金华CAF测试系统研发

    高通道密度（512~2048数字通道）——适配复杂AISoC引脚规模，现代AI芯片引脚数常超2000（如集成HBM堆栈、多核NPU、多电源域），传统测试设备通道不足。支持**多2048个数字通道，可一次性完成全引脚并行测试，避免分时复用导致的测试盲区。满足寒武纪、壁仞、华为昇腾等国产AI芯片的高集成度测试需求，助力其快速进入数据中心与边缘计算市场。超大向量深度（**高128M/通道）——实现真实AI负载场景回放，AI推理/训练涉及复杂算法流（如Transformer、CNN），需长时间、高覆盖率的功能验证。128M向量存储深度支持完整运行真实AI工作负载测试向量，捕获边界条件下的功能异常或功耗峰值。不仅验证逻辑功能，更能模拟实际应用场景，提升芯片可靠性，加速客户产品上市周期。 国磊GT600可以通过唤醒延迟测试即测量从低功耗模式到激发状态的响应时间，适用于可穿戴、IoT芯片。金华CAF测试系统研发

手机SoC的“全能考官” 现代手机SoC（如麒麟、澎湃）是高度集成的“微型超级计算机”，融合CPU、GPU、NPU、ISP、基带等数十个模块。杭州国磊GT600凭借512通道与16个通用插槽，可灵活配置数字、模拟、混合信号测试资源，实现“一机通测”。其高速数字通道验证CPU/GPU逻辑功能；可选AWG板卡生成图像信号，测试ISP的色彩还原与降噪能力；TMU精确测量基带信号时序，保障5G通信稳定。PPMU则检测NPU待机功耗，确保AI功能“强劲且省电”。128M向量深度支持长周期AI算法验证，避免测试中断。杭州国磊GT600以“全功能、高精度、高效率”的测试能力，为国产手机SoC从研发到量产保驾护航，让中国芯在**手机市场更具竞争力。珠海GEN3测试系统批发强大的数据分析功能，助您快速定位问题。

支持复杂测试向量导入，加速算法验证闭环 智能驾驶芯片的**价值在于其内置的AI推理引擎能否准确执行感知与决策算法。杭州国磊GT600支持从其他测试平台导入测试程序与向量，并兼容STDF、CSV、Excel等多种数据格式，便于将仿真环境中的算法测试用例直接转化为ATE（自动测试设备）可执行的测试向量。例如，可在GT600上加载真实道路场景下的图像识别或目标检测激励序列，验证NPU在极限负载下的响应正确性与时延表现，从而构建“算法—芯片—测试”一体化验证闭环。

低温CMOS芯片的常温预筛与参数表征。许多用于量子计算的控制芯片需在毫开尔文温度下工作，但其制造仍基于标准CMOS工艺。在封装并送入稀释制冷机前，必须通过常温下的严格电性测试进行预筛选。国磊（Guolei）GT600支持每引脚PPMU（参数测量单元）和可编程浮动电源（-2.5V~7V），能精确测量微弱电流、漏电及阈值电压漂移等关键参数，有效剔除早期失效器件，避免昂贵的低温测试资源浪费。量子测控SoC的量产验证平台 随着量子计算机向百比特以上规模演进，集成化“量子测控SoC”成为趋势（如Intel的Horse Ridge芯片）。这类芯片集成了多通道微波信号调制、频率合成、反馈控制等功能，结构复杂度接近**AI或通信SoC。GT600的512~2048通道并行测试能力、128M向量深度及400MHz测试速率，完全可满足此类**SoC在工程验证与小批量量产阶段的功能覆盖与性能分bin需求。国磊GT600支持20/24bit高分辨率AWG与Digitizer板卡，可用于高精度ADC/DAC的INL、DNL、SNR、THD等参数测试。

传统测试设备面向通用CPU/GPU设计，难以应对AI芯片特有的稀疏计算、张量**、片上互联等新架构。GT600针对此类需求优化了测试向量调度机制与并行激励生成能力，支持对非规则数据流、动态稀疏***、混合精度运算的专项验证。其灵活的时钟域管理还可模拟多频异构系统的工作状态。这种“为AI而生”的设计理念，使GT600不仅兼容现有芯片，更能前瞻性支持下一代AI硬件创新。在杭州打造“中国算力之城”的进程中，GT600正推动测试从“功能检查”向“场景仿真”演进，**国产测试技术范式升级。具备多类报警功能，包括低阻、温湿度异常等，保障测试安全。国产CAF测试系统行价

国磊GT600的128M向量存储深度可记录长时间功耗波形，用于分析AI推理、传感器唤醒等突发任务的能耗曲线。金华CAF测试系统研发

HBM的集成不****是带宽提升，更带来了复杂的混合信号测试挑战。SoC与HBM之间的信号完整性、电源噪声、时序对齐（Skew）等问题，直接影响芯片性能与稳定性。国磊GT600测试机凭借其模块化设计，支持AWG、TMU、SMU、Digitizer等高精度模拟板卡，实现“数字+模拟”一体化测试。例如，通过GT-TMUHA04（10ps分辨率）精确测量HBM接口时序偏差，利用GT-AWGLP02（-122dBTHD）生成纯净激励信号，**验证高速SerDes性能。GT600将复杂问题系统化解决，为HBM集成芯片提供从DC参数到高频信号的**测试保障，确保每一颗芯片都经得起AI时代的严苛考验。金华CAF测试系统研发