的问题。显微微光显微镜牌子