国产CAF测试系统哪家好

AI大模型芯片的“算力守门人” 在AI大模型驱动算力**的***，国产AI芯片（如寒武纪、壁仞）正加速替代英伟达GPU。然而，这些芯片内部集成了数千个AI**与高速互联总线，其功能复杂度与功耗控制要求极高。杭州国磊GT600 SoC测试机凭借400MHz测试速率与128M向量深度，可完整运行复杂的AI推理算法测试向量，验证NPU在真实负载下的计算精度与吞吐能力。其高精度PPMU能精确测量芯片在待机、轻载、满载等多场景下的动态电流，确保“每瓦特算力”达标。同时，杭州国磊GT600支持512站点并行测试，大幅提升量产效率，降低单颗芯片测试成本，为AI芯片大规模部署数据中心提供坚实支撑。可以说，杭州国磊GT600不仅是AI芯片的“质检员”，更是其从实验室走向万卡集群的“量产加速器”。强大的数据分析功能，助您快速定位问题。国产CAF测试系统哪家好

    对国产车而言，其自研车规级MCU（微控制器）与功率半导体是智能汽车“大脑”与“肌肉”的**，必须通过AEC-Q100、AEC-Q101等汽车行业**严苛的可靠性认证，确保在-40℃~150℃极端温度、高湿、强振动、长期高负载等恶劣环境下仍能稳定运行十年以上。国磊GT600SoC测试机正是这一“车规级体检”的关键设备。其每通道PPMU（精密参数测量单元）可精细测量nA级静态漏电流（Iddq），识别芯片内部微小缺陷或工艺波动导致的“潜伏性失效”，从源头剔除“体质虚弱”的芯片；同时支持引脚级开路/短路测试，确保封装无瑕疵。更关键的是，国磊GT600可选配浮动SMU电源板卡，能灵活模拟车载12V/24V供电系统，验证MCU在电压波动、负载突变等真实工况下的电源管理能力，防止“掉电重启”或“逻辑错乱”。此外，国磊GT600支持高温老化测试（Burn-in）接口，可配合温控系统进行早期失效筛选，大幅提升车载芯片的长期可靠性。在汽车“缺芯”与“安全至上”的双重背景下，国磊GT600可以为国产车构建从研发到量产的高可靠测试闭环，守护每一程出行安全。 高阻测试系统供应商若测得电流明显高于设计规格，即判定为漏电异常。结合高温测试，国磊GT600可放大漏电效应提升缺陷检出率。

杭州国磊GT600提供高达128M的向量存储深度，相当于可存储1.28亿个测试步骤，这是保障复杂芯片测试完整性的关键。现代SoC的测试程序极为庞大，如AI芯片运行ResNet-50模型推理、手机SoC执行多任务调度、通信芯片处理完整5G协议栈，这些测试序列动辄数百万甚至上千万向量。若向量深度不足，测试机需频繁从硬盘加载数据，导致测试中断、效率骤降。杭州国磊GT600的128M深度可将整个测试程序一次性载入内存，实现“全速连续运行”，避免性能瓶颈。在工程调试阶段，长向量也便于复现偶发性失效。对于需要长时间稳定性测试的车规芯片，128M空间可容纳老化测试的完整循环序列。这一参数确保杭州国磊GT600能应对未来更复杂的芯片验证需求。

杭州国磊GT600提供512个数字通道，并可扩展至2048通道，配合16个通用插槽，构建了高度灵活的硬件架构。在测试一颗引脚数超500的手机SoC时，512通道可完全覆盖其I/O需求，无需复用或分时测试，确保信号同步性。16个插槽支持自由组合数字板卡、模拟板卡（AWG/TMU）、电源板卡（DPS/SMU），实现“数字+模拟+混合信号”一体化测试。例如，测试智能座舱芯片时，部分插槽配置为高速数字通道测试CPU逻辑，另一部分接入AWG生成音频信号测试DAC，再通过TMU测量显示接口时序。这种模块化设计让GT600能像“变形金刚”一样适配不同芯片需求，从低引脚MCU到高集成SoC，一机通测，大幅降低企业设备采购与维护成本。国磊设备，帮助您提升产品品质与可靠性。

支持复杂测试向量导入，加速算法验证闭环 智能驾驶芯片的**价值在于其内置的AI推理引擎能否准确执行感知与决策算法。杭州国磊GT600支持从其他测试平台导入测试程序与向量，并兼容STDF、CSV、Excel等多种数据格式，便于将仿真环境中的算法测试用例直接转化为ATE（自动测试设备）可执行的测试向量。例如，可在GT600上加载真实道路场景下的图像识别或目标检测激励序列，验证NPU在极限负载下的响应正确性与时延表现，从而构建“算法—芯片—测试”一体化验证闭环。强大的软件系统，提供实时数据采集和深度分析功能。国产CAF测试系统哪家好

国磊GT600SoC测试机ALPG功能可生成地址/数据模式，用于HBM存储控制器的功能验证。国产CAF测试系统哪家好

AI眼镜的崛起标志着消费电子向“感知+计算+交互”一体化演进。其**SoC是典型的高度集成、低功耗、混合信号器件，测试难度远超传统MCU。国磊GT600测试机凭借nA级电流测量、高精度模拟测试、10ps时序分析、高并行架构与开放软件平台，成为AI眼镜SoC从研发验证到量产落地的关键支撑。它不**满足当前40/28nm节点的测试需求，更具备向更先进工艺延伸的能力。在AI终端加速渗透的浪潮中，GT600为国产可穿戴芯片提供可靠、高效、自主可控的测试解决方案，助力中国智造抢占下一代人机交互入口。国产CAF测试系统哪家好