电阻率测量仪使用注意事项:1. 仪器操作前需进行正确的设置和连接,遵循检测规范,以保证测量数据的准确性。2. 在使用时要注意避免探针发生短路,同时保持探针与待测物的接触良好,避免测量不准或者出现异常波...
晶圆缺陷检测光学系统的算法主要包括以下几种:1、基于形态学的算法:利用形态学运算对图像进行处理,如膨胀、腐蚀、开闭运算等,以提取出缺陷区域。2、基于阈值分割的算法:将图像灰度值转化为二值图像,通过设定...
位移传感器又称为线性传感器,是一种属于金属感应的线性器件,传感器的作用是把各种被测物理量转换为电量。在生产过程中,位移的测量一般分为测量实物尺寸和机械位移两种。按被测变量变换的形式不同,位移传感器可分...
晶圆缺陷检测光学系统的维护保养需要注意什么?1、清洁光学元件。光学元件表面如果有灰尘或污垢,会影响光学成像效果,因此需要定期清洁。清洁时应使用干净的棉布或专业清洁液,注意不要刮伤元件表面。2、保持设备...
薄膜应力分析仪的影响因素有哪些?1. 温度变化:温度是薄膜应力的一个很大的影响因素。在温度变化时,薄膜的内部结构会发生变化,从而会导致薄膜应力的改变。在测量时,需要将样品和仪器置于恒温环境中,以保持温...
晶圆缺陷检测光学系统在半导体生产中扮演着非常重要的角色,其作用如下:1、检测晶圆缺陷:晶圆缺陷检测光学系统通过利用光学成像技术,可以检测晶圆表面的缺陷和污染物。这些缺陷包括磨损、划痕、光栅缺陷和雾点等...