在全球半导体测试设备长期被美日巨头垄断的背景下,杭州国磊推出的GT600 SoC测试机标志着中国在**数字测试领域实现关键突破。该设备支持高达400 MHz的测试速率和**多2048个数字通道,足以覆盖当前主流AI芯片、高性能计算SoC及车规级芯片的验证需求。其模块化架构不仅提升了测试灵活性,还***降低了客户部署成本。更重要的是,GT600实现了从硬件到软件的全栈自主可控,有效规避了“卡脖子”风险。在中美科技竞争加剧、国产芯片加速落地的大环境下,GT600不仅是一台测试设备,更是保障中国半导体产业链安全的战略支点,为国内设计公司提供了可信赖、高效率、低成本的本土化验证平台。国磊GT600SoC测试机广适用于AI、移动、物联网、汽车、工业等领域的SoC研发与量产验证。南通CAF测试系统研发

数据中心芯片的“能效裁判” 在“双碳”目标下,数据中心能耗成为焦点,芯片能效比(Performance per Watt)成为**指标。杭州国磊GT600通过PPMU精确测量AI加速芯片、服务器CPU的静态与动态功耗,结合FVMI(强制电压测电流)模式,绘制完整的功耗-性能曲线,帮助设计团队优化电压频率调节(DVFS)策略。其FIMV模式还可检测芯片在高负载下的电压跌落,防止因供电不稳导致死机。杭州国磊GT600支持长时间稳定性测试,模拟数据中心7x24小时运行场景,筛选出“耐力型”芯片。512站点并行测试大幅降低单颗芯片测试时间与成本,适配万片级量产需求。杭州国磊GT600不仅是性能的验证者,更是能效的“精算师”,助力国产芯片在绿色计算时代赢得市场。GEN测试系统供应商国磊GT600SoC测试机400MHz测试速率可覆盖HBM2e/HBM3接口逻辑层的高速功能验证。

低温CMOS芯片的常温预筛与参数表征。许多用于量子计算的控制芯片需在毫开尔文温度下工作,但其制造仍基于标准CMOS工艺。在封装并送入稀释制冷机前,必须通过常温下的严格电性测试进行预筛选。国磊(Guolei)GT600支持每引脚PPMU(参数测量单元)和可编程浮动电源(-2.5V~7V),能精确测量微弱电流、漏电及阈值电压漂移等关键参数,有效剔除早期失效器件,避免昂贵的低温测试资源浪费。量子测控SoC的量产验证平台 随着量子计算机向百比特以上规模演进,集成化“量子测控SoC”成为趋势(如Intel的Horse Ridge芯片)。这类芯片集成了多通道微波信号调制、频率合成、反馈控制等功能,结构复杂度接近**AI或通信SoC。GT600的512~2048通道并行测试能力、128M向量深度及400MHz测试速率,完全可满足此类**SoC在工程验证与小批量量产阶段的功能覆盖与性能分bin需求。
传统测试设备面向通用CPU/GPU设计,难以应对AI芯片特有的稀疏计算、张量**、片上互联等新架构。GT600针对此类需求优化了测试向量调度机制与并行激励生成能力,支持对非规则数据流、动态稀疏***、混合精度运算的专项验证。其灵活的时钟域管理还可模拟多频异构系统的工作状态。这种“为AI而生”的设计理念,使GT600不仅兼容现有芯片,更能前瞻性支持下一代AI硬件创新。在杭州打造“中国算力之城”的进程中,GT600正推动测试从“功能检查”向“场景仿真”演进,**国产测试技术范式升级。国磊GT600通过可扩展的硬件架构、高精度模拟测量能力和开放软件平台,为各高jiSoC提供定制测试方案。

现代手机SoC普遍集成ADC、DAC、PLL、LDO等模拟模块,用于传感器融合、音频处理和电源管理。GT600支持GT-AWGLP02(THD-122dB)和高分辨率Digitizer板卡,可用于AI驱动的语音识别、图像信号处理链路的动态性能测试。其20/24bit分辨率支持INL、DNL、SNR等关键指标的精确测量,确保端侧AI感知系统的信号完整性。国磊GT600测试机的16插槽模块化架构允许数字、AWG、TMU、SMU板卡混插,实现从CPU到NPU再到模拟前端的一站式测试,避免多设备切换带来的效率损失与数据割裂。
高精度电压输出与测量,确保测试结果的准确性。常州CAF测试系统按需定制
国磊GT600数字通道边沿精度100ps,确保模拟IC控制信号(如Enable、Reset)的建立与保持时间精确验证。南通CAF测试系统研发
AI大模型芯片的“算力守门人” 在AI大模型驱动算力**的***,国产AI芯片(如寒武纪、壁仞)正加速替代英伟达GPU。然而,这些芯片内部集成了数千个AI**与高速互联总线,其功能复杂度与功耗控制要求极高。杭州国磊GT600 SoC测试机凭借400MHz测试速率与128M向量深度,可完整运行复杂的AI推理算法测试向量,验证NPU在真实负载下的计算精度与吞吐能力。其高精度PPMU能精确测量芯片在待机、轻载、满载等多场景下的动态电流,确保“每瓦特算力”达标。同时,杭州国磊GT600支持512站点并行测试,大幅提升量产效率,降低单颗芯片测试成本,为AI芯片大规模部署数据中心提供坚实支撑。可以说,杭州国磊GT600不仅是AI芯片的“质检员”,更是其从实验室走向万卡集群的“量产加速器”。南通CAF测试系统研发