绝缘电阻劣化评估系统

    GT600SoC测试机在测试高可靠性产品（如车规芯片、工业级MCU、航天电子、医疗设备芯片）时，展现出精度、***性、稳定性与可追溯性四大**优势，确保产品在极端环境下长期稳定运行。首先，高精度参数测量是可靠性的基石。GT600配备每通道PPMU（参数测量单元），可精确测量nA级静态漏电流（Iddq），识别因制造缺陷导致的微小漏电或潜在短路。这种“亚健康”芯片在常温下可能功能正常，但在高温或长期使用后极易失效。GT600通过精密筛查，提前剔除隐患，大幅提升产品早期失效率（InfantMortality）的控制能力。其次，支持***的可靠性测试项目。GT600可配合温控系统进行高温老化测试（Burn-in），在高温高压下运行芯片数百小时，加速暴露早期缺陷。其浮动SMU电源板卡能模拟车载12V/24V或工业设备的复杂电源环境，验证芯片在电压波动、负载突变下的稳定性。对于通信类高可靠产品，高精度TMU（10ps分辨率）可检测信号时序漂移，确保长期通信无误码。再次，高稳定性与长周期测试能力。GT600硬件设计冗余，散热优良，支持7x24小时连续运行，可执行长达数周的耐久性测试，模拟产品十年生命周期。128M向量深度确保长周期测试程序不中断，数据完整。***，数据可追溯性强。 界面友好，操作简便，极大降低使用门槛与培训成本。绝缘电阻劣化评估系统

“风华3号”作为全球**支持DICOM高精度灰阶医疗显示的GPU，对模拟输出精度、色彩一致性与时序稳定性要求极为严苛。国磊GT600测试机支持可选配GT-AWGLP02任意波形发生器（THD-122dB，SNR110dB）与高分辨率Digitizer板卡，可用于验证GPU模拟视频输出链路的信号完整性与动态性能。其20/24bit分辨率支持对ADC/DAC、PLL、LVDS接口等关键模块的INL、DNL、Jitter等参数进行精确测量，确保医疗显示场景下的灰阶过渡平滑与色彩还原准确。国磊GT600测试机的模块化16插槽架构支持数字、AWG、TMU、SMU板卡混插，实现从GPU**到显示输出的端到端测试闭环。广州绝缘电阻测试系统定制国磊GT600GT-TMUHA04时间测量单元支持0.1%读数精度±10ps，可用于传感器接口芯片的时序响应与延迟测量。

    2025年云栖大会以“云智一体·碳硅共生”为主题，强调AI与实体产业的深度融合。在这一图景中，SoC测试机如国磊GT600正扮演着“碳基世界与硅基智能”之间的关键桥梁角色。AI大模型、Agent与具身智能的落地，**终都依赖于高性能SoC芯片的支撑——无论是云端服务器的AI加速器，还是终端设备的智能处理器。然而，再先进的芯片设计，若无法通过高精度、高效率的测试，便无法实现量产与应用。国磊GT600等SoC测试机正是确保这些“智能硅基大脑”功能完整、性能达标、功耗可控的“***质检官”。“碳硅共生”意味着虚拟智能（碳基信息）与物理芯片（硅基载体）的协同进化。国磊GT600可以通过400MHz高速测试、PPMU精密参数测量、混合信号验证等能力，保障AI芯片在真实场景中稳定运行，推动大模型从云端走向终端。同时，其高同测能力与低功耗设计，也契合绿色计算与智能制造的可持续发展目标。可以说，没有可靠的SoC测试，AI的产业落地就如同无源之水。在云栖大会展现的智能未来背后，国磊GT600这样的SoC测试设备，正是让“云智”真正“共生”的底层基石。

“风华3号”兼容DirectX、OpenGL、Vulkan等主流图形生态，其图形管线包含顶点处理、光栅化、着色器执行等复杂阶段，测试需覆盖多种渲染模式与状态转换。国磊GT600测试机支持C++编程与VisualStudio开发环境，便于实现定制化图形功能测试算法，如Shader指令序列验证、Z-Buffer精度测试、纹理映射完整性检查等。其128M向量响应存储深度可捕获长周期图形输出行为，支持对帧率稳定性、画面撕裂等异常进行回溯分析。国磊GT600测试机还支持STDF、CSV等标准数据格式输出，便于良率追踪与测试数据与EDA仿真结果的对比验证。国磊GT600在电源门控测试中，通过其高精度测量能力与灵活测试架构，适配成熟到先进节点的工艺制程。

AI眼镜SoC普遍采用40nm以下工艺，集成高精度ADC、DAC、PLL、LDO等模拟模块，用于麦克风阵列信号采集、骨传导音频输出与电源稳压。国磊GT600测试机支持可选配GT-AWGLP02任意波形发生器（THD-122dB，SNR110dB）与20/24bit分辨率Digitizer，可用于语音前端信号链的INL、DNL、THD、SNR等参数测试，确保AI语音识别输入的准确性。其高精度浮动SMU板卡支持宽电压范围输出，可用于LDO负载调整率、PSRR及上电时序验证，保障音频与传感模块的电源稳定性。GT600的模块化16插槽架构支持数字、模拟、混合信号板卡混插，实现从NPU到传感器接口的一站式测试，避免多设备切换带来的数据割裂。国磊GT600SoC测试机DPS板卡支持动态Force输出，可用于HBM电源上电时序（PowerSequencing）验证。国磊CAF测试系统现货直发

当电源门控开关未完全关断时被关闭模块仍会产生异常漏电。国磊GT600通过PPMU测量被门控电源域的静态电流。绝缘电阻劣化评估系统

低功耗SoC在先进工艺下表现出更复杂的漏电行为、更敏感的电源完整性需求、更精细的时序窗口，以及混合信号模块（如PLL、ADC、LDO）的高精度验证要求。传统测试设备往往难以满足这些需求，尤其是在静态电流（IDDQ）、电压裕量测试、动态功耗曲线、唤醒延迟、电源序列控制等关键参数的测量上。此时，国磊GT600测试机的价值凸显。GT600支持每通道PPMU（ParametricPinMonitorUnit），可实现nA级静态电流测量，**捕捉先进工艺下SoC的漏电异常，确保低功耗模式（Sleep/DeepSleep）的有效性。其可选配的高精度浮动SMU板卡支持-2.5V~7V宽电压范围与1A驱动能力，可用于DVFS电压切换测试与电源域上电时序验证。绝缘电阻劣化评估系统