相较于传统测试模式,AI+虚拟制造赋能下的国产ATE测试板卡,呈现出高智能、高效率、低成本、高适配的主要优势。在研发端,实现板卡设计、仿真、调试全流程数字化,摆脱对人工经验的依赖;在应用端...
高速高频测试能力目前已成为行业的主要技术突破点。针对AI芯片、高速互连芯片、毫米波射频芯片等器件的测试需求,新一代ATE系统攻克皮秒级时序控制、飞安级微弱电流检测技术,有效解决高频信号传输...
相较于传统测试模式,AI+虚拟制造赋能下的国产ATE测试板卡,呈现出高智能、高效率、低成本、高适配的主要优势。在研发端,实现板卡设计、仿真、调试全流程数字化,摆脱对人工经验的依赖;在应用端...
依托测试数据闭环,可有效推动量子芯片协同迭代优化。杭州国磊GT600支持STDF、CSV等主流数据格式导出,集成数据分析与图形化展示能力。设备产生的测试数据可对接量子芯片设计仿真平台,搭建...
PXIe模块化测试平台,是全球半导体、封测、SoC、功率器件测试的主流通用硬件底座。区别于爱德万、泰克的封闭式测试机,NI主打模块化、可自定义、软件定义仪器,主要用于Chiplet多Die...
自动驾驶产业持续升级,L2+向L4高阶方案快速落地,车载主控SoC已然是智能驾驶域控的重点载体,行业对芯片运算性能、运行可靠性、指令实时响应能力的准入标准不断抬升。自动驾驶SoC高度集成C...
医疗设备(如 MRI、CT、ECG、EEG、植入式器械)对信号精度和安全性要求达到***。任何微小的测量误差都可能影响诊断结果。心电图(ECG)信号幅度在 mV 级,脑电图(EEG)在 μV 级。国磊...
国磊打造“自研设备+定制测试方案+自建测试工厂”三位一体服务模式,可为中小芯片设计企业、封测厂商提供轻量化测试代工、方案调试、批量量产一站式服务。无需客户投入高额设备采购成本,即可享受量产...
现代手机SoC普遍集成ADC、DAC、PLL、LDO等各类模拟模块,承担传感器融合、音频处理、电源管理等主要功能,是端侧AI感知与稳定运行的重要基础。对此,国磊GT600SoC测试机配备高...
随着HBM技术快速迭代升级,AI芯片架构与测试需求持续更新,芯片企业亟需灵活度高、扩展性强的开放式测试平台,以快速适配设计变更、跟进测试标准升级。国磊GT600搭载自研开放式GTFY软件系...
全球标准化解决路径1.测试策略重构:三级分层测试闭环(行业通用标准)前置KGD晶圆级测试筛选良品芯粒;封装中段完成中介层、键合、层间互联完整性测试;封测终段开展全功能、SI/PI、热应力、...
后摩尔时代,封测为王——中国半导体的突围之路摩尔定律逼近物理极限,3nm/2nm制程成本飙升、良率下滑,“唯制程论”时代终结。后摩尔时代,先进封装(Chiplet/)成为提升芯片性能的重点...
PXIe模块化测试平台,是全球半导体、封测、SoC、功率器件测试的主流通用硬件底座。区别于爱德万、泰克的封闭式测试机,NI主打模块化、可自定义、软件定义仪器,主要用于Chiplet多Die...
随着人工智能、高性能计算、5G通信、车载电子等新兴产业高速发展,集成电路芯片制程持续向3nm、2nm先进工艺迈进,Chiplet异构集成技术加速普及,作为芯片品质把控、量产落地主要环节的ATE...
CAF测试成为必不可少的验证环节。具备CAF测试能力的企业,在向汽车客户展示产品质量时更有说服力,能够提供更完整的技术文档和验证报告。这种能力也成为企业参与汽车项目竞标时的重要资质,帮助企业在...
伴随HBM技术高速迭代、产品架构持续更新,芯片企业对测试平台的灵活性、开放性与可拓展性提出更高要求。传统封闭测试系统固化程度高、定制能力弱,难以快速适配芯片设计迭代与测试场景升级,拖慢产品研发...
立足行业现存痛点与产业国产化发展需求,杭州国磊半导体设备有限公司专注深耕高精ATE测试领域,持续打磨自研技术,推出GT600SoC测试机,致力补齐国产高精测试设备短板,为行业提供可靠的国产...
PXIe模块化测试平台主要优势,模块化灵活适配,适配异构集成测试:可按需搭配数字、模拟、电源、高速、射频板卡,完美匹配Chiplet多Die、SiP混合信号、异构集成的复杂测试需求,解决传...
医疗设备(如 MRI、CT、ECG、EEG、植入式器械)对信号精度和安全性要求达到***。任何微小的测量误差都可能影响诊断结果。心电图(ECG)信号幅度在 mV 级,脑电图(EEG)在 μV 级。国磊...
在NI测试板卡交期紧张、成本高企与国产化需求驱动下,替代方案已形成国产主力、进口补充、开源降本、定制适配的完整体系,覆盖PXIe/PCIe/USB等主流接口,性能对标NI且优势各异。国内测...
当前,PXIe测试板卡正向小型化、微型化快速迭代,该设计趋势深度贴合半导体测试、工业智能检测、便携式测试设备等领域的市场刚需,适配了电子设备轻量化、集成化、便携化的行业发展节奏。其主要设计...
受瞬时推理、训练峰值负载影响,AI芯片电流常在微秒区间急剧变化,极易诱发电源电压塌陷故障。国磊GT600SoC测试设备搭载高采样动态电流监测模块,可精细捕捉电源门控导通瞬间的冲击电流以及芯...
依托测试数据闭环,可有效推动量子芯片协同迭代优化。杭州国磊GT600支持STDF、CSV等主流数据格式导出,集成数据分析与图形化展示能力。设备产生的测试数据可对接量子芯片设计仿真平台,搭建...
依托测试数据闭环,可有效推动量子芯片协同迭代优化。杭州国磊GT600支持STDF、CSV等主流数据格式导出,集成数据分析与图形化展示能力。设备产生的测试数据可对接量子芯片设计仿真平台,搭建...
伴随HBM技术高速迭代、产品架构持续更新,芯片企业对测试平台的灵活性、开放性与可拓展性提出更高要求。传统封闭测试系统固化程度高、定制能力弱,难以快速适配芯片设计迭代与测试场景升级,拖慢产品研发...
PXIe主要优势,高速高带宽,基于PCIeGen3/4总线,背板带宽大,高速采集、射频、大数据传输无瓶颈。模块化灵活扩展,机箱插槽自由搭配示波器、源表、DAQ、开关、射频卡,按需组合,一机...
PXIe主要优势,高速高带宽,基于PCIeGen3/4总线,背板带宽大,高速采集、射频、大数据传输无瓶颈。模块化灵活扩展,机箱插槽自由搭配示波器、源表、DAQ、开关、射频卡,按需组合,一机...
依托测试数据闭环,可有效推动量子芯片协同迭代优化。杭州国磊GT600支持STDF、CSV等主流数据格式导出,集成数据分析与图形化展示能力。设备产生的测试数据可对接量子芯片设计仿真平台,搭建...
受瞬时推理、训练峰值负载影响,AI芯片电流常在微秒区间急剧变化,极易诱发电源电压塌陷故障。国磊GT600SoC测试设备搭载高采样动态电流监测模块,可精细捕捉电源门控导通瞬间的冲击电流以及芯...
天玑9000系列搭载高性能CPU集群与专属NPU,可支撑多模态AI推理与端侧大模型运行,芯片内部信号架构更为复杂,测试难度远高于传统手机SoC。针对这类**AISoC的严苛测试标准,国磊G...