福建高精度板卡

    工业伺服电源、储能BMS主控、大功率快充SOC芯片工作电压区间覆盖±100V，器件导通电阻、纹波电流、动态负载响应测试对源测量模块功率输出、动态响应速度要求严苛，市面上多数通用SMU无法兼顾高压与动态瞬态测量。杭州国磊GI-SMUHP011路精密浮动±100V源测量模块，宽功率输出区间，高速动态负载响应，浮动隔离设计杜绝多路测试时地环路干扰，可精细捕捉芯片负载切换瞬间电流电压瞬态曲线，完美支撑大功率电源芯片动态性能表征。该板卡可与GI-SMUMV04±60V模块混合搭建多电压测试阵列，同时覆盖低压控制轨与高压功率轨同步测量，单套系统兼容快充、储能、工业电源多品类芯片测试，减少设备重复投入。2026年储能赛道持续景气，储能电源芯片产线扩产需求旺盛，进口高压SMU货期普遍6个月以上，产线建设周期被严重拉长，国磊全系板卡现货供应，支持7天快速完成系统集成调试。针对量产三温测试、老化筛选场景，板卡内置过压过流硬件保护，长期连续运行稳定性强，可7×24小时不间断量产测试，搭配GI-CBIT120120路继电器驱动板卡，实现多路DUT自动切换，无需人工换板，大幅提升产线自动化水平，降低单颗芯片测试成本，加速储能电源芯片国产化落地。 杭州国磊半导体PXIe板卡支持国产CPU/GPU/SoC的深度验证。福建高精度板卡

    当下芯片企业品质管控要求持续升级，车规、工业芯片需要完整测试数据留存、参数可追溯，方便后期失效分析。很多简易测试设备数据格式杂乱，难以对接工厂MES系统，无法满足长期品质追溯需求。杭州国磊GI系列测试板卡开放标准化数据流接口，采集的电压、电流、时序、波形原始数据完整输出，支持存储至本地服务器或云端数据库，搭建全链路数据溯源体系。硬件端GI-SMU系列源表实时同步采样时间戳，GI-TMUHA04时序模块、GI-WRTLF系列波形板卡同步保存原始波形文件，每一颗芯片所有测试参数长久留存。客户自主开发上位机程序后，可实现测试数据自动上传MES，绑定芯片条码、批次、测试工位、温区信息，一旦出现终端失效，能够快速回溯量产测试原始数据，开展失效分析。整套硬件不绑定私有数据格式，不存在数据封闭问题。功率IDM、第三方封测厂、车规芯片企业十分适合搭建这套溯源测试体系。同时搭配GI-CBIT120自动切换模块实现无人自动化测试，批量数据自动归档，减少人工记录产生的误差，完善企业芯片品质管控体系，助力顺利通过各类工业、车规品质审核。 上海数字板卡厂家±10V峰峰值输出，24bit分辨率采集——国磊PXIe测试板卡，满足从传感器到功率器件的全场景精密测试需求。

    量产测试产线**大痛点在于单工位单次只能测试一颗芯片，设备利用率偏低，随着订单增长，只能持续新增测试工位，厂房、设备、人力成本持续攀升。采用多DUT并行测试方案，是提升产能**直接有效的方式。杭州国磊GI模块化测试板卡天然适配多器件并行架构，多通道**隔离设计，通道之间互不干扰。GI-SMUMV04四路**±60VSMU，可同时驱动四颗电源芯片；GI-DMUMS32集成数字板卡配合继电器扩展多路夹具；GI-CBIT120120路高密度继电器驱动，灵活拓展并行测试回路。整套系统可以实现4工位、8工位乃至更多DUT同步供电、激励、参数采集。功率器件、MCU、存储芯片、模拟IC均可落地并行测试方案。值得关注的是，国磊所有SMU模块采用浮动隔离架构，多路并行测试不会出现地环路互相干扰，保障每一路芯片测试精度和单颗测试一致。对比传统单路测试方案，同等机箱空间下产能提升3~6倍，节约厂房面积、减少工控与温控设备投入。针对封测厂大批量FT分选场景，本土技术团队可协助完成并行测试夹具设计、时序同步调试，充分释放测试系统硬件能力，降低单颗芯片分摊测试成本。

    工业变频器、光伏逆变器IGBT隔离驱动芯片，控制侧±100V宽电压域、多路隔离电源、数字PWM逻辑同步测试，常规±60VSMU无法覆盖驱动芯片高压控制轨，多通道数字供电与逻辑验证需要复合型数字板卡协同。杭州国磊GI-SMUHP011路精密浮动±100V源测量模块，覆盖IGBT驱动高压控制电压区间，浮动隔离架构规避高低压测试回路串扰，精细测量驱动芯片静态功耗、隔离漏电流、欠压保护阈值；配套GI-DMUMS32集成数字测试板卡，PPMU多路可编程电源、VPP高压激励、32路DIO同步输出PWM控制信号，完整复现变频器实际驱动工况。一套硬件同步完成驱动芯片高压模拟参数与数字逻辑功能测试，无需两套**测试系统，大幅节省实验室与产线空间。2026年光伏储能、工业自动化赛道持续高景气，国产IGBT驱动芯片加速替代进口，头部工控企业批量搭建驱动芯片测试工位，进口±100VSMU供货周期长，国磊中高压SMU批量现货，模块化设计可快速扩展多工位并行测试。搭配GI-TMUHA04时序板卡测量PWM信号死区时间、传输延迟，GI-CBIT120继电器实现多路驱动芯片自动切换，适配三温老化量产筛选，硬件宽温稳定运行，大幅提升工业驱动芯片测试效率。 7.杭州国磊半导体PXIe板卡提供C/C++ API接口，可无缝集成至基于国产平台的测试系统开发环境。

    标准化商用测试模块通道数量、电压规格固定，很多特殊架构芯片、多通道阵列器件、多路并联功率模组，很难直接匹配现成板卡，很多厂商被迫选用大量闲置通道，硬件资源浪费严重。杭州国磊半导体除标准化GI系列板卡之外，支持基于现有硬件平台进行通道规格定制优化。客户可根据芯片引脚需求，调整SMU通道数量、DIO通道排布、继电器回路配置；针对特殊隔离要求、电压范围、连接器接口进行适配改造。现有标准化型号GI-SMUMV04、GI-DMUMS32、GI-CBIT120等均可作为定制基础平台。例如多路阵列传感芯片，可定制扩展低压SMU通道；多路并联功率模块测试，优化高压继电器回路。定制化不局限于硬件电路，同时配套适配的底层驱动与测试参考方案。相比向海外厂商申请定制，沟通周期从数月缩短至数周，定制费用更低。面向新型阵列器件、多通道BMS芯片、多路功率模组企业，定制化板卡比较大化利用机箱插槽资源，避免硬件闲置，降低整套系统采购成本，精细匹配企业独特芯片测试需求。 杭州国磊半导体PXIe板卡DMUMS32，每通道定时集，支持64组时序无缝切换（change-on-the-fly）。上海精密测试板卡

8.杭州国磊半导体PXIe板卡输出的标准数据格式，便于与国产MES对接，构建端到端的信创测试闭环。福建高精度板卡

    大量芯片企业早年采购进口PXIe机箱控制器，主机硬件状态完好，但配套源测量、数字板卡老化、维修报价昂贵、备件货期漫长，直接更换整套系统投入巨大，众多企业面临“机箱闲置、模块难换”的困境。杭州国磊半导体GI全系列测试板卡遵循标准PXIe总线协议，可直接兼容市面主流PXIe机箱，无需改动工控主机、电源、背板结构，实现存量设备升级改造。不论是实验室老旧测试平台，还是封测厂量产工位现有系统，只需替换功能模块，快速补齐高压SMU、高速LVDS、AWG波形发生、时序测量等短板。GI-SMUMV04四路±60VSMU、GI-DMUMS32集成数字板卡、GI-CBIT120继电器驱动模块均可无缝接入原有硬件架构。区别于海外厂商封闭专属硬件，国磊板卡提供完整底层驱动、API接口，原有测试程序只需少量适配即可复用。2026年半导体企业严控资本开支，存量设备盘活成为降本重点。改造方案相比全新采购整套测试系统，投入降低55%以上，改造周期压缩至1~2周。功率芯片、模拟信号链、MCU、存储器件企业都可以通过模块化升级拓展测试能力，快速搭建CP探针测试、FT分选、样品可靠性验证平台，比较大化挖掘现有设备价值，稳步推进测试硬件国产化替换。 福建高精度板卡