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CCD金属表面缺点视觉检测系统还可以用在高精度外形尺寸检测，尤其在一些动态检测镀镍（锌）零件（圆片或圆环）的尺寸应用中，解决了用户大批量生产该种零件做人工质量检测时速度慢、精度不统一、劳动量大的问题。对于有图纹和不同色彩图案的产品的检测，该系统可以有效的控制产品生产过程中的废品率，提高产品的精品率，比如硬币、纪念币的质量检测以及彩色币的颜色检测等，CCD金属表面缺点视觉检测系统适合用于检测具有金属光泽表面的产品表面质量，对于需要上下两个表面都进行检测的产品，可以采取两种方案：一是在同一检测位置同时检测上下两个表面；一是通过机械翻转机构将产品反面，在另外一个工位再进行检测。可以根据实际情况来选择合适的检测方案。

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CCD数粒机，就是这一两年新的数粒技术。即简称是视觉电粒机。中文译为：电子耦合组件（chargedcoupleddevice），它就像传统相机的底片一样，是感应光线的电路装置，你可以将它想象成一颗颗微小的感应粒子，铺满在光学镜头后方，当光线与图像从镜头透过、投射到CCD表面时，CCD就会产生电流，将感应到的内容转换成数码资料储存起来。简单的说就是通过图像区域标记方法来计数。据我们了解到客户上海有一家公司，在去年的此时此刻有发布过类似的文章。但作为我们同行来看，实则在数粒的上方加多一个工业的相机，实现视觉的检测的作用，即为当数粒有问题时，该相机检测后有问题，通过补差装置进行补粒在达到目标的数粒速度。而非我们真正的意义上理解的完全通过视觉的方式来进行数粒的

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使用数粒机，需要先对种子进行清选，去除种子中的杂质，因为当种子中掺有杂质时，也会在光导管中形成投影而计数，影响数粒结果。还有一个需要注意的地方就是控制或者调节好数种盘的轨道宽度，因为正确的数粒要求种子排成一行，一次落下，落下一粒即产生一个投影，计数为1。如果轨道过于宽大，种子以两粒或者三粒的方式同时落下，则它们由于下落高度相同，种子质量也相差无几，无法区分出他们的下落时间差，结果就是在光导管上只产生了一个投影，错误记数为1粒种子，这时候误差就会产生，所以为了避免这种误差，应实现调节好数粒机的轨道宽度。

CCD是ChargeCoupledDevice(电荷耦合器件)的缩写，它是一种半导体成像器件，因而具有灵敏度高、抗强光、畸变小、体积小、寿命长、抗震动等优点。被摄物体的图像经过镜头聚焦至CCD芯片上，CCD根据光的强弱积累相应比例的电荷，各个像素积累的电荷在视频时序的控制下，逐点外移，经滤波、放大处理后，形成视频信号输出。视频信号连接到监视器或电视机的视频输入端便可以看到与原始图像相同的视频图像。评估摄像机分辨率的指标是水平分辨率，其单位为线对，即成像后可以分辨的黑白线对的数目。

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学习功能是本数粒机的特色的功能。能够从用户的角度出发，让设备能自动识别物料并设定好每种物料的识别关键参数，降低了新物料的参数设定难度。

想要应用此功能，事先准备好一定数量的新物料，按照物料大小，在几千到几万不等（建议不小于3000个），参与学习的物料越多，学习到的参数就会越准确。将待学习的物料放入料斗中，点击“开始学习”，等待物料全部通过扫描面后点击“停止学习”，系统会提示学习结果，整个学习过程结束。学习参数以新建的形式出现在项目列表中，名称默认为学习+时间，供用户参考和调用，为防止混淆，建议立即改为当前学习物料的名称或型号。

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电荷耦合器件(CCD,ChargeCoupledDevice)是一种以电荷包的形式存储和传递信息的半导体器件，它是由美国贝尔实验室的W.S.Boyle和G.E.Smith在1970年前后发明的。它经历了以研究为主的发展阶段，在五年左右的时间内，建立了以一维空阱模型为基础的CCD基本理论，这个理论与实验结果大致相符，并满足了指导器件进一步发展的需要。与此同时，依靠成熟的MOS集成电路工艺，CCD迅速从实验室走向了市场。CCD在影像传感、信号处理和数字存储等三大领域中的广泛应用，充分显示出它的巨大潜力，在微电子学技术中独树一帜。CCD已被普遍认为是七十年代以来出现的**重要的半导体器件之一。和同样功能的电真空器件相比，

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