薄膜应力分析仪是一种非常有用的测试仪器，具有高准确性、高灵敏度、高重复性和多用途性等优点，可以帮助研究人员更好地了解薄膜材料的性质和行为，同时也可以帮助工程师进行原材料的筛选和产品的设计和制造。1. ...

如何正确使用薄膜应力分析仪？1. 准备样品：首先，需要准备好样品。样品应该比仪器夹具略大，以确保能够被夹紧。确保样品表面是平坦和干净的，没有灰尘、油脂等杂质。2. 安装样品：将样品轻轻放在夹具上，判断...

轮廓仪对所测样品的尺寸有何要求？答：轮廓仪对载物台xy行程为140*110mm（可扩展），Z向测量范围蕞大可达10mm，但由于白光干涉仪单次测量区域比较小（以10X镜头为例，在1mm左右），因而在测量...

涵盖面广的2D、3D形貌参数分析：表面三维轮廓仪可测量300余种2D、3D参数，无论加工的物件使用哪一种评定标准，都可以提供权面的检测结果作为评定依据，可轻松获取被测物件精确的线粗糙度、面粗糙度、轮廓...

薄膜应力分析仪是一种用于测量薄膜材料应力和形变的仪器。薄膜材料是指厚度小于1微米的材料。由于其特殊的物理和化学性质，薄膜材料已经成为现代材料科学和工程学领域的研究热点。在生产和制备过程中，薄膜材料的应...

HERCULES光刻轨道系统特征：生产平台以蕞小的占地面积结合了EVG精密对准和光刻胶处理系统的所有优势；多功能平台支持各种形状，尺寸，高度变形的模具晶片甚至托盘的全自动处理；高达52,000cP的涂...

TotalThicknessVariation(TTV)应用规格:测量方式:红外干涉(非接触式)样本尺寸:50、75、100、200、300mm，也可以订做客户需要的产品尺寸测量厚度:15—780μm...

薄膜应力分析仪是一种用于测量薄膜材料应力和形变的仪器。薄膜材料是指厚度小于1微米的材料。由于其特殊的物理和化学性质，薄膜材料已经成为现代材料科学和工程学领域的研究热点。在生产和制备过程中，薄膜材料的应...

LFSLFS传感器在三个轴上测量水平和垂直加速度，直到频率约为0.2Hz。该传感器直接放置在地板上，并与标准AVI/LP系统结合使用在前馈环路中，以提高非常低频率的振动隔离。LFS可以改装为现有的AV...

薄膜应力分析仪是一种非破坏性测试技术。测试过程无需对被测试物质进行破坏性改变，因此有很大的优势。它能够保持样品完整性，在后续实验中可以继续使用，同时也避免了物质浪费。薄膜应力分析仪使用激光干涉仪技术，...

LFS控制单元上的每个D-Sub15插座都有4个对应于AVI元件的开关输出，这些AVI元件以任意4个矩形方向（即平行或直角）放置，不允许其他方向。面向LFS传感器的蓝色LED直立。将弟一个AVI元件连...

TS-150TS-150结合了久经考验的技术特点和优雅且用户友好的设计TS150的隔离频率始于0.7Hz，超过10Hz时迅速增加至40db缺少低频谐振意味着比大多数常见的被动空气阻尼方法要好得多TS系...